Высокотехнологичное
аналитическое 
оборудование
+ 7 812 322 58 99
Пн.-Пт. 10:00 – 18:00 (МСК)
Главная
О компании
  • История TESCAN
  • TESCAN в России и СНГ
  • Новости
  • Вакансии
  • Лицензии и сертификаты
Оборудование
  • Сканирующие электронные микроскопы
    Сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN VEGA Compact
    • TESCAN VEGA
    • TESCAN MIRA
    • TESCAN CLARA
    • TESCAN MAGNA
    • TESCAN TIMA
  • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN AMBER
    • TESCAN AMBER X
    • TESCAN SOLARIS
    • TESCAN SOLARIS X
  • Рентгеновские томографы
    Рентгеновские томографы
    • TESCAN CoreTOM
    • TESCAN DynaTOM
  • Детекторы и аксессуары TESCAN
    Детекторы и аксессуары TESCAN
    • Детекторы SE
    • Детекторы BSE
    • Детекторы In-Beam
    • Детекторы STEM
    • Детекторы CL
    • Детектор SITD
    • Аксессуары
  • Аналитические системы
    Аналитические системы
    • EDS
    • WDS
    • AFM
  • Сопутствующее оборудование
    Сопутствующее оборудование
    • Напылительные установки
    • Ионная полировка
    • Сушка в критической точке
    • Микромеханическая обработка
    • Системы измерения и подавления ЭМ полей
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
    • DX-2700
    • DX-27mini
    • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
    • Спектрометр XAFS2300
  • Прочие детекторы и аксессуары
    Прочие детекторы и аксессуары
    • Столики Deben MICROTEST
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
  • Расходные материалы
    Расходные материалы
    • Электропроводящие ленты, диски, пасты
    • Столики и держатели для крепления образцов
    • Контейнеры для хранения образцов
    • Материалы для обслуживания микроскопов
    • Сетки для TEM
    • Иглы для наноманипуляторов
    • Материалы для напыления
    • Материалы для изготовления реплик
Расходные материалы
Применение
  • Академия ТЕСКАН
    • Что такое СЭМ?
    • Детекторы и аксессуары
    • Внутрикамерные детекторы
    • Внутрилинзовые детекторы
    • FIB-SEM: области и возможности применения
    • Обзор методов пробоподготовки
    • Список литературы
  • Статьи
  • Галерея изображений
  • Видеоматериалы
Новости
Календарь
Контакты
    TESCAN
    Меню  
    • Главная
    • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    Заказать звонок
    +7 (812) 322 58 99
    TESCAN
    • Главная
    • О компании
      • Назад
      • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Назад
      • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • Назад
        • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Назад
        • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • Назад
        • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Назад
        • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • Назад
        • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Назад
        • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Назад
        • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Назад
      • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Назад
        • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    • +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    • Вконтакте
    • YouTube
    • Главная
    • Оборудование
    • Прочие детекторы и аксессуары
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    • Столик с нагревом GATAN Murano™

    Столик с нагревом GATAN Murano™

    • Описание
    • Характеристики
    • Фото
    • Документы
    Описание

    Столик с нагревом GATAN Murano™

    Обеспечивает возможность проводить дополнительные динамические микроструктурные in-situ эксперименты непосредственно в камере сканирующего электронного микроскопа (СЭМ), которые позволяют получать новую информацию об исследуемых материалах.
    • Столик Murano™ специально разработан для использования в камере СЭМ
    • Конструкция Столика Murano™ позволяет легко монтировать/демонтировать его с карусели стандартных столиков СЭМ, т.о. обеспечивается быстрый возврат к обычному режиму работы СЭМ.
    • Геометрически совместим с различными детекторами, уставленными в камере образцов СЭМ, включая детектор EBSD для возможности проведения одновременных динамических исследований.

