Высокотехнологичное
аналитическое 
оборудование
+ 7 812 322 58 99
Пн.-Пт. 10:00 – 18:00 (МСК)
Главная
О компании
  • История TESCAN
  • TESCAN в России и СНГ
  • Новости
  • Вакансии
  • Лицензии и сертификаты
Оборудование
  • Сканирующие электронные микроскопы
    Сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN VEGA Compact
    • TESCAN VEGA
    • TESCAN MIRA
    • TESCAN CLARA
    • TESCAN MAGNA
    • TESCAN TIMA
  • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN AMBER
    • TESCAN AMBER X
    • TESCAN SOLARIS
    • TESCAN SOLARIS X
  • Рентгеновские томографы
    Рентгеновские томографы
    • TESCAN CoreTOM
    • TESCAN DynaTOM
  • Детекторы и аксессуары TESCAN
    Детекторы и аксессуары TESCAN
    • Детекторы SE
    • Детекторы BSE
    • Детекторы In-Beam
    • Детекторы STEM
    • Детекторы CL
    • Детектор SITD
    • Аксессуары
  • Аналитические системы
    Аналитические системы
    • EDS
    • WDS
    • AFM
  • Сопутствующее оборудование
    Сопутствующее оборудование
    • Напылительные установки
    • Ионная полировка
    • Сушка в критической точке
    • Микромеханическая обработка
    • Системы измерения и подавления ЭМ полей
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
    • DX-2700
    • DX-27mini
    • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
    • Спектрометр XAFS2300
  • Прочие детекторы и аксессуары
    Прочие детекторы и аксессуары
    • Столики Deben MICROTEST
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
  • Расходные материалы
    Расходные материалы
    • Электропроводящие ленты, диски, пасты
    • Столики и держатели для крепления образцов
    • Контейнеры для хранения образцов
    • Материалы для обслуживания микроскопов
    • Сетки для TEM
    • Иглы для наноманипуляторов
    • Материалы для напыления
    • Материалы для изготовления реплик
Расходные материалы
Применение
  • Академия ТЕСКАН
    • Что такое СЭМ?
    • Детекторы и аксессуары
    • Внутрикамерные детекторы
    • Внутрилинзовые детекторы
    • FIB-SEM: области и возможности применения
    • Обзор методов пробоподготовки
    • Список литературы
  • Статьи
  • Галерея изображений
  • Видеоматериалы
Новости
Календарь
Контакты
    TESCAN
    Меню  
    • Главная
    • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    Заказать звонок
    +7 (812) 322 58 99
    TESCAN
    • Главная
    • О компании
      • Назад
      • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Назад
      • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • Назад
        • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Назад
        • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • Назад
        • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Назад
        • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • Назад
        • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Назад
        • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Назад
        • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Назад
      • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Назад
        • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    • +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    • Вконтакте
    • YouTube
    • Главная
    • О компании
    • TESCAN в России

    TESCAN в России

    TESCAN в России и странах СНГ

    • Демонстрация и продажа оборудования. Демонстрационные центры в Санкт-Петербурге и Москве
    • Пусконаладка оборудования, техническое обслуживание и сервис
    • Обучение и методическая поддержка пользователей

    Брэнд TESCAN в России и странах СНГ представляет компания ООО «‎ТЕСКАН»‎. Центральный офис и демонстрационно-методический центр ООО «‎ТЕСКАН» находится в городе Санкт-Петербург, второй офис с демонстрационно-методическим центром расположен в Москве. Контакты можно найти тут: Контакты.

    Компания ООО «‎ТЕСКАН» была основана зимой 2012 года и стала приемником ООО «‎Экситон Аналитик» с переходом всех сотрудников, которые занимались поставкой и поддержкой СЭМ марки TESCAN и сопутствующего оборудования, а также дистрибьюторских прав от фабрики TESCAN. До ООО «‎Экситон Аналитик» представителем марки TESCAN в России была компания ООО «Ростескан», а самым первым представителем TESCAN в России была английская фирма Uniexport Ltd.

    ООО «‎ТЕСКАН» также является представителем других фабрик производителей сопутствующего для электронной микроскопии оборудования, таких как: Oxford Instruments Nanoanalysis, Technoorg Linda, Quorum Technologies, Spicer Consulting, поставщиков расходных материалов и др. Более 90% сотрудников ООО «‎ТЕСКАН» имеют высшее образование, из них 4 сотрудника кандидаты наук.

    Команда технических специалистов и инженеров проходит обязательные и специализированные тренинги на фабриках производителях оборудования.

