Высокотехнологичное
аналитическое 
оборудование
+ 7 812 322 58 99
Пн.-Пт. 10:00 – 18:00 (МСК)
Главная
О компании
  • История TESCAN
  • TESCAN в России и СНГ
  • Новости
  • Вакансии
  • Лицензии и сертификаты
Оборудование
  • Сканирующие электронные микроскопы
    Сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN VEGA Compact
    • TESCAN VEGA
    • TESCAN MIRA
    • TESCAN CLARA
    • TESCAN MAGNA
    • TESCAN TIMA
  • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN AMBER
    • TESCAN AMBER X
    • TESCAN SOLARIS
    • TESCAN SOLARIS X
  • Рентгеновские томографы
    Рентгеновские томографы
    • TESCAN CoreTOM
    • TESCAN DynaTOM
  • Детекторы и аксессуары TESCAN
    Детекторы и аксессуары TESCAN
    • Детекторы SE
    • Детекторы BSE
    • Детекторы In-Beam
    • Детекторы STEM
    • Детекторы CL
    • Детектор SITD
    • Аксессуары
  • Аналитические системы
    Аналитические системы
    • EDS
    • WDS
    • AFM
  • Сопутствующее оборудование
    Сопутствующее оборудование
    • Напылительные установки
    • Ионная полировка
    • Сушка в критической точке
    • Микромеханическая обработка
    • Системы измерения и подавления ЭМ полей
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
    • DX-2700
    • DX-27mini
  • Прочие детекторы и аксессуары
    Прочие детекторы и аксессуары
    • Столики Deben MICROTEST
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
  • Расходные материалы
    Расходные материалы
    • Электропроводящие ленты, диски, пасты
    • Столики и держатели для крепления образцов
    • Контейнеры для хранения образцов
    • Материалы для обслуживания микроскопов
    • Сетки для TEM
    • Иглы для наноманипуляторов
    • Материалы для напыления
    • Материалы для изготовления реплик
Расходные материалы
Применение
  • Академия ТЕСКАН
    • Что такое СЭМ?
    • Детекторы и аксессуары
    • Внутрикамерные детекторы
    • Внутрилинзовые детекторы
    • FIB-SEM: области и возможности применения
    • Обзор методов пробоподготовки
    • Список литературы
  • Статьи
  • Галерея изображений
  • Видеоматериалы
Новости
Календарь
Контакты
    TESCAN
    Меню  
    • Главная
    • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    Заказать звонок
    +7 (812) 322 58 99
    TESCAN
    • Главная
    • О компании
      • Назад
      • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Назад
      • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • Назад
        • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Назад
        • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • Назад
        • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Назад
        • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • Назад
        • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Назад
        • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Назад
        • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Назад
      • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Назад
        • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    • +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    • Вконтакте
    • YouTube
    • Главная
    • Применение
    • Статьи
    • Поиск рокезита с помощью системы AZtecFeature

    Поиск рокезита с помощью системы AZtecFeature

    11 декабря 2019
    // Геология и минералогия
    >> Прочесть статью в группе ВК >>

    Поиск рокезита с помощью системы AZtecFeature

    Недавно довелось искать на поверхности нескольких аншлифов минерал рокезит (CuInS2), содержащийся внутри зёрен минерала Cu3SbS3.

    Хозяйка образцов на микроскопе TESCAN VEGA случайно обнаружила одно зерно рокезита. Требовалось найти ещё несколько, чтобы показать, что присутствие рокезита в данных образцах — это закономерность, а не случайность. Исследовалось 3 аншлифа золото-серебряных руд с сульфидной минерализацией, представленной минералами группы блёклых руд, халькопиритом, сфалеритом, галенитом. Было понятно, что искать рокезит в ручном режиме — это как «искать иголку в стоге сена», так как рокезит CuInS2 и его окружение Cu3SbS3 имеют очень похожие яркости на BSE-снимках, так как у этих минералов близкий средний атомный номер:

    CuInS2 (% масс.: 26.2 Cu; 47.3 In; 26.4 S) имеет средний атомный номер 40.68.

    Cu3SbS3 (% масс.: 46.7 Cu, 29.8 Sb, 23.5 S) имеет средний атомный номер 37.78.

    Средние атомные номера вычислялись по формуле [1]:

    Средний атомный номер

    где Ci — массовая доля элементов, входящих в состав вещества; Zi — атомный номер элементов, входящих в состав вещества

    Поиск рокезита выполняли с помощью системы автоматического поиска и анализа микрочастиц и микровключений AZtecFeature, производство Oxford Instruments. EDS-спектрометр был установлен на микроскопе марки TESCAN с катодом с полевой эмиссией LYRA 3 XMH. Основная задача заключалась в том, чтобы научить машину разделять близкие оттенки серого.

