Высокотехнологичное
аналитическое 
оборудование
+ 7 812 322 58 99
Пн.-Пт. 10:00 – 18:00 (МСК)
Главная
О компании
  • История TESCAN
  • TESCAN в России и СНГ
  • Новости
  • Вакансии
  • Лицензии и сертификаты
Оборудование
  • Сканирующие электронные микроскопы
    Сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN VEGA Compact
    • TESCAN VEGA
    • TESCAN MIRA
    • TESCAN CLARA
    • TESCAN MAGNA
    • TESCAN TIMA
  • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
    • TESCAN AMBER
    • TESCAN AMBER X
    • TESCAN SOLARIS
    • TESCAN SOLARIS X
  • Рентгеновские томографы
    Рентгеновские томографы
    • TESCAN CoreTOM
    • TESCAN DynaTOM
  • Детекторы и аксессуары TESCAN
    Детекторы и аксессуары TESCAN
    • Детекторы SE
    • Детекторы BSE
    • Детекторы In-Beam
    • Детекторы STEM
    • Детекторы CL
    • Детектор SITD
    • Аксессуары
  • Аналитические системы
    Аналитические системы
    • EDS
    • WDS
    • AFM
  • Сопутствующее оборудование
    Сопутствующее оборудование
    • Напылительные установки
    • Ионная полировка
    • Сушка в критической точке
    • Микромеханическая обработка
    • Системы измерения и подавления ЭМ полей
  • Рентгеновские дифрактометры
    Рентгеновские дифрактометры
    • DX-2700
    • DX-27mini
    • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
    • Спектрометр XAFS2300
  • Прочие детекторы и аксессуары
    Прочие детекторы и аксессуары
    • Столики Deben MICROTEST
    • Столик с нагревом GATAN Murano™
    • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
  • Расходные материалы
    Расходные материалы
    • Электропроводящие ленты, диски, пасты
    • Столики и держатели для крепления образцов
    • Контейнеры для хранения образцов
    • Материалы для обслуживания микроскопов
    • Сетки для TEM
    • Иглы для наноманипуляторов
    • Материалы для напыления
    • Материалы для изготовления реплик
Расходные материалы
Применение
  • Академия ТЕСКАН
    • Что такое СЭМ?
    • Детекторы и аксессуары
    • Внутрикамерные детекторы
    • Внутрилинзовые детекторы
    • FIB-SEM: области и возможности применения
    • Обзор методов пробоподготовки
    • Список литературы
  • Статьи
  • Галерея изображений
  • Видеоматериалы
Новости
Календарь
Контакты
    TESCAN
    Меню  
    • Главная
    • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    Заказать звонок
    +7 (812) 322 58 99
    TESCAN
    • Главная
    • О компании
      • Назад
      • О компании
      • История TESCAN
      • TESCAN в России и СНГ
      • Новости
      • Вакансии
      • Лицензии и сертификаты
    • Оборудование
      • Назад
      • Оборудование
      • Сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN VEGA Compact
        • TESCAN VEGA
        • TESCAN MIRA
        • TESCAN CLARA
        • TESCAN MAGNA
        • TESCAN TIMA
      • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • Назад
        • Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
        • TESCAN AMBER
        • TESCAN AMBER X
        • TESCAN SOLARIS
        • TESCAN SOLARIS X
      • Рентгеновские томографы
        • Назад
        • Рентгеновские томографы
        • TESCAN CoreTOM
        • TESCAN DynaTOM
      • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Назад
        • Детекторы и аксессуары TESCAN
        • Детекторы SE
        • Детекторы BSE
        • Детекторы In-Beam
        • Детекторы STEM
        • Детекторы CL
        • Детектор SITD
        • Аксессуары
      • Аналитические системы
        • Назад
        • Аналитические системы
        • EDS
        • WDS
        • AFM
      • Сопутствующее оборудование
        • Назад
        • Сопутствующее оборудование
        • Напылительные установки
        • Ионная полировка
        • Сушка в критической точке
        • Микромеханическая обработка
        • Системы измерения и подавления ЭМ полей
      • Рентгеновские дифрактометры
        • Назад
        • Рентгеновские дифрактометры
        • DX-2700
        • DX-27mini
        • Анализатор остаточных напряжений DS-21P
        • Спектрометр XAFS2300
      • Прочие детекторы и аксессуары
        • Назад
        • Прочие детекторы и аксессуары
        • Столики Deben MICROTEST
        • Столик с нагревом GATAN Murano™
        • Нанозондовые столики Kleindiek Prober Shuttle
      • Расходные материалы
        • Назад
        • Расходные материалы
        • Электропроводящие ленты, диски, пасты
        • Столики и держатели для крепления образцов
        • Контейнеры для хранения образцов
        • Материалы для обслуживания микроскопов
        • Сетки для TEM
        • Иглы для наноманипуляторов
        • Материалы для напыления
        • Материалы для изготовления реплик
    • Расходные материалы
    • Применение
      • Назад
      • Применение
      • Академия ТЕСКАН
        • Назад
        • Академия ТЕСКАН
        • Что такое СЭМ?
        • Детекторы и аксессуары
        • Внутрикамерные детекторы
        • Внутрилинзовые детекторы
        • FIB-SEM: области и возможности применения
        • Обзор методов пробоподготовки
        • Список литературы
      • Статьи
      • Галерея изображений
      • Видеоматериалы
    • Новости
    • Календарь
    • Контакты
    • +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    • Вконтакте
    • YouTube
    • Главная
    • О компании
    • История брэнда TESCAN

