Высокотехнологичное
аналитическое 
оборудование
+ 7 812 322 58 99
Пн.-Пт. 10:00 – 18:00 (МСК)
Главная
О компании
  • История TESCAN
  • TESCAN в России и СНГ
  • Новости
  • Вакансии
  • Лицензии и сертификаты
Оборудование
  • Сканирующие электронные микроскопы
    Сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN VEGA Compact
    • TESCAN VEGA
    • TESCAN MIRA
    • TESCAN CLARA
    • TESCAN MAGNA
    • TESCAN TIMA
  • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN AMBER
    • TESCAN AMBER X
    • TESCAN SOLARIS
    • TESCAN SOLARIS X
  • Рентгеновские томографы
    Рентгеновские томографы
    • TESCAN CoreTOM
    • TESCAN DynaTOM
  • Детекторы и аксессуары TESCAN
    Детекторы и аксессуары TESCAN
    • Детекторы SE
    • Детекторы BSE
    • Детекторы In-Beam
    • Детекторы STEM
    • Детекторы CL
    • Детектор SITD
    • Аксессуары
  • Аналитические системы
    Аналитические системы
    • EDS
    • WDS
    • AFM
  • Сопутствующее оборудование
    Сопутствующее оборудование
    • Напылительные установки
    • Ионная полировка
    • Сушка в критической точке
    • Микромеханическая обработка
    • Системы измерения и подавления ЭМ полей
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
    • DX-2700
    • DX-27mini
    • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
    • Спектрометр XAFS2300
  • Прочие детекторы и аксессуары
    Прочие детекторы и аксессуары
    • Столики Deben MICROTEST
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
  • Расходные материалы
    Расходные материалы
    • Электропроводящие ленты, диски, пасты
    • Столики и держатели для крепления образцов
    • Контейнеры для хранения образцов
    • Материалы для обслуживания микроскопов
    • Сетки для TEM
    • Иглы для наноманипуляторов
    • Материалы для напыления
    • Материалы для изготовления реплик
Расходные материалы
Применение
  • Академия ТЕСКАН
    • Что такое СЭМ?
    • Детекторы и аксессуары
    • Внутрикамерные детекторы
    • Внутрилинзовые детекторы
    • FIB-SEM: области и возможности применения
    • Обзор методов пробоподготовки
    • Список литературы
  • Статьи
  • Галерея изображений
  • Видеоматериалы
Новости
Календарь
Контакты
    TESCAN
    Меню  
    • Главная
    • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    Заказать звонок
    +7 (812) 322 58 99
    TESCAN
    • Главная
    • О компании
      • Назад
      • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Назад
      • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • Назад
        • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Назад
        • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • Назад
        • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Назад
        • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • Назад
        • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Назад
        • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Назад
        • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Назад
      • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Назад
        • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    • +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    • Вконтакте
    • YouTube
    • Главная
    • Оборудование
    • Расходные материалы

    Оборудование

    Электропроводящие ленты, диски, пасты
    Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 8 мм
    16073
    По запросу
    Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 12 мм
    16073-1
    По запросу
    Двухсторонний электропроводящий углеродный скотч шириной 20 мм
    16073-2
    По запросу
    Двухсторонняя электропроводящая медная лента, 12.7 мм × 16.4 м
    16074
    По запросу
    Двусторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 12 мм, 100 шт./уп.
    16084-20
    По запросу
    Двухсторонние электропроводящие углеродные диски повышенной чистоты диаметром 12 мм, 120 шт./уп.
    16084-4
    По запросу
    Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 6 мм, 112 шт./уп.
    16084-6
    По запросу
    Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 9 мм, 98 шт./уп.
    16084-3
    По запросу
    Двухсторонние электропроводящие углеродные диски диаметром 25 мм, 54 шт./уп.
    16084-2
    По запросу
    Углеродные проводящие листы, 50 мм × 120 мм, толщина 0.16 мм, 10 шт./уп.
    16085-1
    По запросу
    Столики и держатели для крепления образцов
    Алюминиевые (стандартные) столики, диаметром 12,7 мм. 100шт/упак
    По запросу
    Алюминиевые (стандартные) столики, диаметром 25 мм, 100 шт./уп.
    По запросу
    Семипозиционный держатель образцов для микроскопов TESCAN
    AMC-00-B
    По запросу
    Алюминиевый стенд на 40 столиков диаметром 12.7 мм
    16690
    По запросу
    Контейнеры для хранения образцов
    Контейнеры-колбочки для хранения стандартных столиков, 10 шт./уп.
    16630
    По запросу
    Контейнер для хранения стандартных столиков на 18 позиций
    16709
    По запросу
    Контейнер для хранения стандартных столиков на 14 позиций
    16717
    По запросу
    Мембранный бокс для переноски образцов, 38 мм (ширина) х 38 мм (глубина) х 16 мм (высота), 12 шт./уп.
