Высокотехнологичное
аналитическое 
оборудование
+ 7 812 322 58 99
Пн.-Пт. 10:00 – 18:00 (МСК)
Главная
О компании
  • История TESCAN
  • TESCAN в России и СНГ
  • Новости
  • Вакансии
  • Лицензии и сертификаты
Оборудование
  • Сканирующие электронные микроскопы
    Сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN VEGA Compact
    • TESCAN VEGA
    • TESCAN MIRA
    • TESCAN CLARA
    • TESCAN MAGNA
    • TESCAN TIMA
  • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN AMBER
    • TESCAN AMBER X
    • TESCAN SOLARIS
    • TESCAN SOLARIS X
  • Рентгеновские томографы
    Рентгеновские томографы
    • TESCAN CoreTOM
    • TESCAN DynaTOM
  • Детекторы и аксессуары TESCAN
    Детекторы и аксессуары TESCAN
    • Детекторы SE
    • Детекторы BSE
    • Детекторы In-Beam
    • Детекторы STEM
    • Детекторы CL
    • Детектор SITD
    • Аксессуары
  • Аналитические системы
    Аналитические системы
    • EDS
    • WDS
    • AFM
  • Сопутствующее оборудование
    Сопутствующее оборудование
    • Напылительные установки
    • Ионная полировка
    • Сушка в критической точке
    • Микромеханическая обработка
    • Системы измерения и подавления ЭМ полей
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
    • DX-2700
    • DX-27mini
    • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
    • Спектрометр XAFS2300
  • Прочие детекторы и аксессуары
    Прочие детекторы и аксессуары
    • Столики Deben MICROTEST
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
  • Расходные материалы
    Расходные материалы
    • Электропроводящие ленты, диски, пасты
    • Столики и держатели для крепления образцов
    • Контейнеры для хранения образцов
    • Материалы для обслуживания микроскопов
    • Сетки для TEM
    • Иглы для наноманипуляторов
    • Материалы для напыления
    • Материалы для изготовления реплик
Расходные материалы
Применение
  • Академия ТЕСКАН
    • Что такое СЭМ?
    • Детекторы и аксессуары
    • Внутрикамерные детекторы
    • Внутрилинзовые детекторы
    • FIB-SEM: области и возможности применения
    • Обзор методов пробоподготовки
    • Список литературы
  • Статьи
  • Галерея изображений
  • Видеоматериалы
Новости
Календарь
Контакты
    TESCAN
    Меню  
    • Главная
    • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    Заказать звонок
    +7 (812) 322 58 99
    TESCAN
    • Главная
    • О компании
      • Назад
      • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Назад
      • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • Назад
        • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Назад
        • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • Назад
        • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Назад
        • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • Назад
        • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Назад
        • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Назад
        • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Назад
      • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Назад
        • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    • +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    • Вконтакте
    • YouTube
    • Главная
    • Оборудование
    • Прочие детекторы и аксессуары
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle

    Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle

    • Описание
    • Характеристики
    • Фото
    • Документы
    Описание

    Зондовая станция – это новейший инструмент высокоточного электрического нано-зондирования в реальном времени.

    Зондовая станция PS4 может состоять как из двух, так и из четырех модулей MM4 – ультра-плоских трёх-осевых манипуляторов с непревзойденной стабильностью и точностью.

    Зондовая станция PS8 может включать в себя до восьми модулей MM4.

    Высота системы составляет всего 10 мм, что делает её совместимой с различными типоразмерами камер сканирующих электронных микроскопов. Данные зондовые станции позволяют измерять слабые токи и ёмкости и полностью совместимы с опциями расширенного программно-аппаратного пакета Advanced Probing Tools, включая тестер контактов (Live Contact Tester) и картирование токов, наведенных электронным пучком (EBIC).

    Ключевые преимущества:

    • Небольшой размер, модульность, практичность

    • Совместимость с различными типоразмерами камер СЭМ/ФИП

    • Быстрая установка, простота и удобство освоения

    • Интуитивно понятные интерфейсы управления

    • Быстрая и простая замена наконечника зонда

    • Компактная автономная электроника

    • Легкая работа с несколькими манипуляторами

    • Превосходная стабильность, низкий дрейф (порядка 1 нм/мин)

    • Высокая рабочая скорость (до 10 мм/сек), устойчивость к вибрациям

    • Суб-нанометровое разрешение (0.25 нм), широкий рабочий диапазон


    Характеристики
    Зондовая станция PS4
    • Высота: 10 мм
    • Ширина: 100 мм
    • Максимальный размер образца: 20 мм – 20 мм – 1 мм
    • Собственный вес: 100 г
    • Рабочий диапазон: А = 10 мм, B = 90°, C = 5 мм (где А = влево/вправо, B = вверх/вниз, С = вперед/назад)
    • Разрешение: A <0.05 нм, B <0.5 нм, C <0.05 нм (где А = влево/вправо, B = вверх/вниз, С = вперед/назад)
    • Дрейф: 1 нм/мин
    • Шум: 20 фА при 1 Гц
    • Ток изоляционной утечки: <50 фА/В
    • Сопротивление сигнального провода: <5 Ом
    • li>Максимальное напряжение: 100 В
    • Максимальный ток: 100 мА

    Зондовая станция PS8
    • Высота: 10 мм
    • Ширина: 140 мм
    • Максимальный размер образца: 20 мм – 20 мм – 1 мм
    • Собственный вес: 200 г
    • Рабочий диапазон: А = 7 мм, B = 90°, C = 5 мм (где А = влево/вправо, B = вверх/вниз, С = вперед/назад)
    • Разрешение: A <0.05 нм, B <0.5 нм, C <0.05 нм (где А = влево/вправо, B = вверх/вниз, С = вперед/назад)
    • Дрейф: 1 нм/мин
    • Шум: 25 фА при 1 Гц
    • Ток изоляционной утечки: <50 фА/В
    • Сопротивление сигнального провода: <5 Ом
    • Максимальное напряжение: 100 В
    • Максимальный ток: 100 мА

    *Все технические характеристики являются приблизительными. В связи с постоянным развитием производитель оставляет за собой право изменять спецификацию без предварительного уведомления.
    Фото
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
    Документы
    Kleindiek Nanotechnik PS4
    1.2 Мб
    Kleindiek Nanotechnik PS8
    2 Мб

    Поделиться
    Назад к списку
    Подписывайтесь на рассылку новостей:
    Оборудование
    Применение
    Новости
    Пользователи и партнеры
    Все статьи и заметки
    Материаловедение
    Микроэлектроника
    Геология и минералогия
    Науки о живом
    Записаться на демонстрационное исследование
    Сервисное обслуживание
    Лаборатория под ключ
    +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    © ООО «‎ТЕСКАН» 2025
    Разработка сайта  –