Высокотехнологичное
аналитическое 
оборудование
+ 7 812 322 58 99
Пн.-Пт. 10:00 – 18:00 (МСК)
Главная
О компании
  • История TESCAN
  • TESCAN в России и СНГ
  • Новости
  • Вакансии
  • Лицензии и сертификаты
Оборудование
  • Сканирующие электронные микроскопы
    Сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN VEGA Compact
    • TESCAN VEGA
    • TESCAN MIRA
    • TESCAN CLARA
    • TESCAN MAGNA
    • TESCAN TIMA
  • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN AMBER
    • TESCAN AMBER X
    • TESCAN SOLARIS
    • TESCAN SOLARIS X
  • Рентгеновские томографы
    Рентгеновские томографы
    • TESCAN CoreTOM
    • TESCAN DynaTOM
  • Детекторы и аксессуары TESCAN
    Детекторы и аксессуары TESCAN
    • Детекторы SE
    • Детекторы BSE
    • Детекторы In-Beam
    • Детекторы STEM
    • Детекторы CL
    • Детектор SITD
    • Аксессуары
  • Аналитические системы
    Аналитические системы
    • EDS
    • EBSD
    • WDS
    • TOF-SIMS
    • AFM
  • Сопутствующее оборудование
    Сопутствующее оборудование
    • Напылительные установки
    • Ионная полировка
    • Сушка в критической точке
    • Микромеханическая обработка
    • Системы измерения и подавления ЭМ полей
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
    • DX-2700
    • DX-27mini
  • Прочие детекторы и аксессуары
    Прочие детекторы и аксессуары
    • Столики Deben MICROTEST
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
  • Расходные материалы
    Расходные материалы
    • Электропроводящие ленты, диски, пасты
    • Столики и держатели для крепления образцов
    • Контейнеры для хранения образцов
    • Материалы для обслуживания микроскопов
    • Сетки для TEM
    • Иглы для наноманипуляторов
    • Материалы для напыления
    • Материалы для изготовления реплик
Расходные материалы
Применение
  • Академия ТЕСКАН
    • Что такое СЭМ?
    • Детекторы и аксессуары
    • Внутрикамерные детекторы
    • Внутрилинзовые детекторы
    • FIB-SEM: области и возможности применения
    • Обзор методов пробоподготовки
    • Список литературы
  • Статьи
  • Галерея изображений
  • Видеоматериалы
Новости
Календарь
Контакты
    TESCAN
    Меню  
    • Главная
    • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • EDS
        • EBSD
        • WDS
        • TOF-SIMS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    Заказать звонок
    +7 (812) 322 58 99
    TESCAN
    • Главная
    • О компании
      • Назад
      • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Назад
      • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • Назад
        • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Назад
        • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • Назад
        • Аналитические системы
        • EDS
        • EBSD
        • WDS
        • TOF-SIMS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Назад
        • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • Назад
        • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Назад
        • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Назад
        • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Назад
      • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Назад
        • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    • +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    • Вконтакте
    • YouTube
    • Главная
    • Оборудование
    • Аналитические системы
    • WDS
    • INCA Wave
    • INCA Wave

    INCA Wave

    • Описание
    • Характеристики
    Описание

    INCA Wave

    Волнодисперсионный рентгеновский спектрометр (ВДС), специально сконструированный для точного количественного анализа при установке на СЭМ.

    Ключевые преимущества ВДС:

    • Микроанализ приблизительно в десять раз более чувствительный по сравнению с ЭДС
    • Анализ элементов-примесей (<0.1 - <0.01%)
    • Спектральное разрешение от 2эВ (Si Kα) – на порядок лучше ЭДС
    • Разделение близко расположенных пиков
    • Точная идентификация пиков
    • Наилучшая чувствительность для анализа легких элементов
    • Рентгеновское картирование с наилучшим отношением пик/фон

    INCA Energy+

    Программа для интеграции волнодисперсионной и энергодисперсионной систем микроанализа (для использования с системой  INCA Wave WDS). Входит в комплект при единовременной поставке двух спектрометров. Позволяет произвольно выбирать тип спектрометра для каждого элемента как при количественном анализе, так и при картировании.