    Команда специалистов по применению (application specialists) также проходит специализированное обучение на фабриках по особенностям применения оборудования. Сотрудники отдела по применению ООО «‎ТЕСКАН» регулярно участвуют в различных выставках, конференциях, организуют семинары, workshops; проводят бесплатные обучающие семинары для пользователей оборудования марки TESCAN и сопутствующего оборудования; проводят дополнительное углубленное обучение заказчиков пользованию оборудованием; создают и внедряют методики для проведения исследований.

    Особенностью компании ООО «‎ТЕСКАН» является возможность полного самостоятельного сопровождения контрактов (поставки, ввода в эксплуатацию, наладки, технической и методической поддержки, обучению специалистов заказчика силами только своих сотрудников, без привлечения специалистов от производителей оборудования).

    Микроскопы марки TESCAN в России эксплуатируются уже 20 лет. Кроме России компания ООО «‎ТЕСКАН» представляет марку TESCAN на территории стран СНГ, стран пост Советского пространства. СЭМ TESCAN эксплуатируются в республиках: Беларусь, Казахстан, Грузия, Киргизия, Азербайджан. Поставку оборудования в эти страны компания ООО «‎ТЕСКАН» осуществляет как напрямую, так и с привлечением компаний-партнеров для работы с национальными валютами и удобства Заказчиков.

    Всего на территории России и стран СНГ эксплуатируется более 250 микроскопов марки TESCAN различных моделей, с различными приставками и комплектами поставки.


    История компании ООО «‎ТЕСКАН»

    2001
     
    • В Россию (г. Норильск, г. Санкт-Петербург) поставлены первые сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) CamScan/TESCAN MV2300.
    2002
     
    • В Москве и Подмосковье поставлены и запущены три СЭМ модели TESCAN VEGA TS 5130 MM с системами микроанализа Oxford Instruments.
    2004
     
    • Представителем марки TESCAN в России и СНГ стала компания «‎Экситон Аналитик» ООО.
    2005
     
    • Первое участие ООО «‎Экситон Аналитик» в выставке «Аналитика Экспо» в Москве с СЭМ TESCAN на стенде. На всех последующих выставках «Аналитика Экспо» брэнд TESCAN был представлен микроскопом на стенде.
    2006
     
    • Первые поставки СЭМ TESCAN в экпертно-криминалистические лаборатории России.
    • Число СЭМ TESCAN в России превысило 10 шт.
    • Первые микроскопы TESCAN в Республике Беларусь (2 шт.).
    • Открыт демонстрационно-методический центр TESCAN в г. Санкт-Петербург.
    2007
     
    • Первый микроскоп с полевой эмиссией TESCAN MIRA в России.
    • Первый микроскоп марки TESCAN в Республике Казахстан.
    • Первый микроскоп с полевой эмиссией TESCAN MIRA в Республике Беларусь.
    2010
     
    • Первый микроскоп модели TESCAN LYRA FEG с интегрированной ионной колонной (FIB-SEM) в России.
    • Количество микроскопов марки TESCAN в России и СНГ превысило 50 шт.
    2011
     
    • Компания «‎Экситон Аналитик» ООО получает право использования имени TESCAN
    • TESCAN brand name promotion

    2012
     
    • Количество микроскопов марки TESCAN в России и СНГ превысило 100 шт.
    • Открыт офис и демонстрационно-методический центр TESCAN в г. Москва.
    2017
     
    • Первый микроскоп марки TESCAN в Грузии.
    • Первый микроскоп марки TESCAN в Азербайджане.
    2018
     
    • Количество микроскопов марки TESCAN в России и СНГ превысило 200 шт. 
    • Количество микроскопов марки TESCAN в экпертно-криминалистических лабораториях России превысило 20 шт.
    2019
     
    • Количество микроскопов марки TESCAN в Республике Беларусь достигло 10 шт. 
    • В демонстрационном центре СПб появился FIB-SEM TESCAN S9251G - первый микроскоп четвертого поколения TESCAN в России.
    • TESCAN S9000G


    • История TESCAN
    • TESCAN в России и СНГ
    • Новости
    • Вакансии
    • Лицензии и сертификаты
    Подписывайтесь на рассылку новостей:
    Оборудование
    Применение
    Новости
    Пользователи и партнеры
    Все статьи и заметки
    Материаловедение
    Микроэлектроника
    Геология и минералогия
    Науки о живом
    Записаться на демонстрационное исследование
    Сервисное обслуживание
    Лаборатория под ключ
    +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    © ООО «‎ТЕСКАН» 2025
    Разработка сайта  –