Высокотехнологичное
аналитическое 
оборудование
+ 7 812 322 58 99
Пн.-Пт. 10:00 – 18:00 (МСК)
Главная
О компании
  • История TESCAN
  • TESCAN в России и СНГ
  • Новости
  • Вакансии
  • Лицензии и сертификаты
Оборудование
  • Сканирующие электронные микроскопы
    Сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN VEGA Compact
    • TESCAN VEGA
    • TESCAN MIRA
    • TESCAN CLARA
    • TESCAN MAGNA
    • TESCAN TIMA
  • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN AMBER
    • TESCAN AMBER X
    • TESCAN SOLARIS
    • TESCAN SOLARIS X
  • Рентгеновские томографы
    Рентгеновские томографы
    • TESCAN CoreTOM
    • TESCAN DynaTOM
  • Детекторы и аксессуары TESCAN
    Детекторы и аксессуары TESCAN
    • Детекторы SE
    • Детекторы BSE
    • Детекторы In-Beam
    • Детекторы STEM
    • Детекторы CL
    • Детектор SITD
    • Аксессуары
  • Аналитические системы
    Аналитические системы
    • EDS
      • Essence EDS
      • Ultim Extreme
      • Ultim MAX
    • WDS
      • INCA Wave
    • AFM
      • AFM BRISK
      • Nenovision LiteScope
  • Сопутствующее оборудование
    Сопутствующее оборудование
    • Напылительные установки
      • Q150R plus
      • Q150T Plus
    • Ионная полировка
      • SEMPrep2
      • UniMill
    • Сушка в критической точке
      • Quorum Technologies K850
    • Микромеханическая обработка
      • MICROSAW MS3
      • MICROPOL MC3
      • MICROHEAT MH3
    • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • SC22
      • SC24
      • SC26
      • SC11/Basic/USB
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
    • DX-2700
    • DX-27mini
    • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
    • Спектрометр XAFS2300
  • Прочие детекторы и аксессуары
    Прочие детекторы и аксессуары
    • Столики Deben MICROTEST
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
  • Расходные материалы
    Расходные материалы
    • Электропроводящие ленты, диски, пасты
      • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 8 мм
      • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 12 мм
      • Двухсторонняя электропроводящая медная лента, 12.7 мм × 16.4 м
      • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 20 мм
      • Двусторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 12 мм, 100 шт./уп.
      • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски повышенной чистоты диаметром 12 мм, 120 шт./уп.
      • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 25 мм, 54 шт./уп.
      • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 9 мм, 98 шт./уп.
      • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 6 мм, 112 шт./уп.
      • Углеродные проводящие листы, 50 мм × 120 мм, толщина 0.16 мм, 10 шт./уп.
    • Столики и держатели для крепления образцов
      • Алюминиевые (стандартные) столики, диаметром 12,7 мм. 100шт/упак
      • Алюминиевые (стандартные) столики, диаметром 25 мм, 100 шт./уп.
      • Семипозиционный держатель образцов для микроскопов TESCAN
      • Алюминиевый стенд на 40 столиков диаметром 12.7 мм
    • Контейнеры для хранения образцов
      • Контейнеры-колбочки для хранения стандартных столиков, 10 шт./уп.
      • Контейнер для хранения стандартных столиков на 18 позиций
      • Контейнер для хранения стандартных столиков на 14 позиций
      • Мембранный бокс для переноски образцов, 38 мм (ширина) х 38 мм (глубина) х 16 мм (высота), 12 шт./уп.
      • Контейнер для хранения стандартных столиков на 8 позиций
      • Контейнер для хранения стандартных столиков на 4 позиции
      • Антистатический бокс для хранения ламелей (на 100 позиций)
      • PELCO® контейнер для хранения 50 TEM сеточек
      • Контейнер для хранения 50 TEM сеточек
      • Контейнер для хранения 100 TEM сеточек
    • Материалы для обслуживания микроскопов
      • Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов JEOL (тип K)
      • Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов Cambridge/LEO/Zeiss и AEI
      • Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов TESCAN VEGA
    • Сетки для TEM
      • Медные полусетки Omniprobe с 4-мя выступами для закрепления ламелей 100 шт./уп.
