Высокотехнологичное
аналитическое 
оборудование
+ 7 812 322 58 99
Пн.-Пт. 10:00 – 18:00 (МСК)
Главная
О компании
  • История TESCAN
  • TESCAN в России и СНГ
  • Новости
  • Вакансии
  • Лицензии и сертификаты
Оборудование
  • Сканирующие электронные микроскопы
    Сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN VEGA Compact
    • TESCAN VEGA
    • TESCAN MIRA
    • TESCAN CLARA
    • TESCAN MAGNA
    • TESCAN TIMA
  • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN AMBER
    • TESCAN AMBER X
    • TESCAN SOLARIS
    • TESCAN SOLARIS X
  • Рентгеновские томографы
    Рентгеновские томографы
    • TESCAN CoreTOM
    • TESCAN DynaTOM
  • Детекторы и аксессуары TESCAN
    Детекторы и аксессуары TESCAN
    • Детекторы SE
    • Детекторы BSE
    • Детекторы In-Beam
    • Детекторы STEM
    • Детекторы CL
    • Детектор SITD
    • Аксессуары
  • Аналитические системы
    Аналитические системы
    • EDS
      • Essence EDS
      • Ultim Extreme
      • Ultim MAX
    • WDS
      • INCA Wave
    • AFM
      • AFM BRISK
      • Nenovision LiteScope
  • Сопутствующее оборудование
    Сопутствующее оборудование
    • Напылительные установки
      • Q150R plus
      • Q150T Plus
    • Ионная полировка
      • SEMPrep2
      • UniMill
    • Сушка в критической точке
      • Quorum Technologies K850
    • Микромеханическая обработка
      • MICROSAW MS3
      • MICROPOL MC3
      • MICROHEAT MH3
    • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • SC22
      • SC24
      • SC26
      • SC11/Basic/USB
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
    • DX-2700
    • DX-27mini
    • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
    • Спектрометр XAFS2300
  • Прочие детекторы и аксессуары
    Прочие детекторы и аксессуары
    • Столики Deben MICROTEST
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
  • Расходные материалы
    Расходные материалы
    • Электропроводящие ленты, диски, пасты
      • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 8 мм
      • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 12 мм
      • Двухсторонняя электропроводящая медная лента, 12.7 мм × 16.4 м
      • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 20 мм
      • Двусторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 12 мм, 100 шт./уп.
      • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски повышенной чистоты диаметром 12 мм, 120 шт./уп.
      • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 25 мм, 54 шт./уп.
      • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 9 мм, 98 шт./уп.
      • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 6 мм, 112 шт./уп.
      • Углеродные проводящие листы, 50 мм × 120 мм, толщина 0.16 мм, 10 шт./уп.
    • Столики и держатели для крепления образцов
      • Алюминиевые (стандартные) столики, диаметром 12,7 мм. 100шт/упак
      • Алюминиевые (стандартные) столики, диаметром 25 мм, 100 шт./уп.
      • Семипозиционный держатель образцов для микроскопов TESCAN
      • Алюминиевый стенд на 40 столиков диаметром 12.7 мм
    • Контейнеры для хранения образцов
      • Контейнеры-колбочки для хранения стандартных столиков, 10 шт./уп.
      • Контейнер для хранения стандартных столиков на 18 позиций
      • Контейнер для хранения стандартных столиков на 14 позиций
      • Мембранный бокс для переноски образцов, 38 мм (ширина) х 38 мм (глубина) х 16 мм (высота), 12 шт./уп.
      • Контейнер для хранения стандартных столиков на 8 позиций
      • Контейнер для хранения стандартных столиков на 4 позиции
      • Антистатический бокс для хранения ламелей (на 100 позиций)
      • PELCO® контейнер для хранения 50 TEM сеточек
      • Контейнер для хранения 50 TEM сеточек
      • Контейнер для хранения 100 TEM сеточек
    • Материалы для обслуживания микроскопов
      • Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов JEOL (тип K)
      • Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов Cambridge/LEO/Zeiss и AEI
      • Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов TESCAN VEGA
    • Сетки для TEM
      • Медные полусетки Omniprobe с 4-мя выступами для закрепления ламелей 100 шт./уп.
