Высокотехнологичное
аналитическое 
оборудование
+ 7 812 322 58 99
Пн.-Пт. 10:00 – 18:00 (МСК)
Главная
О компании
  • История TESCAN
  • TESCAN в России и СНГ
  • Новости
  • Вакансии
  • Лицензии и сертификаты
Оборудование
  • Сканирующие электронные микроскопы
    Сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN VEGA Compact
    • TESCAN VEGA
    • TESCAN MIRA
    • TESCAN CLARA
    • TESCAN MAGNA
    • TESCAN TIMA
  • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN AMBER
    • TESCAN AMBER X
    • TESCAN SOLARIS
    • TESCAN SOLARIS X
  • Рентгеновские томографы
    Рентгеновские томографы
    • TESCAN CoreTOM
    • TESCAN DynaTOM
  • Детекторы и аксессуары TESCAN
    Детекторы и аксессуары TESCAN
    • Детекторы SE
    • Детекторы BSE
    • Детекторы In-Beam
    • Детекторы STEM
    • Детекторы CL
    • Детектор SITD
    • Аксессуары
  • Аналитические системы
    Аналитические системы
    • EDS
    • WDS
    • AFM
  • Сопутствующее оборудование
    Сопутствующее оборудование
    • Напылительные установки
    • Ионная полировка
    • Сушка в критической точке
    • Микромеханическая обработка
    • Системы измерения и подавления ЭМ полей
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
    • DX-2700
    • DX-27mini
    • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
    • Спектрометр XAFS2300
  • Прочие детекторы и аксессуары
    Прочие детекторы и аксессуары
    • Столики Deben MICROTEST
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
  • Расходные материалы
    Расходные материалы
    • Электропроводящие ленты, диски, пасты
    • Столики и держатели для крепления образцов
    • Контейнеры для хранения образцов
    • Материалы для обслуживания микроскопов
    • Сетки для TEM
    • Иглы для наноманипуляторов
    • Материалы для напыления
    • Материалы для изготовления реплик
Расходные материалы
Применение
  • Академия ТЕСКАН
    • Что такое СЭМ?
    • Детекторы и аксессуары
    • Внутрикамерные детекторы
    • Внутрилинзовые детекторы
    • FIB-SEM: области и возможности применения
    • Обзор методов пробоподготовки
    • Список литературы
  • Статьи
  • Галерея изображений
  • Видеоматериалы
Новости
Календарь
Контакты
    TESCAN
    Меню  
    • Главная
    • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    Заказать звонок
    +7 (812) 322 58 99
    TESCAN
    • Главная
    • О компании
      • Назад
      • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Назад
      • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • Назад
        • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Назад
        • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • Назад
        • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Назад
        • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • Назад
        • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Назад
        • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Назад
        • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Назад
      • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Назад
        • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    • +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    • Вконтакте
    • YouTube
    • Главная
    • Оборудование
    • Прочие детекторы и аксессуары
    • Столики Deben MICROTEST
    • Столики Deben MICROTEST

    Столики Deben MICROTEST

    • Описание
    • Фото
    Описание

    MICROTEST 200N

    Столики MICROTEST 200N специально разработаны для наблюдения области высокого напряжения образца в реальном времени с помощью сканирующего электронного микроскопа, оптического микроскопа, атомно-силового микроскопа или рентгеновского дифрактометра. С помощью шариковых винтов с двухзаходной резьбой центр образца остаётся расположен по центру столика. Динамометрические датчики от 2 Н до 200 Н покрывают большинство приложений, со скоростями растяжения от 0.1 мм/мин до 15 мм/мин. Все столики оснащены линейными масштабами для измерения удлинения и оптическими датчиками для контроля скорости. Программное обеспечение устанавливает управляющие параметры (Установки ПО управляют параметрами) и отображает кривую напряжения/деформации в реальном времени на экране компьютера. Опции включают в себя трёх- и четырёхточечные зажимы, волоконные (?) зажимы и монтажные переходники для микроскопа. Столики управляются программным обеспечением Microtest и могут быть изготовлены специальные версии программного обеспечения под требования клиента.
    Столики 200N используют миниатюрные динамометрические датчики диапазона от 2 Н до 200 Н. Образцы смонтированы горизонтально, зафиксированы в зажимах и расположены на скользящих подшипниках из нержавеющей стали. Шариковые винты с двухзаходной резьбой управляют обоими зажимами симметрично в противоположных направлениях, сохраняя образец центрированным в поле зрения. Модуль 200N идеален для использования со сканирующим электронным микроскопом, оптическим микроскопом или атомно-силовым микроскопом и легко встанет на большинство столиков. По умолчанию перемещение столика составляет 10 мм, опционально доступно 20 мм. Доступны клиентские версии с нагревом/охлаждением, увеличенными высотой образца и перемещением столика.
    Столик 200N с нагревом и охлаждением Пельтье
    Версия столика 200N с нагревом и охлаждением была разработана для обеспечения температурного диапазона от -20 °C до +160 °C. Контроллер температуры расположен прямо под образцом, и температура устаналивается с помощью небольшого элемента Пельтье. Управление системой и водяное охлаждение взяты из управляющей системы Deben Coolstage, которая оснащена автономным водяным чиллером и позволяет точно контролировать температуру с помощью контроллера или компьютера.

