Высокотехнологичное
аналитическое 
оборудование
+ 7 812 322 58 99
Пн.-Пт. 10:00 – 18:00 (МСК)
Главная
О компании
  • История TESCAN
  • TESCAN в России и СНГ
  • Новости
  • Вакансии
  • Лицензии и сертификаты
Оборудование
  • Сканирующие электронные микроскопы
    Сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN VEGA Compact
    • TESCAN VEGA
    • TESCAN MIRA
    • TESCAN CLARA
    • TESCAN MAGNA
    • TESCAN TIMA
  • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN AMBER
    • TESCAN AMBER X
    • TESCAN SOLARIS
    • TESCAN SOLARIS X
  • Рентгеновские томографы
    Рентгеновские томографы
    • TESCAN CoreTOM
    • TESCAN DynaTOM
  • Детекторы и аксессуары TESCAN
    Детекторы и аксессуары TESCAN
    • Детекторы SE
    • Детекторы BSE
    • Детекторы In-Beam
    • Детекторы STEM
    • Детекторы CL
    • Детектор SITD
    • Аксессуары
  • Аналитические системы
    Аналитические системы
    • EDS
    • EBSD
    • WDS
    • TOF-SIMS
    • AFM
  • Сопутствующее оборудование
    Сопутствующее оборудование
    • Напылительные установки
    • Ионная полировка
    • Сушка в критической точке
    • Микромеханическая обработка
    • Системы измерения и подавления ЭМ полей
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
    • DX-2700
    • DX-27mini
  • Прочие детекторы и аксессуары
    Прочие детекторы и аксессуары
    • Столики Deben MICROTEST
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
  • Расходные материалы
    Расходные материалы
    • Электропроводящие ленты, диски, пасты
    • Столики и держатели для крепления образцов
    • Контейнеры для хранения образцов
    • Материалы для обслуживания микроскопов
    • Сетки для TEM
    • Иглы для наноманипуляторов
    • Материалы для напыления
    • Материалы для изготовления реплик
Расходные материалы
Применение
  • Академия ТЕСКАН
    • Что такое СЭМ?
    • Детекторы и аксессуары
    • Внутрикамерные детекторы
    • Внутрилинзовые детекторы
    • FIB-SEM: области и возможности применения
    • Обзор методов пробоподготовки
    • Список литературы
  • Статьи
  • Галерея изображений
  • Видеоматериалы
Новости
Календарь
Контакты
    TESCAN
    Меню  
    • Главная
    • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • EDS
        • EBSD
        • WDS
        • TOF-SIMS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    Заказать звонок
    +7 (812) 322 58 99
    TESCAN
    • Главная
    • О компании
      • Назад
      • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Назад
      • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • Назад
        • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Назад
        • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • Назад
        • Аналитические системы
        • EDS
        • EBSD
        • WDS
        • TOF-SIMS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Назад
        • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • Назад
        • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Назад
        • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Назад
        • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Назад
      • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Назад
        • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    • +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    • Вконтакте
    • YouTube
    • Главная
    • Применение
    • Статьи
    • Исследование керна с помощью сканирующего электронного микроскопа TESCAN TIMA

    Исследование керна с помощью сканирующего электронного микроскопа TESCAN TIMA

    11 декабря 2019
    // Геология и минералогия
    >> Прочесть статью в группе ВК >>

    Недавно довелось исследовать образцы керна. Целью исследования было получение данных о:

    • минеральном составе керна;
    • объёмном содержании порового пространства;
    • какими минералами сложены границы пор;
    • распределении пор по размерам.

    Исследование было проведено с помощью микроскопа TESCAN TIMA.

    Результаты исследования

    Панорама.

    Панорамное изображение отсканированной поверхности образца керна, каждый минерал кодируется своим цветом. Поры на панораме белые.


    Панорама


    Панорама образца керна, диаметр отсканированного круга 23 мм

    Здесь представлено сжатое изображение панорамы. В несжатой панораме общее количество пикселей– 44250000. Количество пикселей, приходящихся на поровое пространство – 9507361. Поровое пространство занимает 21,49% от площади шлифа. Здесь «площадь» – это видимая площадь на шлифе.

    Минеральный состав

    После завершения автоматического сканирования всей поверхности образца керна становятся известны объемные доли каждого минерала в образце. В программном обеспечении TIMA к информации об объемных долях добавляется информация o составах и плотностях обнаруженных минералов. Массовая доля каждого минерала вычисляется как объёмная доля, взвешенная с учётом разницы плотностей.

    Минеральный состав

    Минеральный состав

    Средний состав образцов

    Расчетный средний элементный состав всего образца, который определяется исходя из информации о плотностях и составах обнаруженных минералов.