      • Медные сетки, 50 mesh, 100 шт./уп.
      • Медные сетки, 75 mesh, 100 шт./уп.
      • Медные сетки, 100 mesh, 100 шт./уп.
      • Медные сетки, 200 mesh, 100 шт./уп.
      • Медные сетки, 300 mesh, 100 шт./уп.
      • Медные сетки, 400 mesh, 100 шт./уп.
      • Никелевые сетки, 50 mesh, 100 шт./уп.
      • Никелевые сетки, 75 mesh, 100 шт./уп.
      • Никелевые сетки, 100 mesh, 100 шт./уп.
      • Никелевые сетки, 200 mesh, 100 шт./уп.
      • Никелевые сетки, 300 mesh, 100 шт./уп.
      • Никелевые сетки, 400 mesh, 100 шт./уп.
      • Медные сетки, 75 mesh, формвар+углерод, 50 шт./уп.,
      • Медные сетки, 200 mesh, углеродное покрытие 15-25 нм, 25 шт./уп.
      • Медные сетки, 300 mesh, формвар/углеродное покрытие 15-25 нм, 25 шт/упак
      • Медные сетки, 400 mesh, формвар/углеродное покрытие 3 нм, 25 шт./уп.
      • Медные сетки с несимметричными метками на ободе и в центре, 600 mesh, 100 шт./уп.
      • Медные сетки, 200 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
      • Медные сетки, 300 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
      • Медные сетки, 300 mesh, Lacey углерод/формвар, 25 шт./уп.
      • Медные сетки, 400 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
    • Иглы для наноманипуляторов
      • Стандартные вольфрамовые иглы для наноманипуляторов OmniProbe AutoProbe 100 и 200
      • Узкие вольфрамовые иглы для наноманипуляторов OmniProbe Autoprobe 100 и 200
    • Материалы для напыления
      • Углеродная нить (шнур), диаметр 0.8 мм, лин. плотность 0.4 г/м 10 метров
      • Катушка углеродной нити, 100 м
      • Углеродная нить (шнур), диаметр 2.4 мм, лин. плотность 1.6 г/м 10 метров
      • Кристалл для измерителя толщины напыления, 1 шт.
    • Материалы для изготовления реплик
      • Тонкая репликационная лента из ацетата целлюлозы, толщина 22 мкм, 38 мм × 4.5 м
Расходные материалы
Применение
  • Академия ТЕСКАН
    • Что такое СЭМ?
    • Детекторы и аксессуары
    • Внутрикамерные детекторы
    • Внутрилинзовые детекторы
    • FIB-SEM: области и возможности применения
    • Обзор методов пробоподготовки
    • Список литературы
  • Статьи
  • Галерея изображений
  • Видеоматериалы
Новости
Календарь
Контакты
    TESCAN
    Меню  
    • Главная
    • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • EDS
          • Essence EDS
          • Ultim Extreme
          • Ultim MAX
        • WDS
          • INCA Wave
        • AFM
          • AFM BRISK
          • Nenovision LiteScope
      • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
          • Q150R plus
          • Q150T Plus
        • Ионная полировка
          • SEMPrep2
          • UniMill
        • Сушка в критической точке
          • Quorum Technologies K850
        • Микромеханическая обработка
          • MICROSAW MS3
          • MICROPOL MC3
          • MICROHEAT MH3
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
          • SC22
          • SC24
          • SC26
          • SC11/Basic/USB
      • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
          • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 8 мм
          • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 12 мм
          • Двухсторонняя электропроводящая медная лента, 12.7 мм × 16.4 м
          • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 20 мм
          • Двусторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 12 мм, 100 шт./уп.
          • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски повышенной чистоты диаметром 12 мм, 120 шт./уп.
          • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 25 мм, 54 шт./уп.
          • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 9 мм, 98 шт./уп.
          • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 6 мм, 112 шт./уп.
          • Углеродные проводящие листы, 50 мм × 120 мм, толщина 0.16 мм, 10 шт./уп.
