Высокотехнологичное
аналитическое 
оборудование
+ 7 812 322 58 99
Пн.-Пт. 10:00 – 18:00 (МСК)
Главная
О компании
  • История TESCAN
  • TESCAN в России и СНГ
  • Новости
  • Вакансии
  • Лицензии и сертификаты
Оборудование
  • Сканирующие электронные микроскопы
    Сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN VEGA Compact
    • TESCAN VEGA
    • TESCAN MIRA
    • TESCAN CLARA
    • TESCAN MAGNA
    • TESCAN TIMA
  • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN AMBER
    • TESCAN AMBER X
    • TESCAN SOLARIS
    • TESCAN SOLARIS X
  • Рентгеновские томографы
    Рентгеновские томографы
    • TESCAN CoreTOM
    • TESCAN DynaTOM
  • Детекторы и аксессуары TESCAN
    Детекторы и аксессуары TESCAN
    • Детекторы SE
    • Детекторы BSE
    • Детекторы In-Beam
    • Детекторы STEM
    • Детекторы CL
    • Детектор SITD
    • Аксессуары
  • Аналитические системы
    Аналитические системы
    • EDS
    • WDS
    • AFM
  • Сопутствующее оборудование
    Сопутствующее оборудование
    • Напылительные установки
    • Ионная полировка
    • Сушка в критической точке
    • Микромеханическая обработка
    • Системы измерения и подавления ЭМ полей
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
    • DX-2700
    • DX-27mini
    • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
    • Спектрометр XAFS2300
  • Прочие детекторы и аксессуары
    Прочие детекторы и аксессуары
    • Столики Deben MICROTEST
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
  • Расходные материалы
    Расходные материалы
    • Электропроводящие ленты, диски, пасты
    • Столики и держатели для крепления образцов
    • Контейнеры для хранения образцов
    • Материалы для обслуживания микроскопов
    • Сетки для TEM
    • Иглы для наноманипуляторов
    • Материалы для напыления
    • Материалы для изготовления реплик
Расходные материалы
Применение
  • Академия ТЕСКАН
    • Что такое СЭМ?
    • Детекторы и аксессуары
    • Внутрикамерные детекторы
    • Внутрилинзовые детекторы
    • FIB-SEM: области и возможности применения
    • Обзор методов пробоподготовки
    • Список литературы
  • Статьи
  • Галерея изображений
  • Видеоматериалы
Новости
Календарь
Контакты
    TESCAN
    Меню  
    • Главная
    • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    Заказать звонок
    +7 (812) 322 58 99
    TESCAN
    • Главная
    • О компании
      • Назад
      • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Назад
      • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • Назад
        • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Назад
        • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • Назад
        • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Назад
        • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • Назад
        • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Назад
        • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Назад
        • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Назад
      • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Назад
        • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    • +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    • Вконтакте
    • YouTube
    • Главная
    • Оборудование
    • Аналитические системы
    • EDS
    • Ultim MAX
    • Ultim MAX

    Ultim MAX

    • Описание
    • Характеристики
    • ПО
    • Фото
    • Документы
    Описание

    SDD детекторы Ultim MAX с активной площадью кристаллов, на выбор – 40, 65, 100, 170 мм2

    SDD детекторы нового поколения, благодаря беспрецедентному быстродействию обеспечивает возможность наблюдать распределение элементов в образце в реальном времени – в процессе его движения и просмотра при выборе участка для более детальных исследований. При достаточной величине тока зонда рентгеновские карты накапливаются и обновляются практически с такой же скоростью, как и изображения во вторичных и отраженных электронах.

    Возможна установка дополнительных интегрированных систем микроанализа - волнодисперсионного спектрометра Inca Wave и/или систем анализа дифракции отраженных электронов (ДОЭ) Aztec HKL - одновременно с ЭДС или позже. Кроме того, некоторые модели микроскопов допускают установку более одного - до четырех - однотипных детекторов Ultim Max, что позволяет существенно увеличить чувствительность и быстродействие системы микроанализа.

    EDS size.png

    Характеристики

    Базовая конфигурация  системы микроанализа AZtecLive Standard включает следующий набор оборудования и программного обеспечения:

    • Полупроводниковый детектор (ППД) рентгеновского излучения Ultim MAX с активной площадью кристаллов, на выбор – 40, 65, 100, 170 мм2 (поддерживается одновременно до 4-х детекторов) Анализ элементов в диапазоне от бериллия до калифорния, Система охлаждения - безазотная.
    • Цифровой процессор импульсов (*) и цифровая система захвата изображения X4. С процессором Х4 гарантируется, что в диапазоне скоростей счета от 1000 до 400 000 имп/с разрешение и позиция пиков могут изменяться не более чем на 1эВ. Получение надежных количественных результатов возможно при скоростях счета свыше 400 тыс. имп/сек.на один детектор. Обработка спектров и картирование элементов может выполняться при скорости счета свыше 1 500 000 имп/с. Интегрированная система захвата изображения позволяет получать цифровые электронные изображения и осуществлять управление электронным зондом.
    • Компьютер с OC Windows 10 64 бит и программа Aztec для анализа и интерпретации полученных данных. Один или более ЖК мониторов

