Высокотехнологичное
аналитическое 
оборудование
+ 7 812 322 58 99
Пн.-Пт. 10:00 – 18:00 (МСК)
  • Главная
  • О компании
    • История TESCAN
    • TESCAN в России и СНГ
    • Новости
    • Вакансии
    • Лицензии и сертификаты
  • Оборудование
    • Сканирующие электронные микроскопы
      Сканирующие электронные микроскопы
      • TESCAN VEGA Compact
      • TESCAN VEGA
      • TESCAN MIRA
      • TESCAN CLARA
      • TESCAN MAGNA
      • TESCAN TIMA
    • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
      Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
      • TESCAN AMBER
      • TESCAN AMBER X
      • TESCAN SOLARIS
      • TESCAN SOLARIS X
    • Рентгеновские томографы
      Рентгеновские томографы
      • TESCAN CoreTOM
      • TESCAN DynaTOM
    • Детекторы и аксессуары TESCAN
      Детекторы и аксессуары TESCAN
      • Детекторы SE
      • Детекторы BSE
      • Детекторы In-Beam
      • Детекторы STEM
      • Детекторы CL
      • Детектор SITD
      • Аксессуары
    • Аналитические системы
      Аналитические системы
      • EDS
      • WDS
      • AFM
    • Сопутствующее оборудование
      Сопутствующее оборудование
      • Напылительные установки
      • Ионная полировка
      • Сушка в критической точке
      • Микромеханическая обработка
      • Системы измерения и подавления ЭМ полей
    • Рентгеновские дифрактометры
      Рентгеновские дифрактометры
      • DX-2700
      • DX-27mini
      • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
      • Спектрометр XAFS2300
    • Прочие детекторы и аксессуары
      Прочие детекторы и аксессуары
      • Столики Deben MICROTEST
      • Столик с нагревом GATAN Murano™
      • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
    • Расходные материалы
      Расходные материалы
      • Электропроводящие ленты, диски, пасты
      • Столики и держатели для крепления образцов
      • Контейнеры для хранения образцов
      • Материалы для обслуживания микроскопов
      • Сетки для TEM
      • Иглы для наноманипуляторов
      • Материалы для напыления
      • Материалы для изготовления реплик
  • Расходные материалы
  • Применение
    • Академия ТЕСКАН
      • Что такое СЭМ?
      • Детекторы и аксессуары
      • Внутрикамерные детекторы
      • Внутрилинзовые детекторы
      • FIB-SEM: области и возможности применения
      • Обзор методов пробоподготовки
      • Список литературы
    • Статьи
    • Галерея изображений
    • Видеоматериалы
  • Новости
  • Календарь
  • Контакты
TESCAN
Меню  
  • Главная
  • О компании
    • История TESCAN
    • TESCAN в России и СНГ
    • Новости
    • Вакансии
    • Лицензии и сертификаты
  • Оборудование
    • Сканирующие электронные микроскопы
      • TESCAN VEGA Compact
      • TESCAN VEGA
      • TESCAN MIRA
      • TESCAN CLARA
      • TESCAN MAGNA
      • TESCAN TIMA
    • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
      • TESCAN AMBER
      • TESCAN AMBER X
      • TESCAN SOLARIS
      • TESCAN SOLARIS X
    • Рентгеновские томографы
      • TESCAN CoreTOM
      • TESCAN DynaTOM
    • Детекторы и аксессуары TESCAN
      • Детекторы SE
      • Детекторы BSE
      • Детекторы In-Beam
      • Детекторы STEM
      • Детекторы CL
      • Детектор SITD
      • Аксессуары
    • Аналитические системы
      • EDS
      • WDS
      • AFM
    • Сопутствующее оборудование
      • Напылительные установки
      • Ионная полировка
      • Сушка в критической точке
      • Микромеханическая обработка
      • Системы измерения и подавления ЭМ полей
    • Рентгеновские дифрактометры
      • DX-2700
      • DX-27mini
      • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
      • Спектрометр XAFS2300
    • Прочие детекторы и аксессуары
      • Столики Deben MICROTEST
      • Столик с нагревом GATAN Murano™
      • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
    • Расходные материалы
      • Электропроводящие ленты, диски, пасты
      • Столики и держатели для крепления образцов
      • Контейнеры для хранения образцов
      • Материалы для обслуживания микроскопов
      • Сетки для TEM
      • Иглы для наноманипуляторов
      • Материалы для напыления
      • Материалы для изготовления реплик
  • Расходные материалы
  • Применение
    • Академия ТЕСКАН
      • Что такое СЭМ?
      • Детекторы и аксессуары
      • Внутрикамерные детекторы
      • Внутрилинзовые детекторы
      • FIB-SEM: области и возможности применения
      • Обзор методов пробоподготовки
      • Список литературы
    • Статьи
    • Галерея изображений
    • Видеоматериалы
  • Новости
  • Календарь
  • Контакты
Заказать звонок
+7 (812) 322 58 99
TESCAN
  • Главная
  • О компании
    • Назад
    • О компании
    • История TESCAN
    • TESCAN в России и СНГ
    • Новости
    • Вакансии
    • Лицензии и сертификаты
  • Оборудование
    • Назад
    • Оборудование
    • Сканирующие электронные микроскопы
      • Назад
      • Сканирующие электронные микроскопы
      • TESCAN VEGA Compact
      • TESCAN VEGA
      • TESCAN MIRA
      • TESCAN CLARA
      • TESCAN MAGNA
      • TESCAN TIMA
    • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
      • Назад
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
      • TESCAN AMBER
      • TESCAN AMBER X
      • TESCAN SOLARIS
      • TESCAN SOLARIS X
    • Рентгеновские томографы
      • Назад
      • Рентгеновские томографы
      • TESCAN CoreTOM
      • TESCAN DynaTOM
    • Детекторы и аксессуары TESCAN
      • Назад
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
      • Детекторы SE
      • Детекторы BSE
      • Детекторы In-Beam
      • Детекторы STEM
      • Детекторы CL
      • Детектор SITD
      • Аксессуары
    • Аналитические системы
      • Назад
      • Аналитические системы
      • EDS
      • WDS
      • AFM
    • Сопутствующее оборудование
      • Назад
      • Сопутствующее оборудование
      • Напылительные установки
      • Ионная полировка
      • Сушка в критической точке
      • Микромеханическая обработка
      • Системы измерения и подавления ЭМ полей
    • Рентгеновские дифрактометры
      • Назад
      • Рентгеновские дифрактометры
      • DX-2700
      • DX-27mini
      • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
      • Спектрометр XAFS2300
    • Прочие детекторы и аксессуары
      • Назад
      • Прочие детекторы и аксессуары
      • Столики Deben MICROTEST
      • Столик с нагревом GATAN Murano™
      • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
    • Расходные материалы
      • Назад
      • Расходные материалы
      • Электропроводящие ленты, диски, пасты
      • Столики и держатели для крепления образцов
      • Контейнеры для хранения образцов
      • Материалы для обслуживания микроскопов
      • Сетки для TEM
      • Иглы для наноманипуляторов
      • Материалы для напыления
      • Материалы для изготовления реплик
  • Расходные материалы
  • Применение
    • Назад
    • Применение
    • Академия ТЕСКАН
      • Назад
      • Академия ТЕСКАН
      • Что такое СЭМ?
      • Детекторы и аксессуары
      • Внутрикамерные детекторы
      • Внутрилинзовые детекторы
      • FIB-SEM: области и возможности применения
      • Обзор методов пробоподготовки
      • Список литературы
    • Статьи
    • Галерея изображений
    • Видеоматериалы
  • Новости
  • Календарь
  • Контакты
  • +7 (812) 322 58 99
г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
info@tescan.ru
  • Вконтакте
  • YouTube
  • Главная
  • О компании
  • TESCAN в России