    История TESCAN

    История развития компании TESCAN

    1991
     
    • Основана компания TESCAN s.r.o.
    1992
     
    • Создан процессор цифрового изображения “Satellite” для оцифровки аналоговых сканирующих электронных микроскопов
    1996
     
    • Представлен первый компактный, полностью управляемый от ПК СЭМ –
      TESCAN PROXIMA.
    • TESCAN PROXIMA

    1999
     
    • Представлена серия VEGA с возможностью удаленного контроля.
    2000
     
    • Серия VEGA дополнена возможностью работы в переменном вакууме.
    2001
     
    • Модель TESCAN VEGA TS 5130 MM получает золотую медаль на 43-й Международной Технической Выставке в г. Брно, Чехия.
    • TESCAN VEGA 5130

    2002
     
    • Серия VEGA дополнена моделями с камерами больших размеров.
    2003
     
    • Запатентован детектор вторичных электронов в низком вакууме - LVSTD.
    2004
     
    • Представлено новое поколение СЭМ – VEGA II с электронно-оптической системой Wide Field Optics™;
    • Получены сертификаты качества ISO 14001, ISO 9001.
    2005
     
    • Начато производство новой серии MIRA – микроскопов с полевой эмиссией и технологией In-Flight Beam Tracing.
    2006
     
    • Реализована возможность 3D измерений на СЭМ VEGA.
    2007
     
    • Представлена новая модель микроскопов – серия LYRA I – СЭМ с интегрированной ионной колонной (FIB-SEM);
    • Представлен детектор In-Beam для серии микроскопов MIRA II FE-SEM;
    • Все модели микроскопов марки TESCAN получили возможность живого стереоскопического изображения.

    2008
     
    • Представлена модель микроскопа LYRA I FEG с катодом с полевой эмиссией;
    • Запущена в производство модель микроскопа с интегрированной системой энергодисперсионного микроанализа – TESCAN VEGA EasyProbe.
    • TESCAN VEGA SB3

    2009
     
    • Анонсировано новое поколение микроскопов – MIRA3 и VEGA3;
    • Представлена специализированная модель микроскопа InduSEM;
    • Завершено строительство нового производственного корпуса.
    2010
     
    • Представлены сканирующие электронные микроскопы третьего поколения;
    • Компания TESCAN, s.r.o. преобразована в Акционерное общество TESCAN, a.s.;
    • Приобретена компания TESCAN USA (США).
    2011
     