      • Медные сетки, 50 mesh, 100 шт./уп.
      • Медные сетки, 75 mesh, 100 шт./уп.
      • Медные сетки, 100 mesh, 100 шт./уп.
      • Медные сетки, 200 mesh, 100 шт./уп.
      • Медные сетки, 300 mesh, 100 шт./уп.
      • Медные сетки, 400 mesh, 100 шт./уп.
      • Никелевые сетки, 50 mesh, 100 шт./уп.
      • Никелевые сетки, 75 mesh, 100 шт./уп.
      • Никелевые сетки, 100 mesh, 100 шт./уп.
      • Никелевые сетки, 200 mesh, 100 шт./уп.
      • Никелевые сетки, 300 mesh, 100 шт./уп.
      • Никелевые сетки, 400 mesh, 100 шт./уп.
      • Медные сетки, 75 mesh, формвар+углерод, 50 шт./уп.,
      • Медные сетки, 200 mesh, углеродное покрытие 15-25 нм, 25 шт./уп.
      • Медные сетки, 300 mesh, формвар/углеродное покрытие 15-25 нм, 25 шт/упак
      • Медные сетки, 400 mesh, формвар/углеродное покрытие 3 нм, 25 шт./уп.
      • Медные сетки с несимметричными метками на ободе и в центре, 600 mesh, 100 шт./уп.
      • Медные сетки, 200 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
      • Медные сетки, 300 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
      • Медные сетки, 300 mesh, Lacey углерод/формвар, 25 шт./уп.
      • Медные сетки, 400 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
    • Иглы для наноманипуляторов
      • Стандартные вольфрамовые иглы для наноманипуляторов OmniProbe AutoProbe 100 и 200
      • Узкие вольфрамовые иглы для наноманипуляторов OmniProbe Autoprobe 100 и 200
    • Материалы для напыления
      • Углеродная нить (шнур), диаметр 0.8 мм, лин. плотность 0.4 г/м 10 метров
      • Катушка углеродной нити, 100 м
      • Углеродная нить (шнур), диаметр 2.4 мм, лин. плотность 1.6 г/м 10 метров
      • Кристалл для измерителя толщины напыления, 1 шт.
    • Материалы для изготовления реплик
      • Тонкая репликационная лента из ацетата целлюлозы, толщина 22 мкм, 38 мм × 4.5 м
Расходные материалы
Применение
  • Академия ТЕСКАН
    • Что такое СЭМ?
    • Детекторы и аксессуары
    • Внутрикамерные детекторы
    • Внутрилинзовые детекторы
    • FIB-SEM: области и возможности применения
    • Обзор методов пробоподготовки
    • Список литературы
  • Статьи
  • Галерея изображений
  • Видеоматериалы
Новости
Календарь
Контакты
    TESCAN
    Меню  
    • Главная
    • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • EDS
          • Essence EDS
          • Ultim Extreme
          • Ultim MAX
        • WDS
          • INCA Wave
        • AFM
          • AFM BRISK
          • Nenovision LiteScope
      • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
          • Q150R plus
          • Q150T Plus
        • Ионная полировка
          • SEMPrep2
          • UniMill
        • Сушка в критической точке
          • Quorum Technologies K850
        • Микромеханическая обработка
          • MICROSAW MS3
          • MICROPOL MC3
          • MICROHEAT MH3
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
          • SC22
          • SC24
          • SC26
          • SC11/Basic/USB
      • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
          • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 8 мм
          • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 12 мм
          • Двухсторонняя электропроводящая медная лента, 12.7 мм × 16.4 м
          • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 20 мм
          • Двусторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 12 мм, 100 шт./уп.
          • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски повышенной чистоты диаметром 12 мм, 120 шт./уп.
          • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 25 мм, 54 шт./уп.
          • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 9 мм, 98 шт./уп.
          • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 6 мм, 112 шт./уп.
          • Углеродные проводящие листы, 50 мм × 120 мм, толщина 0.16 мм, 10 шт./уп.
        • Столики и держатели для крепления образцов
          • Алюминиевые (стандартные) столики, диаметром 12,7 мм. 100шт/упак
          • Алюминиевые (стандартные) столики, диаметром 25 мм, 100 шт./уп.
          • Семипозиционный держатель образцов для микроскопов TESCAN
          • Алюминиевый стенд на 40 столиков диаметром 12.7 мм
        • Контейнеры для хранения образцов
          • Контейнеры-колбочки для хранения стандартных столиков, 10 шт./уп.
          • Контейнер для хранения стандартных столиков на 18 позиций
          • Контейнер для хранения стандартных столиков на 14 позиций
          • Мембранный бокс для переноски образцов, 38 мм (ширина) х 38 мм (глубина) х 16 мм (высота), 12 шт./уп.
          • Контейнер для хранения стандартных столиков на 8 позиций
          • Контейнер для хранения стандартных столиков на 4 позиции
          • Антистатический бокс для хранения ламелей (на 100 позиций)
          • PELCO® контейнер для хранения 50 TEM сеточек
          • Контейнер для хранения 50 TEM сеточек
          • Контейнер для хранения 100 TEM сеточек
        • Материалы для обслуживания микроскопов
          • Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов JEOL (тип K)
          • Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов Cambridge/LEO/Zeiss и AEI
          • Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов TESCAN VEGA
        • Сетки для TEM
          • Медные полусетки Omniprobe с 4-мя выступами для закрепления ламелей 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 50 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 75 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 100 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 200 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 300 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 400 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 50 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 75 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 100 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 200 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 300 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 400 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 75 mesh, формвар+углерод, 50 шт./уп.,
          • Медные сетки, 200 mesh, углеродное покрытие 15-25 нм, 25 шт./уп.
          • Медные сетки, 300 mesh, формвар/углеродное покрытие 15-25 нм, 25 шт/упак
          • Медные сетки, 400 mesh, формвар/углеродное покрытие 3 нм, 25 шт./уп.
          • Медные сетки с несимметричными метками на ободе и в центре, 600 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 200 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
          • Медные сетки, 300 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
          • Медные сетки, 300 mesh, Lacey углерод/формвар, 25 шт./уп.
          • Медные сетки, 400 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
        • Иглы для наноманипуляторов
          • Стандартные вольфрамовые иглы для наноманипуляторов OmniProbe AutoProbe 100 и 200
          • Узкие вольфрамовые иглы для наноманипуляторов OmniProbe Autoprobe 100 и 200
        • Материалы для напыления
          • Углеродная нить (шнур), диаметр 0.8 мм, лин. плотность 0.4 г/м 10 метров
          • Катушка углеродной нити, 100 м
          • Углеродная нить (шнур), диаметр 2.4 мм, лин. плотность 1.6 г/м 10 метров
          • Кристалл для измерителя толщины напыления, 1 шт.