TESCAN в России

TESCAN в России и странах СНГ

  • Демонстрация и продажа оборудования. Демонстрационные центры в Санкт-Петербурге и Москве
  • Пусконаладка оборудования, техническое обслуживание и сервис
  • Обучение и методическая поддержка пользователей

Брэнд TESCAN в России и странах СНГ представляет компания ООО «‎ТЕСКАН»‎. Центральный офис и демонстрационно-методический центр ООО «‎ТЕСКАН» находится в городе Санкт-Петербург, второй офис с демонстрационно-методическим центром расположен в Москве. Контакты можно найти тут: Контакты.

Компания ООО «‎ТЕСКАН» была основана зимой 2012 года и стала приемником ООО «‎Экситон Аналитик» с переходом всех сотрудников, которые занимались поставкой и поддержкой СЭМ марки TESCAN и сопутствующего оборудования, а также дистрибьюторских прав от фабрики TESCAN. До ООО «‎Экситон Аналитик» представителем марки TESCAN в России была компания ООО «Ростескан», а самым первым представителем TESCAN в России была английская фирма Uniexport Ltd.

ООО «‎ТЕСКАН» также является представителем других фабрик производителей сопутствующего для электронной микроскопии оборудования, таких как: Oxford Instruments Nanoanalysis, Technoorg Linda, Quorum Technologies, Spicer Consulting, поставщиков расходных материалов и др. Более 90% сотрудников ООО «‎ТЕСКАН» имеют высшее образование, из них 4 сотрудника кандидаты наук.