        • Столики и держатели для крепления образцов
          • Алюминиевые (стандартные) столики, диаметром 12,7 мм. 100шт/упак
          • Алюминиевые (стандартные) столики, диаметром 25 мм, 100 шт./уп.
          • Семипозиционный держатель образцов для микроскопов TESCAN
          • Алюминиевый стенд на 40 столиков диаметром 12.7 мм
        • Контейнеры для хранения образцов
          • Контейнеры-колбочки для хранения стандартных столиков, 10 шт./уп.
          • Контейнер для хранения стандартных столиков на 18 позиций
          • Контейнер для хранения стандартных столиков на 14 позиций
          • Мембранный бокс для переноски образцов, 38 мм (ширина) х 38 мм (глубина) х 16 мм (высота), 12 шт./уп.
          • Контейнер для хранения стандартных столиков на 8 позиций
          • Контейнер для хранения стандартных столиков на 4 позиции
          • Антистатический бокс для хранения ламелей (на 100 позиций)
          • PELCO® контейнер для хранения 50 TEM сеточек
          • Контейнер для хранения 50 TEM сеточек
          • Контейнер для хранения 100 TEM сеточек
        • Материалы для обслуживания микроскопов
          • Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов JEOL (тип K)
          • Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов Cambridge/LEO/Zeiss и AEI
          • Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов TESCAN VEGA
        • Сетки для TEM
          • Медные полусетки Omniprobe с 4-мя выступами для закрепления ламелей 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 50 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 75 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 100 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 200 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 300 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 400 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 50 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 75 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 100 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 200 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 300 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 400 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 75 mesh, формвар+углерод, 50 шт./уп.,
          • Медные сетки, 200 mesh, углеродное покрытие 15-25 нм, 25 шт./уп.
          • Медные сетки, 300 mesh, формвар/углеродное покрытие 15-25 нм, 25 шт/упак
          • Медные сетки, 400 mesh, формвар/углеродное покрытие 3 нм, 25 шт./уп.
          • Медные сетки с несимметричными метками на ободе и в центре, 600 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 200 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
          • Медные сетки, 300 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
          • Медные сетки, 300 mesh, Lacey углерод/формвар, 25 шт./уп.
          • Медные сетки, 400 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
        • Иглы для наноманипуляторов
          • Стандартные вольфрамовые иглы для наноманипуляторов OmniProbe AutoProbe 100 и 200
          • Узкие вольфрамовые иглы для наноманипуляторов OmniProbe Autoprobe 100 и 200
        • Материалы для напыления
          • Углеродная нить (шнур), диаметр 0.8 мм, лин. плотность 0.4 г/м 10 метров
          • Катушка углеродной нити, 100 м
          • Углеродная нить (шнур), диаметр 2.4 мм, лин. плотность 1.6 г/м 10 метров
          • Кристалл для измерителя толщины напыления, 1 шт.
        • Материалы для изготовления реплик
          • Тонкая репликационная лента из ацетата целлюлозы, толщина 22 мкм, 38 мм × 4.5 м
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    Заказать звонок
    +7 (812) 322 58 99
    TESCAN
    • Главная
    • О компании
      • Назад
      • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Назад
      • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • Назад
        • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Назад
        • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • Назад
        • Аналитические системы
        • EDS
          • Назад
          • EDS
          • Essence EDS
          • Ultim Extreme
          • Ultim MAX
        • WDS
          • Назад
          • WDS
          • INCA Wave
        • AFM
          • Назад
          • AFM
          • AFM BRISK
          • Nenovision LiteScope
      • Сопутствующее оборудование
        • Назад
        • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
          • Назад
          • Напылительные установки
          • Q150R plus
          • Q150T Plus
        • Ионная полировка
          • Назад
          • Ионная полировка
          • SEMPrep2
          • UniMill
        • Сушка в критической точке
          • Назад
          • Сушка в критической точке
          • Quorum Technologies K850
        • Микромеханическая обработка
          • Назад
          • Микромеханическая обработка
          • MICROSAW MS3
          • MICROPOL MC3
          • MICROHEAT MH3
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
          • Назад
          • Системы измерения и подавления ЭМ полей
          • SC22
          • SC24
          • SC26
          • SC11/Basic/USB
      • Рентгеновские дифрактометры
        • Назад
        • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Назад
        • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Назад
        • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
          • Назад
          • Электропроводящие ленты, диски, пасты
          • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 8 мм
          • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 12 мм
          • Двухсторонняя электропроводящая медная лента, 12.7 мм × 16.4 м
          • Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 20 мм
          • Двусторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 12 мм, 100 шт./уп.
          • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски повышенной чистоты диаметром 12 мм, 120 шт./уп.
          • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 25 мм, 54 шт./уп.
          • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 9 мм, 98 шт./уп.
          • Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 6 мм, 112 шт./уп.
          • Углеродные проводящие листы, 50 мм × 120 мм, толщина 0.16 мм, 10 шт./уп.
        • Столики и держатели для крепления образцов
          • Назад
          • Столики и держатели для крепления образцов
          • Алюминиевые (стандартные) столики, диаметром 12,7 мм. 100шт/упак
          • Алюминиевые (стандартные) столики, диаметром 25 мм, 100 шт./уп.
          • Семипозиционный держатель образцов для микроскопов TESCAN
          • Алюминиевый стенд на 40 столиков диаметром 12.7 мм
        • Контейнеры для хранения образцов
          • Назад
          • Контейнеры для хранения образцов
          • Контейнеры-колбочки для хранения стандартных столиков, 10 шт./уп.
          • Контейнер для хранения стандартных столиков на 18 позиций
          • Контейнер для хранения стандартных столиков на 14 позиций
          • Мембранный бокс для переноски образцов, 38 мм (ширина) х 38 мм (глубина) х 16 мм (высота), 12 шт./уп.
          • Контейнер для хранения стандартных столиков на 8 позиций
          • Контейнер для хранения стандартных столиков на 4 позиции
          • Антистатический бокс для хранения ламелей (на 100 позиций)
          • PELCO® контейнер для хранения 50 TEM сеточек
          • Контейнер для хранения 50 TEM сеточек
          • Контейнер для хранения 100 TEM сеточек
        • Материалы для обслуживания микроскопов
          • Назад
          • Материалы для обслуживания микроскопов
          • Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов JEOL (тип K)
          • Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов Cambridge/LEO/Zeiss и AEI
          • Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов TESCAN VEGA
        • Сетки для TEM
          • Назад
          • Сетки для TEM
          • Медные полусетки Omniprobe с 4-мя выступами для закрепления ламелей 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 50 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 75 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 100 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 200 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 300 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 400 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 50 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 75 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 100 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 200 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 300 mesh, 100 шт./уп.
          • Никелевые сетки, 400 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 75 mesh, формвар+углерод, 50 шт./уп.,
          • Медные сетки, 200 mesh, углеродное покрытие 15-25 нм, 25 шт./уп.
          • Медные сетки, 300 mesh, формвар/углеродное покрытие 15-25 нм, 25 шт/упак
          • Медные сетки, 400 mesh, формвар/углеродное покрытие 3 нм, 25 шт./уп.
          • Медные сетки с несимметричными метками на ободе и в центре, 600 mesh, 100 шт./уп.
          • Медные сетки, 200 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
          • Медные сетки, 300 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
          • Медные сетки, 300 mesh, Lacey углерод/формвар, 25 шт./уп.
          • Медные сетки, 400 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
        • Иглы для наноманипуляторов
          • Назад
          • Иглы для наноманипуляторов
          • Стандартные вольфрамовые иглы для наноманипуляторов OmniProbe AutoProbe 100 и 200
          • Узкие вольфрамовые иглы для наноманипуляторов OmniProbe Autoprobe 100 и 200
        • Материалы для напыления
          • Назад
          • Материалы для напыления
          • Углеродная нить (шнур), диаметр 0.8 мм, лин. плотность 0.4 г/м 10 метров
          • Катушка углеродной нити, 100 м
          • Углеродная нить (шнур), диаметр 2.4 мм, лин. плотность 1.6 г/м 10 метров
          • Кристалл для измерителя толщины напыления, 1 шт.