    MICROTEST 2kN и 5kN 

    Столики MICROTEST 2kN и 5kN специально разработаны для наблюдения области высокого напряжения образца в реальном времени с помощью сканирующего электронного микроскопа, оптического микроскопа, атомно-силового микроскопа или рентгеновского дифрактометра. Динамометрические датчики от 150 Н до 5 кН покрывают большинство приложений, со скоростями растяжения от 0.005 мм/мин до 50 мм/мин. Все столики оснащены линейными масштабами для измерения удлинения и оптическими датчиками для контроля скорости. Программное обеспечение устанавливает управляющие параметры (Установки ПО управляют параметрами) и отображает кривую напряжения/деформации в реальном времени на экране компьютера. Опции включают в себя трёх- и четырёхточечные зажимы для проведения испытаний на изгиб, волоконные (?) зажимы и монтажные переходники для микроскопа. Столики управляются программным обеспечением Microtest и могут быть изготовлены специальные версии программного обеспечения под требования клиента.
    Столик 2kN
    Столики 2kN используют миниатюрные динамометрические датчики диапазона от 660 Н до 2 кН. Образцы смонтированы горизонтально, зафиксированы в зажимах и расположены на скользящих подшипниках из нержавеющей стали. Шариковые винты с двухзаходной резьбой управляют обоими зажимами симметрично в противоположных направлениях, сохраняя образец центрированным в поле зрения. Модуль 2kN идеален для использования со сканирующим электронным микроскопом, оптическим микроскопом или атомно-силовым микроскопом и легко встанет на большинство столиков. Применения находятся в областях полимеров, тонких плёнок, волокон и тонких металлических образцов. Доступны клиентские версии с нагревом и охлаждением Пельтье в диапазоне от 20 °C до +160 °C, c увеличенным перемещением столика.
    Столик 5kN
    Столик 5kN очень похож на столик 2kN за исключением своего размера и максимального усилия. Модуль 5kN может потребовать сканирующий электронный микроскоп, атомно-силовой микроскоп и оптический микроскоп с более крупной камерой. Области применения включают в себя керамику, металлы и полимеры. Доступны клиентские версии с нагревом и охлаждением Пельтье в диапазоне от 20 °C до +160 °C, c увеличенным перемещением столика.

    MICROTEST 300N и 2kN вертикальный с 3 и 4 точечным зажимами для испытаний на изгиб

    Трёхточечные модули MICROTEST для испытаний на изгиб и модули MICROTEST для испытаний на растяжение/сжатие специально разработаны для наблюдения области высокого напряжения образца с помощью сканирующего электронного микроскопа или с помощью оптического микроскопа. Программное обеспечение устанавливает управляющие параметры (Установки ПО управляют параметрами) и отображает кривую напряжения/деформации в реальном времени на экране компьютера. Динамометрические датчики от 75 Н до 2 кН покрывают большинство приложений, со скоростями растяжения от 0.005 мм/мин до 5 мм/мин. Специальные версии могут быть изготовлены под требования клиента. Все столики управляются программным обеспечением Microtest.
    В общепринятых трёхточечных испытаниях на изгиб образец закреплён в двух наружных точках и деформируется движением третьей центральной точки вниз. Для использования в сканирующем электронном микроскопе данный метод был «обращён» т.е. центральная точка образца закреплена, а две наружные точки смещаются вниз. Это приводит к двум преимуществам – интересующая область высокого напряжения находится наверху для удобства наблюдения и остаётся в фокусе, поскольку высота не меняется.
    Максимальная нагрузка стандартного модуля составляет 300 Н, с диапазоном скорости деформации от 0.05 мм/мин до 5 мм/мин. Также доступен модуль с высокой нагрузкой для нагрузок до 2 кН. Стандартная ширина образца 40 мм. Верхний и нижний зажимы (точки фиксации) могут быть легко изменены для различных конфигураций образца, например, для определения твёрдости по Бринеллю или для четырёхточечных испытаний на изгиб.
    Данный столик сконструирован только для вертикальных трёхточечных испытаний на изгиб, для горизонтальных трёхточечных испытаний на изгиб рекомендуется использовать столик с установленными опциональным трёх- или чётырёхточечными зажимами.

    MICROTEST 2kN с нагревом и охлаждением Пельтье

    Deben недавно разработал новый столик 2kN с опциональным нагревом до 600 °C специально для использования в сканирующем электронном микроскопе, оснащённым детектором EBSD. Столик обладает двойным зажимом для образцов, который позволяет наблюдать образец в диапазоне от 0 °C до 70 °C и может быть дополнен зажимами с нагревом/охлаждением с температурным диапазоном до 600 °C.
    Характеристики
    • Габариты (не считая кабелей): 181 мм × 86 мм × 52 мм
    • Вес (примерный, не считая кабелей): 3.2 кг
    • Перемещение столика: 10 мм (10 – 20 мм)
    • Скорость перемещения зажима: 0.02 – 0.2 мм/с
    • Разрешение по позиции (цифровой индикатор координат): 100 нм
    • Предельная нагрузка на растяжение/сжатие: 2000 Н
    • Разрешение по нагрузке: 2000:1 статическое, 1000:1 динамическое
    • Опциональные зажимы с нагревом: максимальная температура 600 °C
    • Опциональное водяное охлаждение




    Фото
    • Столики Deben MICROTEST
    • Столики Deben MICROTEST

    Поделиться
    Назад к списку
    Подписывайтесь на рассылку новостей:
    Оборудование
    Применение
    Новости
    Пользователи и партнеры
    Все статьи и заметки
    Материаловедение
    Микроэлектроника
    Геология и минералогия
    Науки о живом
    Записаться на демонстрационное исследование
    Сервисное обслуживание
    Лаборатория под ключ
    +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    © ООО «‎ТЕСКАН» 2025
    Разработка сайта  –