Команда технических специалистов и инженеров проходит обязательные и специализированные тренинги на фабриках производителях оборудования.

Команда специалистов по применению (application specialists) также проходит специализированное обучение на фабриках по особенностям применения оборудования. Сотрудники отдела по применению ООО «‎ТЕСКАН» регулярно участвуют в различных выставках, конференциях, организуют семинары, workshops; проводят бесплатные обучающие семинары для пользователей оборудования марки TESCAN и сопутствующего оборудования; проводят дополнительное углубленное обучение заказчиков пользованию оборудованием; создают и внедряют методики для проведения исследований.

Особенностью компании ООО «‎ТЕСКАН» является возможность полного самостоятельного сопровождения контрактов (поставки, ввода в эксплуатацию, наладки, технической и методической поддержки, обучению специалистов заказчика силами только своих сотрудников, без привлечения специалистов от производителей оборудования).

Микроскопы марки TESCAN в России эксплуатируются уже 20 лет. Кроме России компания ООО «‎ТЕСКАН» представляет марку TESCAN на территории стран СНГ, стран пост Советского пространства. СЭМ TESCAN эксплуатируются в республиках: Беларусь, Казахстан, Грузия, Киргизия, Азербайджан. Поставку оборудования в эти страны компания ООО «‎ТЕСКАН» осуществляет как напрямую, так и с привлечением компаний-партнеров для работы с национальными валютами и удобства Заказчиков.

Всего на территории России и стран СНГ эксплуатируется более 250 микроскопов марки TESCAN различных моделей, с различными приставками и комплектами поставки.


История компании ООО «‎ТЕСКАН»

2001
 
  • В Россию (г. Норильск, г. Санкт-Петербург) поставлены первые сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) CamScan/TESCAN MV2300.
2002
 
  • В Москве и Подмосковье поставлены и запущены три СЭМ модели TESCAN VEGA TS 5130 MM с системами микроанализа Oxford Instruments.
2004
 
  • Представителем марки TESCAN в России и СНГ стала компания «‎Экситон Аналитик» ООО.
2005
 
  • Первое участие ООО «‎Экситон Аналитик» в выставке «Аналитика Экспо» в Москве с СЭМ TESCAN на стенде. На всех последующих выставках «Аналитика Экспо» брэнд TESCAN был представлен микроскопом на стенде.
2006
 
  • Первые поставки СЭМ TESCAN в экпертно-криминалистические лаборатории России.
  • Число СЭМ TESCAN в России превысило 10 шт.
  • Первые микроскопы TESCAN в Республике Беларусь (2 шт.).
  • Открыт демонстрационно-методический центр TESCAN в г. Санкт-Петербург.
2007
 
  • Первый микроскоп с полевой эмиссией TESCAN MIRA в России.
  • Первый микроскоп марки TESCAN в Республике Казахстан.
  • Первый микроскоп с полевой эмиссией TESCAN MIRA в Республике Беларусь.
2010
 
  • Первый микроскоп модели TESCAN LYRA FEG с интегрированной ионной колонной (FIB-SEM) в России.
  • Количество микроскопов марки TESCAN в России и СНГ превысило 50 шт.
2011
 
  • Компания «‎Экситон Аналитик» ООО получает право использования имени TESCAN
  • TESCAN brand name promotion

2012
 
  • Количество микроскопов марки TESCAN в России и СНГ превысило 100 шт.
  • Открыт офис и демонстрационно-методический центр TESCAN в г. Москва.
2017
 
  • Первый микроскоп марки TESCAN в Грузии.
  • Первый микроскоп марки TESCAN в Азербайджане.
2018
 
  • Количество микроскопов марки TESCAN в России и СНГ превысило 200 шт. 
  • Количество микроскопов марки TESCAN в экпертно-криминалистических лабораториях России превысило 20 шт.
2019
 
  • Количество микроскопов марки TESCAN в Республике Беларусь достигло 10 шт. 
  • В демонстрационном центре СПб появился FIB-SEM TESCAN S9251G - первый микроскоп четвертого поколения TESCAN в России.
  • TESCAN S9000G


  • История TESCAN
  • TESCAN в России и СНГ
  • Новости
  • Вакансии
  • Лицензии и сертификаты
Подписывайтесь на рассылку новостей:
Оборудование
Применение
Новости
Пользователи и партнеры
Все статьи и заметки
Материаловедение
Микроэлектроника
Геология и минералогия
Науки о живом
Записаться на демонстрационное исследование
Сервисное обслуживание
Лаборатория под ключ
+7 (812) 322 58 99
г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
info@tescan.ru
© ООО «‎ТЕСКАН» 2025
Разработка сайта  –