Высокотехнологичное
аналитическое 
оборудование
+ 7 812 322 58 99
Пн.-Пт. 10:00 – 18:00 (МСК)
Главная
О компании
  • История TESCAN
  • TESCAN в России и СНГ
  • Новости
  • Вакансии
  • Лицензии и сертификаты
Оборудование
  • Сканирующие электронные микроскопы
    Сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN VEGA Compact
    • TESCAN VEGA
    • TESCAN MIRA
    • TESCAN CLARA
    • TESCAN MAGNA
    • TESCAN TIMA
  • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN AMBER
    • TESCAN AMBER X
    • TESCAN SOLARIS
    • TESCAN SOLARIS X
  • Рентгеновские томографы
    Рентгеновские томографы
    • TESCAN CoreTOM
    • TESCAN DynaTOM
  • Детекторы и аксессуары TESCAN
    Детекторы и аксессуары TESCAN
    • Детекторы SE
    • Детекторы BSE
    • Детекторы In-Beam
    • Детекторы STEM
    • Детекторы CL
    • Детектор SITD
    • Аксессуары
  • Аналитические системы
    Аналитические системы
    • EDS
    • EBSD
    • WDS
    • TOF-SIMS
    • AFM
  • Сопутствующее оборудование
    Сопутствующее оборудование
    • Напылительные установки
    • Ионная полировка
    • Сушка в критической точке
    • Микромеханическая обработка
    • Системы измерения и подавления ЭМ полей
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
    • DX-2700
    • DX-27mini
  • Прочие детекторы и аксессуары
    Прочие детекторы и аксессуары
    • Столики Deben MICROTEST
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
  • Расходные материалы
    Расходные материалы
    • Электропроводящие ленты, диски, пасты
    • Столики и держатели для крепления образцов
    • Контейнеры для хранения образцов
    • Материалы для обслуживания микроскопов
    • Сетки для TEM
    • Иглы для наноманипуляторов
    • Материалы для напыления
    • Материалы для изготовления реплик
Расходные материалы
Применение
  • Академия ТЕСКАН
    • Что такое СЭМ?
    • Детекторы и аксессуары
    • Внутрикамерные детекторы
    • Внутрилинзовые детекторы
    • FIB-SEM: области и возможности применения
    • Обзор методов пробоподготовки
    • Список литературы
  • Статьи
  • Галерея изображений
  • Видеоматериалы
Новости
Календарь
Контакты
    TESCAN
    Меню  
    • Главная
    • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • EDS
        • EBSD
        • WDS
        • TOF-SIMS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    Заказать звонок
    +7 (812) 322 58 99
    TESCAN
    • Главная
    • О компании
      • Назад
      • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Назад
      • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • Назад
        • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Назад
        • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • Назад
        • Аналитические системы
        • EDS
        • EBSD
        • WDS
        • TOF-SIMS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Назад
        • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • Назад
        • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Назад
        • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Назад
        • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Назад
      • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Назад
        • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    • +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    • Вконтакте
    • YouTube
    • Главная
    • Оборудование
    • Сопутствующее оборудование
    • Системы измерения и подавления ЭМ полей
    • SC24
    • SC24

    SC24

    • Описание
    • Характеристики
    • Фото
    • Документы
    Описание

    Система подавления переменных электромагнитных полей SC24

    Система SC24 служит для подавления внешних электромагнитных полей в диапазоне частот от постоянного DC-поля до 5 кГц. Для обеспечения такой ширины диапазона SC24 обладает расширенной полосой пропускания благодаря кабелям с малой индуктивностью, размещаемым либо на металлической рамке вокруг электронной колонны СЭМ или ПЭМ, либо в варианте «комнатной» установки с размещением контуров кабелей на стенах помещения.

    Метод подавления полей – широкополосный аналоговый с отрицательной обратной связью. Когда окружающее магнитное поле меняется, система SC24 стабилизирует его, создавая равное и противоположно направленное поле, используя усилители мощности для управления токами внутри кабелей системы.

    SC24 может использовать один или два датчика переменного магнитного поля, либо один или два широкополосных датчика постоянного магнитного поля. Широкополосные датчики постоянного магнитного поля необходимы только при наличии превышения внешних постоянных электромагнитных полей, как например, от трамвайной или ж/д сетей постоянного тока.

    Основные особенности:

    • Непрерывное широкополосное подавление внешних электромагнитных полей в реальном времени в диапазоне частот от постоянного DC-поля до 5 кГц;
    • Система адаптируется к изменению амплитуды и частоты электромагнитного поля с высокой скоростью отклика – в пределах 100 нс, что позволяет обеспечить непрерывность и стабильность подавления внешних электромагнитных полей;
    • Сенсорный экран с интуитивно понятным пользовательским интерфейсом, полностью автоматическая настройка системы и возможность сброса измеренных значений DC-поля;
    • Одновременное отображение текущих значений полей AC и DC на экране в Тл или Гс;
    • Смешивание сигналов от двух однотипных датчиков для создания так называемого виртуального датчика внутри электронной колонны;
    • Встроенный генератор тестового поля;
    • Ethernet и USB порты для обеспечения подключений для удаленного контроля и мониторинга электромагнитных полей.