    (*) С середины 90-х годов прошлого века Oxford Instruments использует только полностью цифровые процессоры импульсов, без аналоговой обработки. Преимущество таких процессоров - более воспроизводимые и точные результаты обработки спектров, т.к. с цифровым сигналом проще работать при устранении разнообразных артефактов, связанных, в том числе, и с высокими нагрузками на детектор при больших скоростях счета (пики суммирования 

    (**), В цифровых процессорах Oxford Instruments они полностью устраняются вплоть до третьего порядка, а потери – компенсируются). Х4 – это новый тип полностью цифрового процессора. Он работает быстрее и обеспечивает получение спектров, свободных от ложных пиков (пиков суммирования) и других артефактов, влияющих на конечный результат.  

    (**)  -  пики суммирования – это нежелательные артефакты спектра, возникающие, когда в систему счета ЭДС детектора приходят одновременно два или более рентгеновских фотона. Они регистрируются на суммарной энергии, в результате чего в спектре появляются пики, не связанные в присутствием какого-либо элемента в образце (например, для  чистого SiO2, помимо пиков кремния и кислорода могут появиться ложные пики на суммарной энергии линий Si+Si, Si+O, O+O,  Si+Si+O, Si+O+(O+Si) и т.п..) Такие пики могут быть ложно идентифицированы как пики другого элемента, что приведет к неправильным выводам о составе образца. Вероятность их появления тем выше, чем выше скорость счета. Для точного качественного и количественного анализа состава их требуется не только удалить из спектра, но также необходимо вернуть потерянные на их образование импульсы в исходные пики. 

    ПО

    Программное обеспечение AztecLive

    Программное обеспечение AztecLive построено на основе Навигаторов, которые проводят оператора через последовательность необходимых шагов наиболее быстрым и логичным путем, и в то же время сохраняют гибкость, позволяющую действовать по своему желанию. Каждый шаг Навигатора предоставляет отдельный экран, содержащий все необходимые инструменты анализа.

    Хотя стандартное программное обеспечение и включает все базовые функции для работы с ЭДС - оно не включает ряд продвинутых функций микроанализа, таких как обработка карт и профилей TruMap, автоматичекий анализ и т.д. (см. таблицу):


    AZtecLive Energy Lite

    AZtecLive Energy Standard

    AZtecLive Energy Advanced

    AZtecLive Energy Automated

    AZtecLive
    (рентгеновские карты и спектры в реальном времени)

    +
    + + +

    Анализатор

    + + + +

    Point & ID

    + + + +

    Профиль

    +
    + + +

    Карта

    +
    + + +

    Оптимизация (включая Менеджер стандартизации)

    опция
    + + +

    AutoLayer - автоматическое  цветное отображение вариаций состава на картах

    опция
    + + +

    AutoPhase - автоматическое отображение фаз на карте

    опция
    опция
    + +

    TruMap (для карт и профилей) – автоматическое разделение перекрывающихся пиков спектра и вычитание фона для правильного отображения вариацих хим. состава.

    опция
    опция
    + +

    AutoLock (коррекция дрейфа) с предиктивным алгоритмом 

    опция
    опция
    + +

    QuantMap, QuantLine - количественная карта и количественный профиль по линии

    опция
    опция + +

    AztecLAM - картирование большой площади (с автоматическим перемещением столика с образцом)

    опция
    опция
    опция
    +

    MapQueue - очередь автоматического картирования

    опция
    опция
    опция
    +

    Регистрация изображений для навигации (можно ввести изображение образца, например, с оптического микроскопа – и использовать это изображения для навигации по образцу)

    опция
    + + +

    AZtec Feature Analysis - программа автоматического поиска и классификации включений, включая автоматическое управление столиком микроскопа

    опция
    опция
    опция
    +

    AZtec Steel программа автоматического поиска и классификации неметаллических включений в сталях

    опция
    опция
    опция
    опция

    AZtec GSR - программа автоматического анализа продуктов выстрела, для криминалистики

    опция
    опция
    опция
    опция

    LayerProbe - анализ тонких многослойных покрытий

    опция
    опция
    опция
    опция

    Aztec Synergy - интеграция ЭДС и EBSD 

    опция
    опция
    опция
    опция
    Фото
    • Ultim MAX
    • Ultim MAX
    • Ultim MAX
    Документы
    Aztec Automated для поиска золота. Заметка по применению
    650.4 Кб

    Поделиться
    Назад к списку
    Подписывайтесь на рассылку новостей:
    Оборудование
    Применение
    Новости
    Пользователи и партнеры
    Все статьи и заметки
    Материаловедение
    Микроэлектроника
    Геология и минералогия
    Науки о живом
    Записаться на демонстрационное исследование
    Сервисное обслуживание
    Лаборатория под ключ
    +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    © ООО «‎ТЕСКАН» 2025
    Разработка сайта  –