Высокотехнологичное
аналитическое 
оборудование
+ 7 812 322 58 99
Пн.-Пт. 10:00 – 18:00 (МСК)
  • Главная
  • О компании
    • История TESCAN
    • TESCAN в России и СНГ
    • Новости
    • Вакансии
    • Лицензии и сертификаты
  • Оборудование
    • Сканирующие электронные микроскопы
      Сканирующие электронные микроскопы
      • TESCAN VEGA Compact
      • TESCAN VEGA
      • TESCAN MIRA
      • TESCAN CLARA
      • TESCAN MAGNA
      • TESCAN TIMA
    • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
      Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
      • TESCAN AMBER
      • TESCAN AMBER X
      • TESCAN SOLARIS
      • TESCAN SOLARIS X
    • Рентгеновские томографы
      Рентгеновские томографы
      • TESCAN CoreTOM
      • TESCAN DynaTOM
    • Детекторы и аксессуары TESCAN
      Детекторы и аксессуары TESCAN
      • Детекторы SE
      • Детекторы BSE
      • Детекторы In-Beam
      • Детекторы STEM
      • Детекторы CL
      • Детектор SITD
      • Аксессуары
    • Аналитические системы
      Аналитические системы
      • EDS
      • WDS
      • AFM
    • Сопутствующее оборудование
      Сопутствующее оборудование
      • Напылительные установки
      • Ионная полировка
      • Сушка в критической точке
      • Микромеханическая обработка
      • Системы измерения и подавления ЭМ полей
    • Рентгеновские дифрактометры
      Рентгеновские дифрактометры
      • DX-2700
      • DX-27mini
      • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
      • Спектрометр XAFS2300
    • Прочие детекторы и аксессуары
      Прочие детекторы и аксессуары
      • Столики Deben MICROTEST
      • Столик с нагревом GATAN Murano™
      • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
    • Расходные материалы
      Расходные материалы
      • Электропроводящие ленты, диски, пасты
      • Столики и держатели для крепления образцов
      • Контейнеры для хранения образцов
      • Материалы для обслуживания микроскопов
      • Сетки для TEM
      • Иглы для наноманипуляторов
      • Материалы для напыления
      • Материалы для изготовления реплик
  • Расходные материалы
  • Применение
    • Академия ТЕСКАН
      • Что такое СЭМ?
      • Детекторы и аксессуары
      • Внутрикамерные детекторы
      • Внутрилинзовые детекторы
      • FIB-SEM: области и возможности применения
      • Обзор методов пробоподготовки
      • Список литературы
    • Статьи
    • Галерея изображений
    • Видеоматериалы
  • Новости
  • Календарь
  • Контакты
TESCAN
Меню  
  • Главная
  • О компании
    • История TESCAN
    • TESCAN в России и СНГ
    • Новости
    • Вакансии
    • Лицензии и сертификаты
  • Оборудование
    • Сканирующие электронные микроскопы
      • TESCAN VEGA Compact
      • TESCAN VEGA
      • TESCAN MIRA
      • TESCAN CLARA
      • TESCAN MAGNA
      • TESCAN TIMA
    • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
      • TESCAN AMBER
      • TESCAN AMBER X
      • TESCAN SOLARIS
      • TESCAN SOLARIS X
    • Рентгеновские томографы
      • TESCAN CoreTOM
      • TESCAN DynaTOM
    • Детекторы и аксессуары TESCAN
      • Детекторы SE
      • Детекторы BSE
      • Детекторы In-Beam
      • Детекторы STEM
      • Детекторы CL
      • Детектор SITD
      • Аксессуары
    • Аналитические системы
      • EDS
      • WDS
      • AFM
    • Сопутствующее оборудование
      • Напылительные установки
      • Ионная полировка
      • Сушка в критической точке
      • Микромеханическая обработка
      • Системы измерения и подавления ЭМ полей
    • Рентгеновские дифрактометры
      • DX-2700
      • DX-27mini
      • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
      • Спектрометр XAFS2300
    • Прочие детекторы и аксессуары
      • Столики Deben MICROTEST
      • Столик с нагревом GATAN Murano™
      • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
    • Расходные материалы
      • Электропроводящие ленты, диски, пасты
      • Столики и держатели для крепления образцов
      • Контейнеры для хранения образцов
      • Материалы для обслуживания микроскопов
      • Сетки для TEM
      • Иглы для наноманипуляторов
      • Материалы для напыления
      • Материалы для изготовления реплик
  • Расходные материалы
  • Применение
    • Академия ТЕСКАН
      • Что такое СЭМ?
