Высокотехнологичное
аналитическое
оборудование
+ 7 812 322 58 99
Пн.-Пт. 10:00 – 18:00 (МСК)
Главная
О компании
История TESCAN
TESCAN в России и СНГ
Новости
Вакансии
Лицензии и сертификаты
Оборудование
Сканирующие электронные микроскопы
TESCAN VEGA Compact
TESCAN VEGA
TESCAN MIRA
TESCAN CLARA
TESCAN MAGNA
TESCAN TIMA
Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
TESCAN AMBER
TESCAN AMBER X
TESCAN SOLARIS
TESCAN SOLARIS X
Рентгеновские томографы
TESCAN CoreTOM
TESCAN DynaTOM
Детекторы и аксессуары TESCAN
Детекторы SE
Детекторы BSE
Детекторы In-Beam
Детекторы STEM
Детекторы CL
Детектор SITD
Аксессуары
Аналитические системы
EDS
WDS
AFM
Сопутствующее оборудование
Напылительные установки
Ионная полировка
Сушка в критической точке
Микромеханическая обработка
Системы измерения и подавления ЭМ полей
Рентгеновские дифрактометры
DX-2700
DX-27mini
Анализатор остаточных напряжений DS-21P
Спектрометр XAFS2300
Прочие детекторы и аксессуары
Столики Deben MICROTEST
Столик с нагревом GATAN Murano™
Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
Расходные материалы
Электропроводящие ленты, диски, пасты
Столики и держатели для крепления образцов
Контейнеры для хранения образцов
Материалы для обслуживания микроскопов
Сетки для TEM
Иглы для наноманипуляторов
Материалы для напыления
Материалы для изготовления реплик
Расходные материалы
Применение
Академия ТЕСКАН
Что такое СЭМ?
Детекторы и аксессуары
Внутрикамерные детекторы
Внутрилинзовые детекторы
FIB-SEM: области и возможности применения
Обзор методов пробоподготовки
Список литературы
Статьи
Галерея изображений
Видеоматериалы
Новости
Календарь
Контакты
Меню
Главная
О компании
История TESCAN
TESCAN в России и СНГ
Новости
Вакансии
Лицензии и сертификаты
Оборудование
Сканирующие электронные микроскопы
TESCAN VEGA Compact
TESCAN VEGA
TESCAN MIRA
TESCAN CLARA
TESCAN MAGNA
TESCAN TIMA
Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
TESCAN AMBER
TESCAN AMBER X
TESCAN SOLARIS
TESCAN SOLARIS X
Рентгеновские томографы
TESCAN CoreTOM
TESCAN DynaTOM
Детекторы и аксессуары TESCAN
Детекторы SE
Детекторы BSE
Детекторы In-Beam
Детекторы STEM
Детекторы CL
Детектор SITD
Аксессуары
Аналитические системы
EDS
WDS
AFM
Сопутствующее оборудование
Напылительные установки
Ионная полировка
Сушка в критической точке
Микромеханическая обработка
Системы измерения и подавления ЭМ полей
Рентгеновские дифрактометры
DX-2700
DX-27mini
Анализатор остаточных напряжений DS-21P
Спектрометр XAFS2300
Прочие детекторы и аксессуары
Столики Deben MICROTEST
Столик с нагревом GATAN Murano™
Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
Расходные материалы
Электропроводящие ленты, диски, пасты
Столики и держатели для крепления образцов
Контейнеры для хранения образцов
Материалы для обслуживания микроскопов
Сетки для TEM
Иглы для наноманипуляторов
Материалы для напыления
Материалы для изготовления реплик
Расходные материалы
Применение
Академия ТЕСКАН
Что такое СЭМ?
Детекторы и аксессуары
Внутрикамерные детекторы
Внутрилинзовые детекторы
FIB-SEM: области и возможности применения
Обзор методов пробоподготовки
Список литературы
Статьи
Галерея изображений
Видеоматериалы
Новости
Календарь
Контакты
Найти
Заказать звонок
+7 (812) 322 58 99
Главная
О компании
Назад
О компании
История TESCAN
TESCAN в России и СНГ
Новости
Вакансии
Лицензии и сертификаты
Оборудование
Назад
Оборудование
Сканирующие электронные микроскопы
Назад
Сканирующие электронные микроскопы
TESCAN VEGA Compact
TESCAN VEGA
TESCAN MIRA
TESCAN CLARA
TESCAN MAGNA
TESCAN TIMA
Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
Назад
Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
TESCAN AMBER
TESCAN AMBER X
TESCAN SOLARIS
TESCAN SOLARIS X
Рентгеновские томографы
Назад
Рентгеновские томографы
TESCAN CoreTOM
TESCAN DynaTOM
Детекторы и аксессуары TESCAN
Назад
Детекторы и аксессуары TESCAN
Детекторы SE
Детекторы BSE
Детекторы In-Beam
Детекторы STEM
Детекторы CL
Детектор SITD
Аксессуары
Аналитические системы
Назад
Аналитические системы
EDS
WDS
AFM
Сопутствующее оборудование
Назад
Сопутствующее оборудование
Напылительные установки
Ионная полировка
Сушка в критической точке
Микромеханическая обработка
Системы измерения и подавления ЭМ полей
Рентгеновские дифрактометры
Назад
Рентгеновские дифрактометры
DX-2700
DX-27mini
Анализатор остаточных напряжений DS-21P
Спектрометр XAFS2300
Прочие детекторы и аксессуары
Назад
Прочие детекторы и аксессуары
Столики Deben MICROTEST
Столик с нагревом GATAN Murano™
Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
Расходные материалы
Назад
Расходные материалы
Электропроводящие ленты, диски, пасты
Столики и держатели для крепления образцов
Контейнеры для хранения образцов
Материалы для обслуживания микроскопов
Сетки для TEM
Иглы для наноманипуляторов
Материалы для напыления
Материалы для изготовления реплик
Расходные материалы
Применение
Назад
Применение
Академия ТЕСКАН
Назад
Академия ТЕСКАН
Что такое СЭМ?
Детекторы и аксессуары
Внутрикамерные детекторы
Внутрилинзовые детекторы
FIB-SEM: области и возможности применения
Обзор методов пробоподготовки
Список литературы
Статьи
Галерея изображений
Видеоматериалы
Новости
Календарь
Контакты
+7 (812) 322 58 99
г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
info@tescan.ru
Вконтакте
YouTube
Главная
Оборудование
Расходные материалы
Электропроводящие ленты, диски, пасты
Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 20 мм
Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 20 мм
Цена:
По запросу
Артикул:
16073-2
Запросить коммерческое предложение
Цена указана с НДС 20%, без учета доставки.
Поделиться
Назад к списку
Найти