Оборудование

Производительный аналитический сканирующий электронный микроскоп начального уровня

Для рутинных исследовательских задач и контроля качества на микроуровне

Для широкого круга исследовательских задач и контроля качества на субмикронном уровне.

Ультравысокое разрешение без использования иммерсионной оптики для исследовательских задач на наноуровне

Сверхвысокое разрешение с иммерсионной оптикой TriLens™ для исследований наноматериалов

Автоматизированный минералогический анализ