Список литературы
Главная книга по СЭМ в русском сегменте |
|
|
|
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Гоулдстейн Дж., Джой Д., Лифшин Э., Ньюбери Д., Фиори Ч., Эчлин П. МИР, Москва, 1984 г. В двух томах. |
|
|
|
Книги РИЦ Техносфера |
|
|
|
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ Криштал М. М., Ясников И. С., Полунин В. И., Филатов А. М., Ульяненков А. Г. Техносфера, Москва, 2009 г. |
|
|
Физические принципы электронной микроскопии Эгертон Р.Ф. Техносфера, Москва, 2010 г. |
|
|
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии Рид С. Дж. Б. Техносфера, Москва, 2010 г. |
|
|
Метод дифракции отраженных электронов в области материаловедения Под ред. А.Шварца, М. Кумара, Б. Адамса, Д.Филда Техносфера, Москва, 2014 г. |
