Высокотехнологичное
аналитическое 
оборудование
+ 7 812 322 58 99
Пн.-Пт. 10:00 – 18:00 (МСК)
Главная
О компании
  • История TESCAN
  • TESCAN в России и СНГ
  • Новости
  • Вакансии
  • Лицензии и сертификаты
Оборудование
  • Сканирующие электронные микроскопы
    Сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN VEGA Compact
    • TESCAN VEGA
    • TESCAN MIRA
    • TESCAN CLARA
    • TESCAN MAGNA
    • TESCAN TIMA
  • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN AMBER
    • TESCAN AMBER X
    • TESCAN SOLARIS
    • TESCAN SOLARIS X
  • Рентгеновские томографы
    Рентгеновские томографы
    • TESCAN CoreTOM
    • TESCAN DynaTOM
  • Детекторы и аксессуары TESCAN
    Детекторы и аксессуары TESCAN
    • Детекторы SE
    • Детекторы BSE
    • Детекторы In-Beam
    • Детекторы STEM
    • Детекторы CL
    • Детектор SITD
    • Аксессуары
  • Аналитические системы
    Аналитические системы
    • EDS
    • WDS
    • AFM
  • Сопутствующее оборудование
    Сопутствующее оборудование
    • Напылительные установки
    • Ионная полировка
    • Сушка в критической точке
    • Микромеханическая обработка
    • Системы измерения и подавления ЭМ полей
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
    • DX-2700
    • DX-27mini
    • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
    • Спектрометр XAFS2300
  • Прочие детекторы и аксессуары
    Прочие детекторы и аксессуары
    • Столики Deben MICROTEST
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
  • Расходные материалы
    Расходные материалы
    • Электропроводящие ленты, диски, пасты
    • Столики и держатели для крепления образцов
    • Контейнеры для хранения образцов
    • Материалы для обслуживания микроскопов
    • Сетки для TEM
    • Иглы для наноманипуляторов
    • Материалы для напыления
    • Материалы для изготовления реплик
Расходные материалы
Применение
  • Академия ТЕСКАН
    • Что такое СЭМ?
    • Детекторы и аксессуары
    • Внутрикамерные детекторы
    • Внутрилинзовые детекторы
    • FIB-SEM: области и возможности применения
    • Обзор методов пробоподготовки
    • Список литературы
  • Статьи
  • Галерея изображений
  • Видеоматериалы
Новости
Календарь
Контакты
    TESCAN
    Меню  
    • Главная
    • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    Заказать звонок
    +7 (812) 322 58 99
    TESCAN
    • Главная
    • О компании
      • Назад
      • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Назад
      • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • Назад
        • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Назад
        • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • Назад
        • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Назад
        • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • Назад
        • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Назад
        • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Назад
        • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Назад
      • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Назад
        • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    • +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    • Вконтакте
    • YouTube
    • Главная
    • Оборудование
    • Сопутствующее оборудование
    • Системы измерения и подавления ЭМ полей
    • SC26
    • SC26

    SC26

    • Описание
    • Характеристики
    • Фото
    • Документы
    Описание

    Система подавления переменных электромагнитных полей SC26

    Система SC26 служит для подавления внешних электромагнитных полей в диапазоне частот от постоянного DC-поля до 9 кГц и более. Для обеспечения такой ширины диапазона SC26 обладает расширенной полосой пропускания благодаря кабелям с малой индуктивностью, размещаемым либо непосредственно на раме корпуса прибора с электронно-лучевой системой, либо на металлической рамке вокруг электронных колонн таких устройств как электронно-лучевой литограф или электронный микроскоп.

    !!! Систему SC26 нельзя устанавливать в варианте «комнатной» установки с размещением контуров кабелей на стенах помещения, так как в этом случае используются кабеля большого сечения с, соответственно, индуктивностью большей, чем необходимая для обеспечения требуемой ширины полосы пропускания.

    Такие высокочастотные поля могут наблюдаться на фабриках, выпускающих микроэлектронные устройства. Источник переменных 9 кГц полей - транспортные роботы для переноса полупроводниковых пластин 300-мм. Данный тип помех значительно ограничивает возможности электронно-лучевого литографа или микроскопа, оснащенного данной опцией – не позволяет достичь необходимой точности при перемещении электронного пучка к следующему узлу на пластине.

    Система SC26 обеспечивает стабильную и качественную работу электронно-лучевого оборудования на фабриках, производящих микроэлектронные устройства.

