Высокотехнологичное
аналитическое 
оборудование
+ 7 812 322 58 99
Пн.-Пт. 10:00 – 18:00 (МСК)
Главная
О компании
  • История TESCAN
  • TESCAN в России и СНГ
  • Новости
  • Вакансии
  • Лицензии и сертификаты
Оборудование
  • Сканирующие электронные микроскопы
    Сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN VEGA Compact
    • TESCAN VEGA
    • TESCAN MIRA
    • TESCAN CLARA
    • TESCAN MAGNA
    • TESCAN TIMA
  • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN AMBER
    • TESCAN AMBER X
    • TESCAN SOLARIS
    • TESCAN SOLARIS X
  • Рентгеновские томографы
    Рентгеновские томографы
    • TESCAN CoreTOM
    • TESCAN DynaTOM
  • Детекторы и аксессуары TESCAN
    Детекторы и аксессуары TESCAN
    • Детекторы SE
    • Детекторы BSE
    • Детекторы In-Beam
    • Детекторы STEM
    • Детекторы CL
    • Детектор SITD
    • Аксессуары
  • Аналитические системы
    Аналитические системы
    • EDS
    • WDS
    • AFM
  • Сопутствующее оборудование
    Сопутствующее оборудование
    • Напылительные установки
    • Ионная полировка
    • Сушка в критической точке
    • Микромеханическая обработка
    • Системы измерения и подавления ЭМ полей
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
    • DX-2700
    • DX-27mini
    • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
    • Спектрометр XAFS2300
  • Прочие детекторы и аксессуары
    Прочие детекторы и аксессуары
    • Столики Deben MICROTEST
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
  • Расходные материалы
    Расходные материалы
    • Электропроводящие ленты, диски, пасты
    • Столики и держатели для крепления образцов
    • Контейнеры для хранения образцов
    • Материалы для обслуживания микроскопов
    • Сетки для TEM
    • Иглы для наноманипуляторов
    • Материалы для напыления
    • Материалы для изготовления реплик
Расходные материалы
Применение
  • Академия ТЕСКАН
    • Что такое СЭМ?
    • Детекторы и аксессуары
    • Внутрикамерные детекторы
    • Внутрилинзовые детекторы
    • FIB-SEM: области и возможности применения
    • Обзор методов пробоподготовки
    • Список литературы
  • Статьи
  • Галерея изображений
  • Видеоматериалы
Новости
Календарь
Контакты
    TESCAN
    Меню  
    • Главная
    • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    Заказать звонок
    +7 (812) 322 58 99
    TESCAN
    • Главная
    • О компании
      • Назад
      • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Назад
      • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • Назад
        • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Назад
        • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • Назад
        • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Назад
        • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • Назад
        • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Назад
        • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Назад
        • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Назад
      • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Назад
        • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    • +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    • Вконтакте
    • YouTube
    • Главная
    • Оборудование
    • Рентгеновские дифрактометры
    • DX-2700
    • DX-2700

    DX-2700

    • Описание
    • Характеристики
    • ПО
    • Аксессуары
    • Фото
    • Документы
    Описание

    Универсальный рентгеновский дифрактометр DX-2700

    Разработанный для материаловедения и анализа промышленных продуктов, он идеально сочетает в себе рутинный анализ и специальные исследования. Может анализировать образцы различной природы (металлы, композиты, неорганические и органические материалы, наноматериалы, сверхпроводники) и в различном состоянии (порошки, массивные образцы, тонкие пленки, микрообразцы). Прибор широко используется при анализе глинистых минералов, цементных строительных материалах, объектов окружающей среды, пыли, продуктов химических производств, фармацевтических препаратов, асбеста, руд и горных пород, полимеров и др.

    Прибор изготовлен с использованием самых передовых технологий, а точность гониометра соответствует современным мировым стандартам. Источник и детектор рентгеновского излучения работают стабильно в течение длительного времени, обеспечивая точность положения дифракционного пика, формы пика и измерения интенсивности. Прибор предназначен для высокопроизводительного качественного и количественного фазового анализа что обеспечивается, высокостабильным рентгеновским генератором, высокоточным гониометром, быстрым и надёжным детектором (можно выбрать отпаянный пропорциональный детектор, полупроводниковый детектор высокого разрешения SDD, или высокопроизводительный линейный полупроводниковый матричный детектор), проверенным программным обеспечением для обработки данных, и т. д.

    Решаемые задачи

    • Идентификация фаз в неизвестных образцах;
    • Количественный анализ известных фаз в смешанных образцах;
    • Анализ Ритвельда;
    • Анализ изменений структуры при нестандартных условиях (высокая и низкая температура);
    • Идентификация фаз в тонкопленочных образцах, определение толщины многослойной пленки, анализ плотности;
    • Анализ текстуры и остаточных напряжений.