        • Материалы для изготовления реплик
          • Тонкая репликационная лента из ацетата целлюлозы, толщина 22 мкм, 38 мм × 4.5 м
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    Заказать звонок
    +7 (812) 322 58 99
    TESCAN
    • Главная
    • О компании
      • Назад
      • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Назад
      • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • Назад
        • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Назад
        • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • Назад
        • Аналитические системы
        • EDS
          • Назад
          • EDS
          • Essence EDS
          • Ultim Extreme
          • Ultim MAX
        • WDS
          • Назад
          • WDS
          • INCA Wave
        • AFM
          • Назад
          • AFM
          • AFM BRISK
          • Nenovision LiteScope
      • Сопутствующее оборудование
        • Назад
        • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
          • Назад
          • Напылительные установки
          • Q150R plus
          • Q150T Plus
        • Ионная полировка
          • Назад
          • Ионная полировка
          • SEMPrep2
          • UniMill
        • Сушка в критической точке
          • Назад
          • Сушка в критической точке
          • Quorum Technologies K850
        • Микромеханическая обработка
          • Назад
          • Микромеханическая обработка
          • MICROSAW MS3
          • MICROPOL MC3
          • MICROHEAT MH3
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
          • Назад
          • Системы измерения и подавления ЭМ полей
          • SC22
          • SC24
          • SC26
          • SC11/Basic/USB
      • Рентгеновские дифрактометры
        • Назад
        • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Назад
        • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Назад
        • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
          • Назад
          • Электропроводящие ленты, диски, пасты
          • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 8 мм
          • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 12 мм
          • Двухсторонняя электропроводящая медная лента, 12.7 мм × 16.4 м
          • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 20 мм
          • Двусторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 12 мм, 100 шт./уп.
          • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски повышенной чистоты диаметром 12 мм, 120 шт./уп.
          • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 25 мм, 54 шт./уп.
          • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 9 мм, 98 шт./уп.
          • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 6 мм, 112 шт./уп.
          • Углеродные проводящие листы, 50 мм × 120 мм, толщина 0.16 мм, 10 шт./уп.
        • Столики и держатели для крепления образцов
          • Назад
          • Столики и держатели для крепления образцов
          • Алюминиевые (стандартные) столики, диаметром 12,7 мм. 100шт/упак
          • Алюминиевые (стандартные) столики, диаметром 25 мм, 100 шт./уп.
          • Семипозиционный держатель образцов для микроскопов TESCAN
          • Алюминиевый стенд на 40 столиков диаметром 12.7 мм
        • Контейнеры для хранения образцов
          • Назад
          • Контейнеры для хранения образцов
          • Контейнеры-колбочки для хранения стандартных столиков, 10 шт./уп.
          • Контейнер для хранения стандартных столиков на 18 позиций
          • Контейнер для хранения стандартных столиков на 14 позиций
          • Мембранный бокс для переноски образцов, 38 мм (ширина) х 38 мм (глубина) х 16 мм (высота), 12 шт./уп.
          • Контейнер для хранения стандартных столиков на 8 позиций
          • Контейнер для хранения стандартных столиков на 4 позиции
          • Антистатический бокс для хранения ламелей (на 100 позиций)
          • PELCO® контейнер для хранения 50 TEM сеточек
          • Контейнер для хранения 50 TEM сеточек
          • Контейнер для хранения 100 TEM сеточек
        • Материалы для обслуживания микроскопов
          • Назад
          • Материалы для обслуживания микроскопов
          • Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов JEOL (тип K)
          • Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов Cambridge/LEO/Zeiss и AEI
          • Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов TESCAN VEGA
        • Сетки для TEM
          • Назад
          • Сетки для TEM
          • Медные полусетки Omniprobe с 4-мя выступами для закрепления ламелей 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 50 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 75 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 100 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 200 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 300 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 400 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 50 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 75 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 100 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 200 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 300 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 400 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 75 mesh, формвар+углерод, 50 шт./уп.,
          • Медные сетки, 200 mesh, углеродное покрытие 15-25 нм, 25 шт./уп.
          • Медные сетки, 300 mesh, формвар/углеродное покрытие 15-25 нм, 25 шт/упак
          • Медные сетки, 400 mesh, формвар/углеродное покрытие 3 нм, 25 шт./уп.
          • Медные сетки с несимметричными метками на ободе и в центре, 600 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 200 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
          • Медные сетки, 300 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
          • Медные сетки, 300 mesh, Lacey углерод/формвар, 25 шт./уп.