    Стандартная комплектация:

    • Электронный блок управления SC24;
    • Датчик SC24 / AC (в количестве от 1 до 2);
    • Датчик SC24 / DC + AC (в количестве от 1 до 2);
    • Три многожильных кабеля (катушки Гельмгольца) в вариантах длин для одно- и двухконтурного размещения;
    • Рамка для размещения кабелей контуров вокруг колонны (при необходимости);
    • Набор принадлежностей для крепления кабелей.

    В системе SC24 используются следующие датчики для измерения значений магнитных полей:

    • Датчик SC24 / AC – 200 кГц трёхосевой датчик переменного магнитного поля (зелёного цвета). Он обеспечивает эффективное подавление полей частотой от 2.5 Гц до 5 кГц. 
    • Датчик SC24 / DC + AC – датчик постоянного DC-поля, комбинированный с трёхосевым датчиком переменного магнитного поля 50/60 Гц (черного цвета).
    Возможно использование одновременно двух датчиков одного типа. 

    >> Подробнее про работу систем подавления ЭМ-полей >>

    Характеристики
    ЕДИНИЦЫ ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛЕЙ: мГс, нТл, мкТл – по желанию пользователя
    ПОДАВЛЕНИЕ ПОЛЕЙ
    Координаты: X, Y, Z картезианской системы координат
    Подавляемые компоненты Электромагнитные поля по осям X, Y, Z
    Динамический диапазон (X и Y) 4.8 мкТл pk-pk
    Динамический диапазон (Z) 3.3 мкТл pk-pk
         1. Для комплектов с датчиками SC24/AC (одним или двумя) 
               Фактор подавления поля 50 крат при 50/60 Гц
               Диапазон частот 2.5 Гц – 5000 Гц
               Предел шума (в диапазоне от 0.5 Гц до 5 кГц) 0.6 нТл RMS
         2. Для комплектов с датчиками SC24/DC+AC (одним или двумя) 
               Предел внешнего постоянного DC-поля макс. ± 200 мкТл
               Фактор подавления поля > 100 при 50/60 Гц
    > 400 крат при 60 Гц и DC
               Диапазон частот постоянное магнитное поле – 5000 Гц
               Предел шума (в диапазоне от 0.5 Гц до 5 кГц) 0.7 нТл RMS
               Дрейф постоянного DC-поля < 2 нТл/24 часа
    ИЗМЕРЕНИЕ ПОЛЕЙ
         Режимы: в реальном времени
    AC RMS или pk-pk
    инкрементальный DC
         Отображение Сенсорный LCD экран
         Динамический диапазон датчика 4.2 мкТл pk-pk
         Точность ± 1% считывания ± 1 нТл
    Значения на выходах X, Y, Z
    в режиме реального времени
         Шкала 10 В/мкТл (1 В/мГс)
         Диапазон ± 12 В
         Сопротивление источника 10 кОм
         Коннекторы 3 BNC
         Пропускная способность от 25 Гц до 10 кГц – с датчиком (датчиками) SC24/AC
    от постоянного DC-поля до 10 кГц – с датчиком (датчиками) SC24/DC+AC
    ГЕНЕРАТОР ТЕСТОВОГО ПОЛЯ
         Синусоидальная волна Частота сети переменного тока (50/60 Гц) - линия заблокирована
         Квадратная волна 1, 2, 5, 10, 20, 50, 100, 200, 500, 1000 Гц
    ПИТАНИЕ 120/240 В 50/60 Гц, 100 ВА

    Варианты раскладки контуров кабелей:

    SC для TEM

    а) Установка для просвечивающих микроскопов (TEM), 2 комплекта кабелей

    SC для TEM и SEM

    б) Установка для просвечивающих микроскопов (TEM) и сканирующих микроскопов (SEM)

    SC для SEM

    в) Минимальная установка для сканирующих микроскопов (SEM)

    Фото
    • SC24
    • SC24
    • SC24
    Документы
    SC24 product guide
    2.2 Мб

    Поделиться
    Назад к списку
    Подписывайтесь на рассылку новостей:
    Оборудование
    Применение
    Новости
    Пользователи и партнеры
    Все статьи и заметки
    Материаловедение
    Микроэлектроника
    Геология и минералогия
    Науки о живом
    Записаться на демонстрационное исследование
    Сервисное обслуживание
    Лаборатория под ключ
    +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    © ООО «‎ТЕСКАН» 2023
    Разработка сайта  –