Высокотехнологичное
аналитическое 
оборудование
+ 7 812 322 58 99
Пн.-Пт. 10:00 – 18:00 (МСК)
Главная
О компании
  • История TESCAN
  • TESCAN в России и СНГ
  • Новости
  • Вакансии
  • Лицензии и сертификаты
Оборудование
  • Сканирующие электронные микроскопы
    Сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN VEGA Compact
    • TESCAN VEGA
    • TESCAN MIRA
    • TESCAN CLARA
    • TESCAN MAGNA
    • TESCAN TIMA
  • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN AMBER
    • TESCAN AMBER X
    • TESCAN SOLARIS
    • TESCAN SOLARIS X
  • Рентгеновские томографы
    Рентгеновские томографы
    • TESCAN CoreTOM
    • TESCAN DynaTOM
  • Детекторы и аксессуары TESCAN
    Детекторы и аксессуары TESCAN
    • Детекторы SE
    • Детекторы BSE
    • Детекторы In-Beam
    • Детекторы STEM
    • Детекторы CL
    • Детектор SITD
    • Аксессуары
  • Аналитические системы
    Аналитические системы
    • EDS
    • WDS
    • AFM
  • Сопутствующее оборудование
    Сопутствующее оборудование
    • Напылительные установки
    • Ионная полировка
    • Сушка в критической точке
    • Микромеханическая обработка
    • Системы измерения и подавления ЭМ полей
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
    • DX-2700
    • DX-27mini
    • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
    • Спектрометр XAFS2300
  • Прочие детекторы и аксессуары
    Прочие детекторы и аксессуары
    • Столики Deben MICROTEST
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
  • Расходные материалы
    Расходные материалы
    • Электропроводящие ленты, диски, пасты
    • Столики и держатели для крепления образцов
    • Контейнеры для хранения образцов
    • Материалы для обслуживания микроскопов
    • Сетки для TEM
    • Иглы для наноманипуляторов
    • Материалы для напыления
    • Материалы для изготовления реплик
Расходные материалы
Применение
  • Академия ТЕСКАН
    • Что такое СЭМ?
    • Детекторы и аксессуары
    • Внутрикамерные детекторы
    • Внутрилинзовые детекторы
    • FIB-SEM: области и возможности применения
    • Обзор методов пробоподготовки
    • Список литературы
  • Статьи
  • Галерея изображений
  • Видеоматериалы
Новости
Календарь
Контакты
    TESCAN
    Меню  
    • Главная
    • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    Заказать звонок
    +7 (812) 322 58 99
    TESCAN
    • Главная
    • О компании
      • Назад
      • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Назад
      • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • Назад
        • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Назад
        • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • Назад
        • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Назад
        • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • Назад
        • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Назад
        • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Назад
        • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Назад
      • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Назад
        • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    • +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    • Вконтакте
    • YouTube
    • Главная
    • Оборудование
    • Сопутствующее оборудование
    • Системы измерения и подавления ЭМ полей
    • SC11/Basic/USB
    • SC11/Basic/USB

    SC11/Basic/USB

    • Описание
    • Характеристики
    • ПО
    • Фото
    • Документы
    Описание

    Система SC11/Basic/USB для измерения электромагнитных полей, вибрации и акустических шумов в помещениях.

    Система SC11/Basic/USB — это комплект оборудования для исследования параметров окружающей среды в помещении, где планируется установка электронного микроскопа. Система позволяет проводить измерения электромагнитных полей в месте будущей установки микроскопа, вибрации пола, а также измерять уровень акустического шума.

    Базовая система включает трёхосевой датчик переменного магнитного поля AC, акселерометр и измеритель уровня звука. Опционально к системе может быть добавлен одноосевой магнитометр для измерения изменения  постоянного магнитного поля DC.

    С системой поставляется комплект программного обеспечения, состоящий из трех инструментов – анализатор спектра Spectrum Analyser, диаграммный самописец Chart Recorder и осциллограф Oscilloscope. И, в дополнение, имеется программа SCPlot для построения графиков ранее накопленных измерений. 

    Система позволяет накапливать данные, проводить их обработку и анализ при помощи программного обеспечения, устанавливаемого на ноутбук. Ноутбук может быть как личным компьютером заказчика, так и поставляться вместе с системой SC11 опционально. 

    Система SC11/Basic/USB поставляется в специальном ударопрочном кейсе.