    139-50
    По запросу
    Контейнер для хранения стандартных столиков на 8 позиций
    16716
    По запросу
    Контейнер для хранения стандартных столиков на 4 позиции
    16120
    По запросу
    Антистатический бокс для хранения ламелей (на 100 позиций)
    460-200SD
    По запросу
    PELCO® контейнер для хранения 50 TEM сеточек
    161
    По запросу
    Контейнер для хранения 50 TEM сеточек
    162-50
    По запросу
    Контейнер для хранения 100 TEM сеточек
    162-100
    По запросу
    Материалы для обслуживания микроскопов
    Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов TESCAN VEGA
    AGA047
    По запросу
    Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов Cambridge/LEO/Zeiss и AEI
    AGA054
    По запросу
    Вольфрамовый катод для сканирующих электронных микроскопов JEOL (тип K)
    AGA092
    По запросу
    Сетки для TEM
    Медные полусетки Omniprobe с 4-мя выступами для закрепления ламелей 100 шт./уп.
    460-204
    По запросу
    Медные сетки, 50 mesh, 100 шт./уп.
    1GC50
    По запросу
    Медные сетки, 75 mesh, 100 шт./уп.
    1GC75
    По запросу
    Медные сетки, 100 mesh, 100 шт./уп.
    1GC100
    По запросу
    Медные сетки, 200 mesh, 100 шт./уп.
    1GC200
    По запросу
    Медные сетки, 300 mesh, 100 шт./уп.
    1GC300
    По запросу
    Медные сетки, 400 mesh, 100 шт./уп.
    1GC400
    По запросу
    Никелевые сетки, 50 mesh, 100 шт./уп.
    1GN50
    По запросу
    Никелевые сетки, 75 mesh, 100 шт./уп.
    1GN75
    По запросу
    Никелевые сетки, 100 mesh, 100 шт./уп.
    1GN100
    По запросу
    Никелевые сетки, 200 mesh, 100 шт./уп.
    1GN200
    По запросу
    Никелевые сетки, 300 mesh, 100 шт./уп.
    1GN300
    По запросу
    Никелевые сетки, 400 mesh, 100 шт./уп.
    1GN400
    По запросу
    Медные сетки, 75 mesh, формвар+углерод, 50 шт./уп.,
    01802-F
    По запросу
    Медные сетки, 200 mesh, углеродное покрытие 15-25 нм, 25 шт./уп.
    01840
    По запросу
    Медные сетки, 300 mesh, формвар/углеродное покрытие 15-25 нм, 25 шт/упак
    01820
    По запросу
    Медные сетки, 400 mesh, формвар/углеродное покрытие 3 нм, 25 шт./уп.
    01822
    По запросу
    Медные сетки с несимметричными метками на ободе и в центре, 600 mesh, 100 шт./уп.
    G600TT
    По запросу
    Медные сетки, 200 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
    01881
    По запросу
    Медные сетки, 300 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
    01883
    По запросу
    Медные сетки, 300 mesh, Lacey углерод/формвар, 25 шт./уп.
    01890
    По запросу
    Медные сетки, 400 mesh, Lacey формвар/углерод, 25 шт./уп.
    01885
    По запросу
    Иглы для наноманипуляторов
    Стандартные вольфрамовые иглы для наноманипуляторов OmniProbe AutoProbe 100 и 200
    460-102
    По запросу
    Узкие вольфрамовые иглы для наноманипуляторов OmniProbe Autoprobe 100 и 200
    460-106
    По запросу
    Материалы для напыления
    Катушка углеродной нити, 100 м
    C506718
    По запросу
    Углеродная нить (шнур), диаметр 0.8 мм, лин. плотность 0.4 г/м 10 метров
    70-CC1004-10
    По запросу
    Углеродная нить (шнур), диаметр 2.4 мм, лин. плотность 1.6 г/м 10 метров
    70-CC1016-10
    По запросу
    Кристалл для измерителя толщины напыления, 1 шт.
    C5460
    По запросу
    Материалы для изготовления реплик
    Тонкая репликационная лента из ацетата целлюлозы, толщина 22 мкм, 38 мм × 4.5 м
    44841
    По запросу
    Оформить заявку Сбросить
    без учета доставки
    • Сканирующие электронные микроскопы
    • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    • Рентгеновские томографы
    • Детекторы и аксессуары TESCAN
    • Аналитические системы
    • Сопутствующее оборудование
    • Рентгеновские дифрактометры
    • Прочие детекторы и аксессуары
    • Расходные материалы
      • Электропроводящие ленты, диски, пасты
      • Столики и держатели для крепления образцов
      • Контейнеры для хранения образцов
      • Материалы для обслуживания микроскопов
      • Сетки для TEM
      • Иглы для наноманипуляторов
      • Материалы для напыления
      • Материалы для изготовления реплик
    Наши специалисты ответят
    на любой интересующий Вас
    вопрос по представленному
    оборудованию и методам
    исследования
    Задать вопрос
    Подписывайтесь на рассылку новостей:
    Оборудование
    Применение
    Новости
    Пользователи и партнеры
    Все статьи и заметки
    Материаловедение
    Микроэлектроника
    Геология и минералогия
    Науки о живом
    Записаться на демонстрационное исследование
    Сервисное обслуживание
    Лаборатория под ключ
    +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    © ООО «‎ТЕСКАН» 2025
    Разработка сайта  –