    Ключевые характеристики

    • Высокочастотный высоковольтный рентгеновский генератор не только улучшает стабильность прибора, но и обеспечивает повторяемость измеренных данных.
    • Передовая металлокерамическая рентгеновская трубка собственного производства, обеспечивает длительный срок службы.
    • Плечи гониометра приводятся в действие серводвигателем с фотоэлектрическим энкодером. Погрешность измерения угла во всём диапазоне значений менее 0,02°.
    • Дополнительные приспособления расширяют область применения: высокотемпературная и низкотемпературная камеры, держатель для анализа текстур подключаются по принципу "plug and play", что обеспечивают автоматическую идентификацию устройств и последующее управление ими программой дифрактометра.
    • Безусловная защита от рентгеновского излучения, включающая автоматическую блокировку дверцы дифрактометра при проведении измерений.
    • Универсальное программное обеспечение для обработки данных позволяет обрабатывать результаты съёмки, полученные на дифрактометрах различных производителей.
    • Полнота результатов: определение фазового состава, оценка размера зерна, степени кристалличности, содержания аустенита, определение параметров элементарной ячейки, расчет остаточных напряжений, индексация дифракционных линий, исследования в скользящем пучке (определение структуры тонкопленочных материалов, анализ размера частиц).
    Характеристики
    Мощность Твердотельный рентгеновский генератор, 3 кВт
    Напряжение 10 - 60 кВ
    Ток 5 - 50 мА
    Стабильность напряжения и тока <0,005%
    Рентгеновская трубка с керамическим изолятором материал анода - Cu, Fe, Cr, Mo и др.; фокус: 1 x 10 мм2 (настраиваемый); замкнутый контур водяного охлаждения;
    Гониометр:  вертикальный, θs-θd
    Измерительный радиус:  185 мм (настраиваемый: 150 - 285 мм)
    Режимы сканирования: синхронный, кривая качания, скользящий пучок.
    Диапазон измерений:
    -6° (опционально -110°) ~ 160°
    Минимальный угол шага:
    0,0001°
    Воспроизводимость угла: 0,0001°
    Точность измерения угла дифракции: <0,02°(на стандартном образце, во всем диапазоне измерений)
    Скорость углового позиционирования 1500°/мин
    Скорость сканирования 0,0012° ~ 50° /мин
    Детектор:
    Пропорциональный
    макс. скорость линейного счета 5×105 имп/с; энергетическое разрешение ≤ 25%
    SDD-детектор
    макс. скорость линейного счета 1,5×105 имп/с; энергетическое разрешение <187 эВ
    Полупроводниковый матричный
    макс. скорость линейного счета 9×107 имп/с; энергетическое разрешение ≤ 1 кэВ
    Радиационный фон: ≤1 мкЗв/ч (на поверхности корпуса прибора)
    Долговременная стабильность:  ≤0,5%
    Размеры:
    1120×950×1800 (Ш×Г×В) мм



    ПО

    Программное обеспечение XRD Control

    Работает в 64-битной Windows 10, автоматически управляет режимами работы рентгеновского дифрактометра; накапливает данные дифракции и экспортирует их в формате ASC. Обработка файла данных включает в себя: автоматическое обнаружение пика, ручное обнаружение пика, вычисление его интегральной интенсивности, высоты, центра тяжести, вычитание фона, сглаживание, наложение дифрактограмм, вычисление полувысоты пика, печать спектра.
    Аксессуары

    Дополнительные устройства

    Основные функции рентгеновского дифрактометра можно значительно расширить с помощью дополнительных приставок. Высокоточное механическое производство обеспечивают высокую воспроизводимость положения при повторной установке приставки. Программное обеспечение может автоматически идентифицировать соответствующее приспособление без необходимости калибровки оптического пути, поэтому может быть реализована технология plug-and-play.

    Водоохлаждаемая камера для высокотемпературных исследований структуры образцов в атмосфере инертного газа от комнатной температуры до +1600 ºС



    Камера для температурных исследований структуры образцов:

    • в атмосфере инертного газа от комнатной температуры до +400 ºС
    • в вакууме от -193 до +400 ºС (охлаждение жидким азотом)


    Шестипозиционный сменщик образцов  



    Держатель образца для исследования текстур


    Фото
    • DX-2700
    • DX-2700
    • DX-2700
    • DX-2700
    • DX-2700
    • DX-2700
    Документы
    2700 RU
    6 Мб

    Поделиться
    Назад к списку
    Подписывайтесь на рассылку новостей:
    Оборудование
    Применение
    Новости
    Пользователи и партнеры
    Все статьи и заметки
    Материаловедение
    Микроэлектроника
    Геология и минералогия
    Науки о живом
    Записаться на демонстрационное исследование
    Сервисное обслуживание
    Лаборатория под ключ
    +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    © ООО «‎ТЕСКАН» 2025
    Разработка сайта  –