    Яркость и контраст BSE-изображения были настроены так, чтобы были видны различия между рокезитом и блеклой рудой, и так, чтобы это было максимально контрастно, насколько это возможно. Настройка проводилась на ранее найденном зерне рокезита. Обычно для нахождения оптимальных значений яркости и контрастности BSE-изображения калибровку системы проводят на специальном калибровочном образце, но в данном случае этот способ не дал ожидаемого результата.

    Из-за ограниченного количества времени проводилось сканирование не всей поверхности аншлифа, а только разрозненных светлых областей, так как именно эти области включали в себя блеклые руды, где и ожидалось обнаружить зерна рокезита.

    Ниже представлены изображения тех областей из трех образцов, в которых были найдены зерна рокезита.

    Область 1 Область 2 Область 3

    Область 1 была отсканирована за 26 минут, область 2 — за 54 минуты, область 3 — за 64 минуты.

    Область 1

    Область 1 состояла из 175 участков сканирования, размер каждого участка 103 мкм (1024 х 1024 пикселей). В области 1 было найдено 2 зерна рокезита. Ниже представлены изображения участков, на которых они были обнаружены, а также фотографии и спектры зёрен рокезита и его окружения.

    Участок 1, область 1

    Участок 1, область 1. Красной точкой система AZtecFeature отметила центр зерна рокезита

    Зерно рокезита с участка 1 области 1

    Зерно рокезита с участка 1 области 1

    Спектр 10 

    Спектр, снятый с зерна рокезита на участке 1 области 1

    Спектр 11 

    Спектр, снятый с матрицы, окружающей зерно рокезита с участка 1 области 1

    Область 2

    119 участков сканирования, размер каждого участка 134 мкм (1024 х 1024 пикселей), обнаружено 2 зерна рокезита, ниже изображения участков с найденным рокезитом, а также фотографии и спектры зёрен рокезита и его окружения. На втором участке рокезит в окружении халькопирита, а не блёклой руды.

    Участок 1, область 2.

    Участок 1, область 2. Красной точкой система AZtecFeature отметила центр зерна рокезита (см. верхнюю центральную часть изображения)

    Зерно рокезита с участка 1 области 2

    Зерно рокезита с участка 1 области 2

    Спектр 19

    Спектр, снятый с зерна рокезита на участке 1 области 2

    Спектр 20

    Спектр, снятый с матрицы, окружающей зерно рокезита с участка 1 области 2

    Область 3

    442 участка сканирования, размер каждого участка 137 мкм (1024 х 1024 пикселей).

    Обнаружено 1 зерно рокезита.

    Участок 1, область 3

    Участок 1, область 3. Красной точкой система AZtecFeature отметила центр зерна рокезита.

    Зерно рокезита с участка 1 области 3

    Зерно рокезита с участка 1 области 3

    Спектр 17

    Спектр, снятый с зерна рокезита на участке 1 области 3

    Спектр 18

    Спектр, снятый с матрицы, окружающей зерно рокезита с участка 1 области 3

    Проведенное исследование показывает, что даже в таких «неудобных» случаях, когда яркость искомых частиц близка к яркости матрицы, окружающей эти частицы, система AZtecFeature при должной настройке способна детектировать искомые частицы, причём поиск происходит быстро (гораздо быстрее, чем в ручном режиме). Однако стоит отметить, что для настройки AZtecFeature в подобных сложных случаях необходимо заранее найти хотя бы одного представителя искомых частиц. В данной работе с помощью AZtecFeature было показано, что зерна рокезита присутствуют во всех предоставленных на исследование образцах.

    Список литературы

    Mean Atomic Number and Backscattered Electron Coefficient Calculations for Some Materials with Low Mean Atomic Number, P.G.T. Howell, K.M.W. Davy, A. Boyde.
    Назад к списку Следующая статья
    Категории
    • Все статьи и заметки19
    • Материаловедение6
    • Микроэлектроника3
    • Геология и минералогия7
    • Науки о живом3
    Это интересно
    • Детектор отраженных электронов LE-BSE для работы при низких ускоряющих напряжениях
      Детектор отраженных электронов LE-BSE для работы при низких ускоряющих напряжениях
      2 августа 2021
    • Создание широких поперечных сечений OLED-дисплеев с помощью новейшего двулучевого сканирующего электронно-ионного микроскопа TESCAN SOLARIS X
      Создание широких поперечных сечений OLED-дисплеев с помощью новейшего двулучевого сканирующего электронно-ионного микроскопа TESCAN SOLARIS X
      2 августа 2021
    Подписывайтесь на рассылку новостей:
    Оборудование
    Применение
    Новости
    Пользователи и партнеры
    Все статьи и заметки
    Материаловедение
    Микроэлектроника
    Геология и минералогия
    Науки о живом
    Записаться на демонстрационное исследование
    Сервисное обслуживание
    Лаборатория под ключ
    +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    © ООО «‎ТЕСКАН» 2023
    Разработка сайта  –