    • Представлена модель микроскопа FERA3 с плазменной ионной колонной;
    • Представлено специальное решение на базе СЭМ TIMA (автоматизированная система минералогического анализа);
    • Смонтирован у заказчика 1000-ый сканирующий электронный микроскоп.
    2012
     
    • Учредитель компании TESCAN Ярослав Клима назван лучшим Технологическим предпринимателем 2011 года в Чешской Республике.
    2013
     
    • Слияние компаний TESCAN и ORSAY PHYSICS с образованием TESCAN ORSAY HOLDING, a.s.;
    • Открыто новое производственное и административное здание;
    • Учрежден новый филиал компании – TESCAN-UK, Ltd;
    • Представлена модель микроскопа MAIA3 с иммерсионной оптикой.
    2014
     
    • Представлена модель микроскопа GAIA3;
    • Представлено специальное решение на базе СЭМ – RISE (объединение сканирующей электронной и рамановской микроскопии в одном приборе);
    • Приобретена компания AppFive.
    2015
     
    • Учрежден новый филиал компании – TESCAN do Brasil;
    • Представлен новый сканирующий электронный микроскоп XEIA3;
    • TESCAN XEIA3

    • Представлен новый прибор Q-PHASE - уникальный мультимодальный голографический микроскоп.
    2016
     
    • Обновление модельного ряда микроскопов с иммерсионной оптикой (XEIA, MAIA, GAIA) электронной колонной TriglavTM.
    2017

    • Представлены новые модели микроскопов 4-го поколения TESCAN S8000G Ga FIB-SEM и TESCAN S8000 SEM оснащенные технологией BrightBeam™ позволяющей получать сверхвысокое разрешение без использования иммерсионной оптики;
    • Представлена новая ионная колонна Orage™ Ga FIB.
    2018
     
    • Приобретена бельгийская компания XRE, специализировавшаяся на рентгеновской компьютерной томографии, с учреждением компании TESCAN XRE;
    • Анонсированы модели компьютерных рентгеновских микро-томографов TESCAN UniTOM, TESCAN CoreTOM, TESCAN DynaTOM;
    • TESCAN micro CT

    • Запуск в производство микроскопов серии S9000: TESCAN S9000 FEG-SEM, TESCAN 9000G Ga FIB-SEM, и TESCAN S9000X Xe plasma FIB-SEM, основанных на технологии Triglav™ UHR SEM Запуск в производство микроскопа TESCAN 8000X Xe plasma FIB.
    2019
     
    • Представлены новые СЭМ и FIB-SEM на базе платформы 4-го поколения серии S8000 оснащенные технологией BrightBeam™: AMBER Ga FIB-SEM, AMBER X Xe plasma FIB-SEM, AMBER Cryo;
    • Представлены новые СЭМ и FIB-SEM на базе платформы 4-го поколения серии S9000: SOLARIS Ga FIB-SEM, SOLARIS X Xe plasma FIB-SEM Представлены новые СЭМ ультравысокого разрешения, модели: CLARA FEG-SEM, CLARA Cryo, MAGNA.
    2020
     
    • Фабрика полностью перешла на производство СЭМ 4-го поколения.
    • TESCAN VEGA Compact

    • История TESCAN
    • TESCAN в России и СНГ
    • Новости
    • Вакансии
    • Лицензии и сертификаты
    Подписывайтесь на рассылку новостей:
    Оборудование
    Применение
    Новости
    Пользователи и партнеры
    Все статьи и заметки
    Материаловедение
    Микроэлектроника
    Геология и минералогия
    Науки о живом
    Записаться на демонстрационное исследование
    Сервисное обслуживание
    Лаборатория под ключ
    +7 (812) 322 58 99
    г. Санкт-Петербург, Гражданский проспект д.11, офис 212; А/Я 24, здание института «Гипроникель»
    info@tescan.ru
    © ООО «‎ТЕСКАН» 2025
    Разработка сайта  –