        • Материалы для изготовления реплик
          • Назад
          • Материалы для изготовления реплик
          • Тонкая репликационная лента из ацетата целлюлозы, толщина 22 мкм, 38 мм × 4.5 м
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Назад
      • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Назад
        • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    • +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    • Вконтакте
    • YouTube
    • Главная
    • О компании
    • Новости

    Новости

    За все время
    2024
    2023
    2020
    2019
    2018
    2017
    2016
    2015
    2013
    2012
    2011
    2010
    22-я международная выставка Аналитика Экспо в Москве, 16 – 18 апреля 2024
    22-я международная выставка Аналитика Экспо в Москве, 16 – 18 апреля 2024
    19 февраля 2024
    Летний семинар ТЕСКАН 2024
    Летний семинар ТЕСКАН 2024
    1 февраля 2024
    21-я международная выставка Аналитика Экспо в Москве, 11 – 14 апреля 2023
    21-я международная выставка Аналитика Экспо в Москве, 11 – 14 апреля 2023
    23 февраля 2023
    Перенос выставки «Аналитика Экспо» 2020 на сентябрь
    Перенос выставки «Аналитика Экспо» 2020 на сентябрь
    3 апреля 2020
    17-я международная выставка Аналитика Экспо в Москве, 23 – 26 апреля 2019
    17-я международная выставка Аналитика Экспо в Москве, 23 – 26 апреля 2019
    23 апреля 2019
    Конгресс "Цветные металлы и минералы 2018"
    Конгресс "Цветные металлы и минералы 2018"
    11 сентября 2018
    Итоги конкурса изображений "Доступное совершенство" 2018
    Итоги конкурса изображений "Доступное совершенство" 2018
    10 сентября 2018
    Фотоотчет с выставки «Аналитика Экспо» 2018
    Фотоотчет с выставки «Аналитика Экспо» 2018
    6 мая 2018
    16-я международная выставка Аналитика Экспо в Москве, 24 – 26 апреля 2018
    16-я международная выставка Аналитика Экспо в Москве, 24 – 26 апреля 2018
    24 апреля 2018
    Поздравляем Никитина Максима Петровича
    Поздравляем Никитина Максима Петровича
    8 февраля 2018
    Юбилейный съезд Российского минералогического общества
    Юбилейный съезд Российского минералогического общества
    9 октября 2017
    Международная конференция ФизтехБиоМед
    Международная конференция ФизтехБиоМед
    21 сентября 2017
    15-я международная выставка "Аналитика Экспо" в Москве
    15-я международная выставка "Аналитика Экспо" в Москве
    11 апреля 2017
    TESCAN на XXVI Российской конференции по электронной микроскопии (РКЭМ-2016)
    TESCAN на XXVI Российской конференции по электронной микроскопии (РКЭМ-2016)
    30 мая 2016
    Приобретение компании AppFive, LLC
    Приобретение компании AppFive, LLC
    3 августа 2015
    13-я международная выставка "Аналитика Экспо" в Москве
    13-я международная выставка "Аналитика Экспо" в Москве
    14 апреля 2015
    TESCAN Distributor's Meeting 2015
    TESCAN Distributor's Meeting 2015
    1 апреля 2015
    TESCAN VEGA - Челябинский метеорит
    TESCAN VEGA - Челябинский метеорит
    13 июня 2013
    TESCAN на IX Конгрессе обогатителей стран СНГ
    TESCAN на IX Конгрессе обогатителей стран СНГ
    26 февраля 2013
    TESCAN примет участие в XXIV Российской конференции по электронной микроскопии РКЭМ-2012
    TESCAN примет участие в XXIV Российской конференции по электронной микроскопии РКЭМ-2012
    29 мая 2012
    • 1
    • 2
    Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос
    Задать вопрос
    Подписывайтесь на рассылку новостей:
    Оборудование
    Применение
    Новости
    Пользователи и партнеры
    Все статьи и заметки
    Материаловедение
    Микроэлектроника
    Геология и минералогия
    Науки о живом
    Записаться на демонстрационное исследование
    Сервисное обслуживание
    Лаборатория под ключ
    +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    © ООО «‎ТЕСКАН» 2025
    Разработка сайта  –