          • Медные сетки, 400 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
        • Иглы для наноманипуляторов
          • Назад
          • Иглы для наноманипуляторов
          • Стандартные вольфрамовые иглы для наноманипуляторов OmniProbe AutoProbe 100 и 200
          • Узкие вольфрамовые иглы для наноманипуляторов OmniProbe Autoprobe 100 и 200
        • Материалы для напыления
          • Назад
          • Материалы для напыления
          • Углеродная нить (шнур), диаметр 0.8 мм, лин. плотность 0.4 г/м 10 метров
          • Катушка углеродной нити, 100 м
          • Углеродная нить (шнур), диаметр 2.4 мм, лин. плотность 1.6 г/м 10 метров
          • Кристалл для измерителя толщины напыления, 1 шт.
        • Материалы для изготовления реплик
          • Назад
          • Материалы для изготовления реплик
          • Тонкая репликационная лента из ацетата целлюлозы, толщина 22 мкм, 38 мм × 4.5 м
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Назад
      • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Назад
        • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    • +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    • Вконтакте
    • YouTube
    • Главная
    • Оборудование
    • Сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN CLARA
    • TESCAN CLARA

    TESCAN CLARA

    • Описание
    • ПО
    • Фото
    Описание

    Неиммерсионный аналитический сканирующий электронный микроскоп c ультравысоким разрешением для исследовательских задач на наноуровне.

    TESCAN CLARA – сканирующий электронный микроскоп (СЭМ), позволяющий получать высококачественные изображения и проводить микроанализ, что является весьма актуальным в различных областях исследований и технологий. В СЭМ TESCAN CLARA используется технология TESCAN BrightBeam™, при которой объективная линза сочетает в себе магнитную и электростатическую линзы, что позволяет получать изображения с ультравысоким разрешением при низких ускоряющих напряжениях и при отсутствии вокруг образца магнитных полей, благодаря чему нет ограничений на свойства образца. Можно изучать все виды образцов, включая магнитные.

    TESCAN CLARA оснащен уникальной мультидетекторной системой внутри электронной колонны, что позволяет регистрировать электроны с селекцией по углу их вылета и по энергиям, что дает предельно много информации о топографии образца и композиционных отличиях. Мультидетектор, оснащённый сеткой с регулируемым потенциалом смещения, позволяет проводить фильтрацию между вторичными (SE) и обратно отражёнными (BSE) электронами по энергетическому признаку, что повышает материальный контраст, а также дает возможность быстро переключаться между этими сигналами. Второй приосевой детектор Axial, также встроенный в электронную колонну, предназначен для эффективного сбора SE-сигнала при активации потенциальной трубки внутри колонны, SE-сигнал регистрируется без потерь при любых энергиях приземления электронного пучка. Это делает получение SE-изображений с ультравысоким разрешением рутинной задачей даже при низких энергиях приземления пучка электронов.

    Кроме того, микроскоп TESCAN CLARA может быть оснащён двумя внутрикамерными детекторами: SE-детектором типа Эверхарта-Торнли в стандартной комплектации для топографического контраста с высоким уровнем сигнала и опциональным выдвижным детектором обратно отраженных электронов, чувствительным в том числе в области низких энергий первичного пучка. Последний собирает BSE-электроны, рассеянные на широкие углы, и обеспечивает высокий контраст даже при низких ускоряющих напряжениях. TESCAN CLARA также разработан для успешного решения аналитических задач благодаря технологиям In Flight Beam Tracing™ (технология контроля и оптимизации рабочих характеристик и параметров пучка в реальном времени) и Intermediate Lens™ (в качестве устройства смены апертур при регулировке тока пучка используется электромагнитная IML-линза). TESCAN CLARA может поддерживать высокое разрешение даже при больших токах пучка (до 400 нА), что полезно для ежедневных аналитических исследований. Микроскоп TESCAN CLARA – это по-настоящему универсальный инструмент, идеально подходящий для исследований наноматериалов, прецизионного контроля качества в высокотехнологичной промышленности, а также для исследований и разработок.

    Модели микроскопов TESCAN CLARA называются CLARA LMH, CLARA LMU, CLARA GMH, CLARA GMU в зависимости от размера камеры и наличия режима низкого вакуума (подробнее во вкладке «Характеристики»).