      • Детекторы и аксессуары
      • Внутрикамерные детекторы
      • Внутрилинзовые детекторы
      • FIB-SEM: области и возможности применения
      • Обзор методов пробоподготовки
      • Список литературы
    • Статьи
    • Галерея изображений
    • Видеоматериалы
  • Новости
  • Календарь
  • Контакты
Заказать звонок
+7 (812) 322 58 99
TESCAN
  • Главная
  • О компании
    • Назад
    • О компании
    • История TESCAN
    • TESCAN в России и СНГ
    • Новости
    • Вакансии
    • Лицензии и сертификаты
  • Оборудование
    • Назад
    • Оборудование
    • Сканирующие электронные микроскопы
      • Назад
      • Сканирующие электронные микроскопы
      • TESCAN VEGA Compact
      • TESCAN VEGA
      • TESCAN MIRA
      • TESCAN CLARA
      • TESCAN MAGNA
      • TESCAN TIMA
    • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
      • Назад
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
      • TESCAN AMBER
      • TESCAN AMBER X
      • TESCAN SOLARIS
      • TESCAN SOLARIS X
    • Рентгеновские томографы
      • Назад
      • Рентгеновские томографы
      • TESCAN CoreTOM
      • TESCAN DynaTOM
    • Детекторы и аксессуары TESCAN
      • Назад
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
      • Детекторы SE
      • Детекторы BSE
      • Детекторы In-Beam
      • Детекторы STEM
      • Детекторы CL
      • Детектор SITD
      • Аксессуары
    • Аналитические системы
      • Назад
      • Аналитические системы
      • EDS
      • WDS
      • AFM
    • Сопутствующее оборудование
      • Назад
      • Сопутствующее оборудование
      • Напылительные установки
      • Ионная полировка
      • Сушка в критической точке
      • Микромеханическая обработка
      • Системы измерения и подавления ЭМ полей
    • Рентгеновские дифрактометры
      • Назад
      • Рентгеновские дифрактометры
      • DX-2700
      • DX-27mini
      • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
      • Спектрометр XAFS2300
    • Прочие детекторы и аксессуары
      • Назад
      • Прочие детекторы и аксессуары
      • Столики Deben MICROTEST
      • Столик с нагревом GATAN Murano™
      • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
    • Расходные материалы
      • Назад
      • Расходные материалы
      • Электропроводящие ленты, диски, пасты
      • Столики и держатели для крепления образцов
      • Контейнеры для хранения образцов
      • Материалы для обслуживания микроскопов
      • Сетки для TEM
      • Иглы для наноманипуляторов
      • Материалы для напыления
      • Материалы для изготовления реплик
  • Расходные материалы
  • Применение
    • Назад
    • Применение
    • Академия ТЕСКАН
      • Назад
      • Академия ТЕСКАН
      • Что такое СЭМ?
      • Детекторы и аксессуары
      • Внутрикамерные детекторы
      • Внутрилинзовые детекторы
      • FIB-SEM: области и возможности применения
      • Обзор методов пробоподготовки
      • Список литературы
    • Статьи
    • Галерея изображений
    • Видеоматериалы
  • Новости
  • Календарь
  • Контакты
  • +7 (812) 322 58 99
г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
info@tescan.ru
  • Вконтакте
  • YouTube
  • Главная

Компания «Айтекс»

Подписывайтесь на рассылку новостей:
Оборудование
Применение
Новости
Пользователи и партнеры
Все статьи и заметки
Материаловедение
Микроэлектроника
Геология и минералогия
Науки о живом
Записаться на демонстрационное исследование
Сервисное обслуживание
Лаборатория под ключ
+7 (812) 322 58 99
г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
info@tescan.ru
© ООО «‎ТЕСКАН» 2025
Разработка сайта  –