Высокотехнологичное
аналитическое 
оборудование
+ 7 812 322 58 99
Пн.-Пт. 10:00 – 18:00 (МСК)
Главная
О компании
  • История TESCAN
  • TESCAN в России и СНГ
  • Новости
  • Вакансии
  • Лицензии и сертификаты
Оборудование
  • Сканирующие электронные микроскопы
    Сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN VEGA Compact
    • TESCAN VEGA
    • TESCAN MIRA
    • TESCAN CLARA
    • TESCAN MAGNA
    • TESCAN TIMA
  • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN AMBER
    • TESCAN AMBER X
    • TESCAN SOLARIS
    • TESCAN SOLARIS X
  • Рентгеновские томографы
    Рентгеновские томографы
    • TESCAN CoreTOM
    • TESCAN DynaTOM
  • Детекторы и аксессуары TESCAN
    Детекторы и аксессуары TESCAN
    • Детекторы SE
    • Детекторы BSE
    • Детекторы In-Beam
    • Детекторы STEM
    • Детекторы CL
    • Детектор SITD
    • Аксессуары
  • Аналитические системы
    Аналитические системы
    • EDS
    • WDS
    • AFM
  • Сопутствующее оборудование
    Сопутствующее оборудование
    • Напылительные установки
    • Ионная полировка
    • Сушка в критической точке
    • Микромеханическая обработка
    • Системы измерения и подавления ЭМ полей
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
    • DX-2700
    • DX-27mini
  • Прочие детекторы и аксессуары
    Прочие детекторы и аксессуары
    • Столики Deben MICROTEST
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
  • Расходные материалы
    Расходные материалы
    • Электропроводящие ленты, диски, пасты
    • Столики и держатели для крепления образцов
    • Контейнеры для хранения образцов
    • Материалы для обслуживания микроскопов
    • Сетки для TEM
    • Иглы для наноманипуляторов
    • Материалы для напыления
    • Материалы для изготовления реплик
Расходные материалы
Применение
  • Академия ТЕСКАН
    • Что такое СЭМ?
    • Детекторы и аксессуары
    • Внутрикамерные детекторы
    • Внутрилинзовые детекторы
    • FIB-SEM: области и возможности применения
    • Обзор методов пробоподготовки
    • Список литературы
  • Статьи
  • Галерея изображений
  • Видеоматериалы
Новости
Календарь
Контакты
    TESCAN
    Меню  
    • Главная
    • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    Заказать звонок
    +7 (812) 322 58 99
    TESCAN
    • Главная
    • О компании
      • Назад
      • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Назад
      • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • Назад
        • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Назад
        • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • Назад
        • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Назад
        • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • Назад
        • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Назад
        • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Назад
        • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Назад
      • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Назад
        • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    • +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    • Вконтакте
    • YouTube
    • Главная
    • Применение
    • Статьи
    • Исследование срезов биоматериалов с помощью сканирующего электронного микроскопа TESCAN, оснащенного детектором «на просвет»

    Исследование срезов биоматериалов с помощью сканирующего электронного микроскопа TESCAN, оснащенного детектором «на просвет»

    30 мая 2017
    // Науки о живом
    Исследование срезов биоматериалов с помощью сканирующего электронного микроскопа TESCAN, оснащенного детектором «на просвет»

    Методы электронной микроскопии имеют множество преимуществ по сравнению с оптической микроскопией, в числе которых превосходная разрешающая способность и универсальность методов. Под универсальностью понимается возможность получать изображения образцов с одновременным определением локального химического состава объектов, с установлением типа и ориентации кристаллической решетки, с получением ряда других свойств компонентов образцов. Существуют два основных типа электронных микроскопов, различающихся характеристиками и ценой: сканирующие и просвечивающие микроскопы. В обоих типах микроскопов для получения изображений используется пучок электронов высокой энергии. В сканирующем электронном микроскопе регистрируется вторичное излучение, возникшее при взаимодействии тонко сфокусированного пучка электронов с образцом и рассеянное от поверхности образца, в то время как в просвечивающем электронном микроскопе для формирования изображения тонкопленочный объект просвечивается насквозь пучком электронов.