    Основные применения:

    • Идентификация фазовых превращений и определение эвтектических температур
    • Характеризация роста зерен
    • Изучение процессов рекристаллизация деформированных структур
    • Исследования взаимодействия образца с газом, подаваемым в область нагрева.
    • Анализ отказов в полупроводниковых структурах при высоких температурах

    Функциональные возможности:

    • Столик Murano™ позволяет проводить нагрев образца до 950 °C для различных применений, включая EBSD-исследования, получение изображений во вторичных и обратно рассеянных электронах.
    • Исследование кристаллизации и фазовых превращений в реальном времени при нагреве до 950 °C
    • Конструкция столика позволяет закреплять образцы и осуществлять последующее хранение вне камеры образцов
    • Возможность крепления массивных образцов с учетом геометрических особенностей установленного оборудования, например, детектора EBSD, дополнительной ионной колонны, а также детекторов вторичных и обратно рассеянных электронов
    • Наличие системы водяного охлаждения и теплозащитного экрана обеспечивает максимальную защиту установленного в камере образцов оборудования при высоких температурах.
    • Дополнительное управление напряжением смещения, для упрощения визуализации процессов при высоких температурах

    Ключевые преимущества:

    • Быстрый нагрев и охлаждение (>100 °C/мин) образцов размером до нескольких миллиметров
    • Компактная конструкция: габариты обеспечивающие широкий диапазон наклона, требующийся для EBSD-исследований; простота монтажа/демонтажа
    • Опционально доступна форсунка для инжектирования газа: позволяет исследовать локальное взаимодействие подаваемого газа с образцом при нагреве
    • Контроль температуры обеспечивается с помощью ПК: точность выставления температуры <0,5 °C, стабильность <1 °C/ч
    • Наличие системы водяного охлаждения для защиты установленного оборудования и возможности нагрева образца до 950 °C
    Характеристики

    Характеристики

    Для ряда исследований в металлургии и материаловедении изучение образцов в процессе нагрева непосредственно в камере сканирующего электронного микроскопа (СЭМ) позволяет получать большой объем новой информации. Столик с нагревом Murano™ позволяет изучать и наблюдать в динамике при нагреве такие явления, как фазовые превращения, рекристаллизацию, рост зерен и т.д.

    Столик с нагревом Murano™ специально спроектирован для удобного монтажа/демонтажа на стандартную карусель столика СЭМ и имеет специализированный термоизолированный интерфейс подключения. Диапазон нагрева - от температуры окружающей среды до 950 °C. Имеется возможность установки дополнительной форсунки для локального напуска газа в область нагрева образца, для каталитических реакций, а также реакций окисления или восстановления. Контроль подачи газа через форсунку осуществляется с помощью игольчатого клапана, смонтированного на интерфейсном фланце.

    В конструкции Столика с нагревом Murano™ имеется система водяного охлаждения, а также экран, которые обеспечивают надежную защиту камеры СЭМ, установленных детекторов и дополнительного оборудования. В комплект поставки входит водяной чиллер с низким уровнем вибрации и защитным ограничителем потока, источник питания, а также система контроля температуры на базе ПК.

    Оптимальные характеристики при высоких температурах достигаются за счет управления напряжением смещения, которое препятствует выходу термиэмиссионных электронов, возникающих при нагреве, и усиливает экстракцию вторичных электронов.

    При заказе дополнительной опции DigiScan™ (цифровая система управления пучком СЭМ и обработка изображений) данные о температуре, полученные с использованием Столика с нагревом Murano™ могут быть размещены на изображениях и видеозаписях экспериментов в программном обеспечении.


    Рабочее расстояние при наличии экрана 10 мм
    Рабочее расстояние без экрана 12,5 мм
    Размер образца X 4,5 мм
    Размер образца Y 9 мм
    Размер образца Z при наличии экрана 1,5 мм
    Размер образца Z без экрана 3 мм
    Максимальная температура без экрана 600 °C
    Стабильность поддержания температуры ±0,5 °C
    Точность выставления температуры ±0,5 °C
    Температурный диапазон до 950 °C
    Срок службы расходных материалов при температуре 900 – 950 °C    10 часов
    Срок службы расходных материалов при температуре 800 – 900 °C 24 часа
    Срок службы расходных материалов при температуре <800 °C 100 часов

    Фото
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    Документы
    ENG Murano Heating Stage Model 525
    918.7 Кб

    Поделиться
    Назад к списку
    Подписывайтесь на рассылку новостей:
    Оборудование
    Применение
    Новости
    Пользователи и партнеры
    Все статьи и заметки
    Материаловедение
    Микроэлектроника
    Геология и минералогия
    Науки о живом
    Записаться на демонстрационное исследование
    Сервисное обслуживание
    Лаборатория под ключ
    +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    © ООО «‎ТЕСКАН» 2025
    Разработка сайта  –