    >> Подробнее про работу систем подавления ЭМ-полей >>


    Характеристики
    Упаковка
    • Кейс: 58 x 36 x 19 см.
    • Масса: 11 кг включая ноутбук (опция).
    Требования к ПК
    • Процессор не хуже 2.53GHz Dual Core Pentium 
    • RAM 2GB.
    • HDD 120GB.
    • CD/DVD 
    • Операционная система Windows 7 и более современная.
    Основной датчик системы: Сенсор переменного магнитного поля: SC11/Basic AC

    Magnetic field sensor

    • Одновременное измерение: X, Y, Z .
    • Полоса пропускания: 1 Hz - 20 kHz.
    • Динамический диапазон: 80 mG (8 µT) Pk-Pk.
    • Предел шума: 3 µG RMS max.
    • Точность: ±1 %
    • Входы:
    • VIBR – одноосевой сенсор вибрации – акселерометр Wilcoxon 731A.
    • AUX BNC – вход напряжения, DC двойной, диапазон ±10 V, входное сопротивление 100 kΩ.
    • Фильтры сглаживания 20kHz.
    Сенсор вибрации - акселерометр: Wilcoxon 731A

    Wilcoxon 731A accelerometer

    • Тип: Wilcoxon Research, модель 731A
    • Полоса пропускания: 0.1 - 500 Hz
    • Динамический диапазон: 2 m/s2 (0.2 g’s*) Pk-Pk (для этой системы)
    • Пределы шума: 
    • 7 µm/s2 RMS max. 
    • 0.35 µm/s RMS при 1Hz, 
    • 0.11 µm/s RMS при  5Hz, 
    • 0.07 µm RMS при 1Hz, 
    • 0.0035 µm RMS при 5Hz
    • Точность:  ±5 % (с файлом калибровки усиления)
    Измеритель уровня акустического шума

    Sound level meter

    • Тип: Radio Shack, модель 33-4050.
    • Полоса пропускания: 32 Hz - 20 kHz, единицы измерения dBA и dBC.
    • Динамический диапазон: 126 dB.
    • Предел шума: 50 dB.
    • Точность: ±2 dB при 114 dB уровня шума.
    • Отклик: Быстрый и Медленный.
    • Выходной сигнал: 1.0 V пик в разомкнутой цепи с отклонением измерителя полной шкалы на частоте 1 kHz.
    • Сопротивление нагрузки: 10 kΩmin.
    • Искажение: < 2 % at 1 kHz и 0.5 V.
    Одноосевой сенсор магнитного поля: феррозондовый магнитометр

    MEDA μMAG-01N magnetometer

    • Тип: MEDA μMAG-01N феррозондовый магнитометр.
    • Полоса пропускания: 0 - 400 Hz.
    • Диапазоны: ±20.00, ±200.0, ±2000 mG полная шкала.
    • Точность: ±0.5% от полной шкалы.
    • Линейность: ±0.05% от полной шкалы.
    • Выходной сигнал: ±2 V от полной шкалы.
    В связи с непрерывной работой по улучшению продукции компания Spicer Consulting оставляет за собой право изменять приведённые выше характеристики.
    ПО

    Программное обеспечение системы SC11, идущее в поставке с каждой системой, устанавливается как на личный ноутбук пользователя, так и может быть предустановленным на ноутбуке, опционально идущем в комплекте поставки.

    В программное обеспечение входят следующие модули:
    • Осциллограф (Oscilloscope). Измерение и анализ входящих сигналов с внешних датчиков системы. 
    • Анализатор Спектра (Specrtum Analyser). Анализ измеренных параметров уровней вибрации, акустического шума и асинхронных составляющих переменного электромагнитного поля
    • Диаграммный самописец (Chart Recorder). Долговременное накопление данных, построение временных зависимостей изменения параметров окружающей среды с последующим анализом полученных данных.
    В дополнение в каждом пакете ПО имеется программа SCPlot для построения графиков и диаграмм ранее накопленных и сохраненных измерений.
    Фото
    • SC11/Basic/USB
    • SC11/Basic/USB
    • SC11/Basic/USB
    • SC11/Basic/USB
    • SC11/Basic/USB
    • SC11/Basic/USB
    Документы
    SC11-Compact product guide
    2.4 Мб

    Поделиться
    Назад к списку
    Подписывайтесь на рассылку новостей:
    Оборудование
    Применение
    Новости
    Пользователи и партнеры
    Все статьи и заметки
    Материаловедение
    Микроэлектроника
    Геология и минералогия
    Науки о живом
    Записаться на демонстрационное исследование
    Сервисное обслуживание
    Лаборатория под ключ
    +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    © ООО «‎ТЕСКАН» 2025
    Разработка сайта  –