    Табл. 1: Сканирующая и просвечивающая электронная микроскопия. Краткая сравнительная таблица

    Сканирующий электр. микроскоп Просвечивающий электр. микроскоп
    Разрешающая способность 1 нм (для микроскопа с катодом с полевой эмиссией) < 1 нм
    Требования к пробоподготовке (для реализации разрешающей способности) требования минимальны. Исследуются все твердые либо жидкие замороженные образцы линейными размерами вплоть до 30 см обязательно приготовление тонкого среза толщиной 50-100 нм. Диаметр срезов обычно ~ 3 мм
    Типичное изображение изображение рельефной поверхности увеличением от 3х до 1 000 000х:
    2.jpg
    «плоское» изображение поперечного среза
    3.jpg
    Стоимость бюджетный вариант в 2–3 раза дороже, чем сканирующий микроскоп

    Компания TESCAN разработала специальный съемный детектор «на просвет». Если оператор сканирующего электронного микроскопа TESCAN желает изучать тонкие срезы вместо рельефных объектов, то оператор монтирует на столик образцов детектор «на просвет» вместе с тонким срезом. Таким образом, на одном оборудовании удается реализовать преимущества как сканирующего, так и просвечивающего микроскопов.

    Табл.2: Сравнение комплекса «сканирующий электронный микроскоп + детектор на просвет» с просвечивающим микроскопом
    Сканирующий электр. микроскоп + детектор «на просвет» Просвечивающий электр. микроскоп
    Максимальная энергия электронов пучка 30 кэВ 120 кэВ, 200 кэВ, 300 кэВ и более(в зависимости от модели)
    Пробивная способность электронов пучка ниже (определяется максимальной энергией электронов пучка) выше
    Типы изучаемых образцов тонкие пленки из легких материа-лов (биологические объекты, угле-родные реплики) более толстые пленки и фольги из более плотных материалов
    Стоимость бюджетный вариант в 2–3 раза дороже

    Как видно из сравнительной табл. 2, комплекс «скани-рующий микроскоп + детектор на просвет» позволяет иссле-довать биологические объекты. Более того, в силу особенно-стей конструкции, при работе за сканирующим микроскопом удается реализовать режимы, обычно неиспользуемые либо вовсе недоступные на просвечивающих микроскопах. На-пример, сканирующий микроскоп позволяет работать при малых энергиях электронов пучка (~10 кэВ), что невозможно в большинстве моделей просвечивающих микроскопов. В свою очередь, малая энергия электронов пучка дает возмож-ность получать контрастные изображения тех срезов биома-териалов, которые не обрабатывались методами химиче-ского контрастирования. Снижение требований к пробо-подготовке срезов биоматериалов объясняется тем, что тон-кие элементы структуры образцов, прозрачные для высоко-энергетических электронов, становятся непрозрачными для низкоэнергетических электронов, что усиливает контраст изображений и делает необязательным дополнительное хи-мическое контрастирование.

    Съемный детектор

    Съемный детектор «на просвет» монтируется на столик образцов сканирующего электронного микроскопа TESCAN

    5.jpg
    6.jpg

    Срез биоматериала (фиксация с помощью OsO4). В процессе пробоподготовки не использовалось контрастирование ни в уранилацетате, ни в цитрате свинца. Изображения получены на сканирующем электронном микроскопе TESCAN Mira LMU, оснащенном детектором «на просвет». Малая энергия пучка электронов (12 кэВ) позволяет получать контрастные изображения срезов без использования химического контрастирования

    Назад к списку Следующая статья
    Категории
    • Все статьи и заметки19
    • Материаловедение6
    • Микроэлектроника3
    • Геология и минералогия7
    • Науки о живом3
    Это интересно
    • Детектор отраженных электронов LE-BSE для работы при низких ускоряющих напряжениях
      Детектор отраженных электронов LE-BSE для работы при низких ускоряющих напряжениях
      2 августа 2021
    • Создание широких поперечных сечений OLED-дисплеев с помощью новейшего двулучевого сканирующего электронно-ионного микроскопа TESCAN SOLARIS X
      Создание широких поперечных сечений OLED-дисплеев с помощью новейшего двулучевого сканирующего электронно-ионного микроскопа TESCAN SOLARIS X
      2 августа 2021
    Подписывайтесь на рассылку новостей:
    Оборудование
    Применение
    Новости
    Пользователи и партнеры
    Все статьи и заметки
    Материаловедение
    Микроэлектроника
    Геология и минералогия
    Науки о живом
    Записаться на демонстрационное исследование
    Сервисное обслуживание
    Лаборатория под ключ
    +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    © ООО «‎ТЕСКАН» 2023
    Разработка сайта  –