    Основные особенности:

    • Эффективно подавляет внешние электромагнитные поля в области установки электронно-лучевого оборудования на фабриках по производству микроэлектронных устройств;
    • Непрерывное широкополосное подавление внешних электромагнитных полей в реальном времени в диапазоне частот от постоянного DC-поля до 9 кГц;
    • Система адаптируется к изменению амплитуды и частоты электромагнитного поля с высокой скоростью отклика – в пределах 10 мкс, что позволяет обеспечить непрерывность и стабильность подавления электромагнитных полей;
    • Сенсорный экран с интуитивно понятным пользовательским интерфейсом, полностью автоматическая настройка системы и возможность сброса измеренных значений DC-поля;
    • Одновременное отображение текущих значений полей AC и DC на экране в Тл или Гс;
    • Смешивание сигналов от двух однотипных датчиков для создания так называемого виртуального датчика внутри электронной колонны;
    • Встроенный генератор тестового поля;
    • Порты Ethernet и USB для обеспечения подключений для удаленного контроля и мониторинга электромагнитных полей.

    Стандартная комплектация:

    • Электронный блок управления SC26;
    • Датчик SC26 / AC (в количестве от 1 до 2);
    • Датчик SC24 / DC + AC (в количестве от 1 до 2);
    • Объединитель сигналов от двух типов датчиков SC26 combiner (в количестве от 1 до 2);
    • Три многожильных кабеля (катушки Гельмгольца) в вариантах длин для одно- и двухконтурного размещения;
    • Рамка для размещения кабелей контуров вокруг электронной колонны (при необходимости);
    • Набор принадлежностей для крепления кабелей.

    В системе SC26 используются следующие датчики для измерения значений магнитных полей:

    • Датчик SC26 / AC – 200 кГц трёхосевой датчик переменного магнитного поля (синего цвета). Он обеспечивает эффективное подавление полей частотой до 10 Гц. 
    • Датчик SC24 / DC + AC – датчик постоянного DC-поля, комбинированный с трёхосевым датчиком переменного магнитного поля 50/60 Гц (черного цвета).
    Возможно использование одновременно до четырёх датчиков – по 2 каждого типа.

    >> Подробнее про работу систем подавления ЭМ-полей >>

    Характеристики
    ЕДИНИЦЫ ИЗМЕРЕНИЯ ПОЛЕЙ: мГс, нТл, мкТл – по желанию пользователя
    ПОДАВЛЕНИЕ ПОЛЕЙ
    Координаты: X, Y, Z картезианской системы координат
    Подавляемые компоненты Электромагнитные поля по осям X, Y, Z
    Динамический диапазон (X и Y) 5 мкТл pk-pk
         1. Для комплектов: а) с одним датчиком SC26/AC; б) с двумя датчиками SC26/AC
               Фактор подавления поля 20 крат при 9 кГц
    40 крат при 60 Гц
               Предел шума (в диапазоне от 1 Гц до 10 кГц) 0.6 нТл RMS
         2. Для комплектов: а) с датчиками SC26/AC и SC24/DC+AC; б) с двумя датчиками SC26/AC и двумя датчиками SC24/DC+AC
               Предел внешнего постоянного DC-поля макс. ± 200 мкТл
               Фактор подавления поля 20 крат при 9 кГц
    200 крат при 60 Гц и DC
               Диапазон частот постоянное магнитное поле – 5000 Гц
               Предел шума (в диапазоне от постоянного DC-поля до 10 кГц) 0.7 нТл RMS
               Дрейф постоянного DC-поля < 2 нТл/24 часа
    ИЗМЕРЕНИЕ ПОЛЕЙ
    Режимы: в реальном времени
    AC RMS или pk-pk
    инкрементальный DC
    Отображение LCD тачскрин
    Динамический диапазон датчика 4.2 мкТл pk-pk
    Точность ± 1% считывания ± 1 нТл
    Значения на выходах X, Y, Z в режиме реального времени
    Шкала 10 В/мкТл (1 В/мГс)
    Диапазон ± 12 В
    Сопротивление источника 2.7 кОм
    Коннекторы 3 BNC
    Пропускная способность 25 Гц – 60 кГц (Для комплектов: а) с одним датчиком SC26/AC; б) с двумя датчиками SC26/AC)
    DC – 60 Гц (Для комплектов: а) с датчиками SC26/AC и SC24/DC+AC; б) с двумя датчиками SC26/AC и двумя датчиками SC24/DC+AC)
    ГЕНЕРАТОР ТЕСТОВОГО ПОЛЯ
    Синусоидальная волна Частота сети переменного тока (50/60 Гц) - линия заблокирована
    Квадратная волна 1, 2, 5, 10, 20, 50, 100, 200, 500, 1000, 2000, 5000, 9000 Гц
    ПИТАНИЕ 120/240 В 50/60 Гц, 100 ВА

    Фото
    • SC26
    • SC26
    • SC26
    • SC26
    Документы
    SC26 product guide
    1.8 Мб

    Поделиться
    Назад к списку
    Подписывайтесь на рассылку новостей:
    Оборудование
    Применение
    Новости
    Пользователи и партнеры
    Все статьи и заметки
    Материаловедение
    Микроэлектроника
    Геология и минералогия
    Науки о живом
    Записаться на демонстрационное исследование
    Сервисное обслуживание
    Лаборатория под ключ
    +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    © ООО «‎ТЕСКАН» 2025
    Разработка сайта  –