    Многие растровые микроскопы допускают одновременную установку ЭД и ВД спектрометров: (1) оба детектора направлены в одну точку; (2) обеспечиваются необходимые величины рабочего расстояния и угла отбора

    ЭДС: за несколько секунд можно получить полный спектр образца и определить его качественный и количественный химический состав 

    ВДС: обеспечивает более точный результат, но это относительно медленный последовательный метод анализа

    Совместное использование двух спектрометров существенно повышает производительность анализа,  а программная среда на базе INCA гарантирует простоту и удобство управления

    EDS&WDS.jpeg

    Характеристики

    Полностью фокусированный спектрометр с радиусом окружности Роуланда 210 мм и диапазоном углов 2θ гониометра от 33 до 135 градусов.

    Наклонная геометрия для снижения эффекта расфокусирования при изменении рабочего растояния микроскопа до ±1 мм - не требуется оптический микроскоп для точной фокусировки спектрометра.

    INCA Wave 500. Четыре дифракционных кристалла в управляемой компьютером 6-ти позиционной моторизованной турели. Смена кристаллов в любой позиции. Обеспечивает анализ любых элементов от бора.

    Кристалл 2d, нм Диапазон энергий, кэВ Тип
    LiF 0,40267 10,84-3,33 Йохансона
    PET 0,8742 4,99-1,54 Йохансона
    TAP 2,575 1,70-0,52 Йохансона
    LSM80N 7,8 0,56-0,17 Йохана

    INCA Wave 700. Пять дифракционных кристалла в управляемой компьютером 6-ти позиционной моторизованной турели. Смена кристаллов в любой позиции. Обеспечивает анализ любых элементов от бериллия.

    Кристалл 2d, нм Диапазон энергий, кэВ Тип
    LiF 0,40267 10,84-3,33 Йохансона
    PET 0,8742 4,99-1,54 Йохансона
    TAP 2,575 1,70-0,52 Йохансона
    LSM60 6,0 0,73-0,22 Йохана
    LSM200 19,7 0,22-0,07 Йохана

    В турель можно вставить дополнительные кристаллы на выбор

    Воспроизводимость позиции по длине волны ± 0,000014 нм для кристалла LiF (200)

    Смонтированные тандемом проточный и запаянный газовые пропорциональные счетчики

    Контролируемый компьютером мотор для управления шириной приемной щели перед детекторами

    Контролируемый компьютером мотор для изменения позиции щели перед детекторами

    Моторизованный шлюз для отсечения камеры спектрометра от камеры микроскопа

    Характеристики некоторых кристаллов для волнового спектрометра

    Обозначение кристалла Тип кристалла Межплоскостное расстояние 2d, Å Аналитический диапазон по длинам волн, Å Аналитический диапазон по энергии, кэВ Диапазон элементов (К-линии)
    LIF(220) Фторид лития 2.8473 0.8087 - 2.6306 15.330 – 4.712 от V до Y
    LIF(200) Фторид лития 4.0267 1.1436 - 3.7202 10.841 – 3.332 от Ca до Ge
    PET Пентаэритринол 8.74 2.4827 - 8.0765 4.994 – 1.535 Si to Ti
    TAP Оксифталат таллия 25.75 7.3130 - 23.79 1.695 – 0.5212 от O до Si
    LSM-060 Синтетический многослойный материал с чередованием слоев кремния и вольфрама ~61 ~17 - ~56 ~0.729 - ~0.221 от C до F
    LSM-080 Синтетический многослойный материал с чередованием слоев никеля и углерода ~78 ~22 - ~72 ~0.564 - ~0.172 от B до O
    LSM-200 Синтетический многослойный материал с чередованием слоев молибдена и карбида бора B4C ~204 ~58 - ~190 ~0.214 - ~0.065 Be и B



    Поделиться
    Назад к списку
    Подписывайтесь на рассылку новостей:
    Оборудование
    Применение
    Новости
    Пользователи и партнеры
    Все статьи и заметки
    Материаловедение
    Микроэлектроника
    Геология и минералогия
    Науки о живом
    Записаться на демонстрационное исследование
    Сервисное обслуживание
    Лаборатория под ключ
    +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    © ООО «‎ТЕСКАН» 2023
    Разработка сайта  –