Вебинар. Наклон образцов в камере СЭМ

>> видеозапись вебинара

На вебинаре обсуждалась узкая и сугубо практическая тема, посвящённая наклону образцов в камере сканирующего электронного микроскопа: 

• каковы преимущества и недостатки изучения образцов с наклонённой поверхностью по сравнению с горизонтально расположенными образцами?
• в какую сторону наклонять?
• как наклонить образец таким образом, чтобы не повредить ничего внутри камеры образцов?
• какие искажения электронных изображений возникают при наклоне и как их компенсировать?

Тезисы вебинара иллюстрировались работой за СЭМ TESCAN в реальном времени. 

Докладчик Лукашова Мария Валерьевна, к.ф.-м.н., начальник отдела исследований компании ООО "ТЕСКАН" - официального представителя на территории РФ и стран СНГ производителя сканирующих электронных микроскопов TESCAN ORSAY HOLDING