|
1991
|
|
|
|
-
Основана компания TESCAN s.r.o.
|
|
1992
|
|
|
|
-
Создан процессор цифрового изображения “Satellite” для оцифровки аналоговых сканирующих электронных микроскопов
|
|
1996
|
|
|
|
-
Представлен первый компактный, полностью управляемый от ПК СЭМ –
TESCAN PROXIMA.
|
|
1999
|
|
|
|
-
Представлена серия VEGA с возможностью удаленного контроля.
|
|
2000
|
|
|
|
-
Серия VEGA дополнена возможностью работы в переменном вакууме.
|
|
2001
|
|
|
|
-
Модель TESCAN VEGA TS 5130 MM получает золотую медаль на 43-й Международной Технической Выставке в г. Брно, Чехия.
|
|
2002
|
|
|
|
-
Серия VEGA дополнена моделями с камерами больших размеров.
|
|
2003
|
|
|
|
-
Запатентован детектор вторичных электронов в низком вакууме - LVSTD.
|
|
2004
|
|
|
|
- Представлено новое поколение СЭМ – VEGA II с электронно-оптической системой Wide Field Optics™;
-
Получены сертификаты качества ISO 14001, ISO 9001.
|
|
2005
|
|
|
|
-
Начато производство новой серии MIRA – микроскопов с полевой эмиссией и технологией In-Flight Beam Tracing.
|
|
2006
|
|
|
|
-
Реализована возможность 3D измерений на СЭМ VEGA.
|
|
2007
|
|
|
|
- Представлена новая модель микроскопов – серия LYRA I – СЭМ с интегрированной ионной колонной (FIB-SEM);
-
Представлен детектор In-Beam для серии микроскопов MIRA II FE-SEM;
-
Все модели микроскопов марки TESCAN получили возможность живого стереоскопического изображения.
|
|
2008
|
|
|
|
- Представлена модель микроскопа LYRA I FEG с катодом с полевой эмиссией;
-
Запущена в производство модель микроскопа с интегрированной системой энергодисперсионного микроанализа – TESCAN VEGA EasyProbe.
|
|
2009
|
|
|
|
- Анонсировано новое поколение микроскопов – MIRA3 и VEGA3;
-
Представлена специализированная модель микроскопа InduSEM;
-
Завершено строительство нового производственного корпуса.
|
|
2010
|
|
|
|
- Представлены сканирующие электронные микроскопы третьего поколения;
-
Компания TESCAN, s.r.o. преобразована в Акционерное общество TESCAN, a.s.;
-
Приобретена компания TESCAN USA (США).
|
|
2011
|
|
|
|
- Представлена модель микроскопа FERA3 с плазменной ионной колонной;
-
Представлено специальное решение на базе СЭМ TIMA (автоматизированная система минералогического анализа);
-
Смонтирован у заказчика 1000-ый сканирующий электронный микроскоп.
|
|
2012
|
|
|
|
-
Учредитель компании TESCAN Ярослав Клима назван лучшим Технологическим предпринимателем 2011 года в Чешской Республике.
|
|
2013
|
|
|
|
- Слияние компаний TESCAN и ORSAY PHYSICS с образованием TESCAN ORSAY HOLDING, a.s.;
-
Открыто новое производственное и административное здание;
-
Учрежден новый филиал компании – TESCAN-UK, Ltd;
-
Представлена модель микроскопа MAIA3 с иммерсионной оптикой.
|
|
2014
|
|
|
|
- Представлена модель микроскопа GAIA3;
-
Представлено специальное решение на базе СЭМ – RISE (объединение сканирующей электронной и рамановской микроскопии в одном приборе);
-
Приобретена компания AppFive.
|
|
2015
|
|
|
|
- Учрежден новый филиал компании – TESCAN do Brasil;
-
Представлен новый сканирующий электронный микроскоп XEIA3;
-
Представлен новый прибор Q-PHASE - уникальный мультимодальный голографический микроскоп.
|
|
2016
|
|
|
|
-
Обновление модельного ряда микроскопов с иммерсионной оптикой (XEIA, MAIA, GAIA) электронной колонной TriglavTM.
|
2017
|
|
|
|
- Представлены новые модели микроскопов 4-го поколения TESCAN S8000G Ga FIB-SEM и TESCAN S8000 SEM оснащенные технологией BrightBeam™ позволяющей получать сверхвысокое разрешение без использования иммерсионной оптики;
-
Представлена новая ионная колонна Orage™ Ga FIB.
|
|
2018
|
|
|
|
- Приобретена бельгийская компания XRE, специализировавшаяся на рентгеновской компьютерной томографии, с учреждением компании TESCAN XRE;
-
Анонсированы модели компьютерных рентгеновских микро-томографов TESCAN UniTOM, TESCAN CoreTOM, TESCAN DynaTOM;
- Запуск в производство микроскопов серии S9000: TESCAN S9000 FEG-SEM, TESCAN 9000G Ga FIB-SEM, и TESCAN S9000X Xe plasma FIB-SEM, основанных на технологии Triglav™ UHR SEM Запуск в производство микроскопа TESCAN 8000X Xe plasma FIB.
|
|
2019
|
|
|
|
- Представлены новые СЭМ и FIB-SEM на базе платформы 4-го поколения серии S8000 оснащенные технологией BrightBeam™: AMBER Ga FIB-SEM, AMBER X Xe plasma FIB-SEM, AMBER Cryo;
-
Представлены новые СЭМ и FIB-SEM на базе платформы 4-го поколения серии S9000: SOLARIS Ga FIB-SEM, SOLARIS X Xe plasma FIB-SEM Представлены новые СЭМ ультравысокого разрешения, модели: CLARA FEG-SEM, CLARA Cryo, MAGNA.
|
|
2020
|
|
|
|
|