    Ключевые преимущества

    • Уникальная система детектирования In-Beam BSE позволяет фильтровать вторичные сигналы как по энергиям, так и по углу разлёта
    • Неиммерсионная электронная оптика для исследований материалов при низких энергиях пучка электронов и с ярким топографическим контрастом
    • Отлично подходит для исследований чувствительных к пучку электронов и плохо проводящих электрический ток образцов
    • Быстрая юстировка электронной колонны – получение изображений высокого качества и одновременное проведение аналитических исследований гарантированы технологией In-Flight Beam Tracing™
    • Удобная и точная СЭМ-навигация по образцу в реальном времени при небольшом увеличении без необходимости использовать дополнительную оптическую навигационную камеру
    • Интуитивно понятное модульное программное обеспечение Essence™ для лёгкой работы независимо от уровня опыта пользователя
    ПО
    TESCAN Essence™
    • Настраиваемый графический интерфейс
    • Многопользовательский интерфейс с учетными записями с настраиваемым уровнем доступа
    • Панель быстрого поиска окон интерфейса
    • Отмена последней команды / Возврат последней команды 
    • Отображение одного, двух, четырех или шести изображений одновременно в реальном времени
    • Многоканальное цветное живое изображение
    Автоматические и полуавтоматические процедуры
    • Контроль эмиссии электронного пучка
    • Автоматизация всех этапов юстировки
    • Авто контраст/яркость, автофокус
    • In-Flight Beam Tracing™ (технология контроля и оптимизации рабочих характеристик и параметров пучка в реальном времени)
    • Оптимизация тока электронного пучка для выбранного диаметра электронного пучка, и наоборот 
    Программные модули Essence™ (* – опционально)
    • Измерения (расстояния; периметры и площади кругов, эллипсов, квадратов и полей неправильной формы; экспорт измерений для статистической обработки и другие функции), контроль допусков
    • Обработка изображений (коррекция яркости/контраста, улучшение резкости, подавление шумов, сглаживание и увеличение чёткости, дифференциальный контраст, коррекция тени, адаптивные фильтры, быстрое Фурье-преобразование и др. функции)
    • Предустановки
    • Гистограмма и шкала оттенков (LUT)
    • SharkSEM™ Basic (удалённый контроль)
    • 3D-модель схемы коллизий
    • Площадь объекта (выделение на снимке объектов с близким уровнем серого и измерение площади, занимаемой этими объектами)
    • Позиционер (навигация по образцу в соответствии с шаблоном, в качестве которого может выступать СЭМ-изображение, изображение с оптического микроскопа, фотография образца)
    • Таймер выключения
    • CORAL™ (корреляционная микроскопия для удобной навигации и совмещения СЭМ-снимков со снимками сторонних устройств, например, с оптических микроскопов) *
    • Сшивка изображений (автоматический процесс накопления изображений и их сшивки) *
    • Обозреватель образца для создания видеоряда из серии СЭМ-снимков, автоматически накопленных через заданные промежутки времени *
    • SharkSEM™ Advanced (создание пользовательских алгоритмов, библиотека скриптов Python) *
    • Расширенная самодиагностика *
    • Программа-клиент Synopsys (расширение модуля Позиционер, которое совмещает данные макета из внешнего ПО Avalon MaskView c изображениями СЭМ или FIB через удаленное соединение; в основном предназначено для анализа неисправностей полупроводниковых устройств) *
    • TESCAN Flow™ (обработка СЭМ-данных в режиме offline) *
    Фото
    • TESCAN CLARA

    Поделиться
    Назад к списку
    Подписывайтесь на рассылку новостей:
    Оборудование
    Применение
    Новости
    Пользователи и партнеры
    Все статьи и заметки
    Материаловедение
    Микроэлектроника
    Геология и минералогия
    Науки о живом
    Записаться на демонстрационное исследование
    Сервисное обслуживание
    Лаборатория под ключ
    +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    © ООО «‎ТЕСКАН» 2025
    Разработка сайта  –