    Средний состав образца

    Средний состав образца

    Распределение элементов по минералам

    Программное обеспечение TIMA позволяет выгружать данные о распределении тех или иных элементов по минералам. В качестве примера ниже представлена диаграмма, иллюстрирующая распределение железа по минералам. Если всё железо, содержащееся в образце, принять за 100% массовых, то 48% масс. железа присутствует в форме хлорита, 47% масс. железа — в форме мусковита и так далее (см. диаграмму). Можно выгрузить аналогичные распределения для других элементов.

    Распределение железа по минералам

    Распределение железа по минералам

    С какими минералами ассоциированы поры?

    Таблица ниже показывает, какая доля суммарного периметра всего порового пространства соприкасается границами с тем или иным минералом. «Периметр» – это видимый периметр поры на шлифе. При интерпретации результатов видимый на шлифе периметр пор следует воспринимать как площадь поверхности пор.


    Доля от суммарной площади поверхности пор

    Распределение пор по размерам

    Площадь поры – видимая площадь поры на шлифе. Площадь поры вычисляется как количество составляющих пору пикселей, умноженное на квадрат шага сканирования, мкм. Один шаг сканирования пучком электронов равен одному пикселю панорамы. На диаграмме ниже по оси Y отложено количество пор в определенном размерном интервале. Образец содержит большое количество мелких пор, поэтому для наглядности отображения данных по оси Y использовался логарифмический масштаб. По оси X отложены номера интервалов площадей пор. Чтобы не загромождать гистограмму, диапазоны площадей пор для первых 20-ти интервалов указаны в таблице справа.

    Распределение пор по размерам

    Распределение зерен по размерам

    Система TIMA определяет размер каждого зерна каждого минерала в образце. Размер зерен для TIMA– это видимый размер поперечного среза объекта на шлифе. Ниже в качестве примера представлена диаграмма распределения зёрен кварца по размерам. Если массу всего кварца, содержащегося в образце, принять за 100%, то диаграмма показывает, какая доля от массы кварца приходится на тот или иной размерный диапазон зёрен кварца, % масс. Можно выгрузить аналогичные распределения для других минералов.

    Распределение зёрен кварца по размерам

    Распределение зёрен кварца по размерам

    Алгоритм работы микроскопа TESCAN TIMA

    Всю площадь шлифа TIMA разбивает на поля. Столик с образцами перемещается последовательно от поля к полю. В каждом поле TIMA накапливает электронное изображение. Электронное изображение разбивается на пиксели, равные шагу сканирования электронного луча, и с каждого пикселя TIMA собирает рентгеновский спектр. Именно сбор рентгеновских спектров позволяет прибору однозначно различать зерна разных минералов. Если бы TIMA различала минералы по яркости на электронном изображении, то вероятность ошибки была бы очень высока. Существует много минералов, которые имеют похожий уровень яркости на электронных снимках, но принципиально разные состав и рентгеновский спектр. К примеру, халькопирит и пентландит имеют похожие уровни яркости. Если бы TIMA различала минералы по яркости, то сростки этих зёрен система объединила бы в одно зерно с усредненным составом. Оперируя рентгеновскими спектрами, TIMA определённо различает, что один участок частицы содержит серу, железо и медь, а другой участок – серу, железо и никель, это позволяет прибору однозначно отличить пентландит от халькопирита (см. рисунок ниже).

    Алгоритм работы микроскопа TESCAN TIMA

    Алгоритм работы микроскопа TESCAN TIMA

    Назад к списку Следующая статья
    Категории
    • Все статьи и заметки19
    • Материаловедение6
    • Микроэлектроника3
    • Геология и минералогия7
    • Науки о живом3
    Это интересно
    • Детектор отраженных электронов LE-BSE для работы при низких ускоряющих напряжениях
      Детектор отраженных электронов LE-BSE для работы при низких ускоряющих напряжениях
      2 августа 2021
    • Создание широких поперечных сечений OLED-дисплеев с помощью новейшего двулучевого сканирующего электронно-ионного микроскопа TESCAN SOLARIS X
      Создание широких поперечных сечений OLED-дисплеев с помощью новейшего двулучевого сканирующего электронно-ионного микроскопа TESCAN SOLARIS X
      2 августа 2021
    Подписывайтесь на рассылку новостей:
    Оборудование
    Применение
    Новости
    Пользователи и партнеры
    Все статьи и заметки
    Материаловедение
    Микроэлектроника
    Геология и минералогия
    Науки о живом
    Записаться на демонстрационное исследование
    Сервисное обслуживание
    Лаборатория под ключ
    +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    © ООО «‎ТЕСКАН» 2023
    Разработка сайта  –