Новости
дек 4, 2017
Приглашаем Вас 07 декабря 2017 года посетить семинар.
дек 3, 2017
Приглашаем Вас 04 декабря 2017 года посетить семинар.
ноя 17, 2017
Компания ТЕСКАН проводила семинар, посвященный методу ионной обработки поверхности с помощью установки ионного травления SEMPrep2 производства Technoorg-Linda Co Ltd (Венгрия).
окт 25, 2017
Представители TESCAN приняли участие в юбилейном съезде Российского минералогического общества в Горном институте Санкт-Петербурга.
окт 5, 2017
На базе московского физико-технического института 21 и 22 сентября 2017 года проходила Международная конференция "ФизтехБиоМед".
сен 5, 2017

Новое поколение двулучевых (FIB-SEM) микроскопов TESCAN задает новые стандарты качества в изготовлении и наблюдении кросс-секций и в пробоподготовке ламелей для TEM.

авг 29, 2017

Компания ООО «ТЕСКАН» объявляет о конкурсе «Доступное совершенство 2017 - 18» и приглашает Вас принять в нём участие!

авг 1, 2017

С 20 июня по 7 июля 2017 года компания ООО «ТЕСКАН» провела три обучающих семинара для операторов микроскопов TESCAN. Петербург встречал 56 человек, желающих расширить свои знания по сканирующей электронной микроскопии и микроанализу.

июл 5, 2017
Итоги конкурса "Умелый Оператор-2017".
июн 27, 2017
Фото-отчет компании ООО «Тескан» с выставки аналитического и лабораторного оборудования «Аналитика Экспо 2017» с 11 по 13 апреля.
мар 27, 2017

Здравствуйте, уважаемые коллеги!

Компания ООО "Тескан" приглашает Вас принять участие в конкурсе "Умелый Оператор"
янв 31, 2017

Приглашаем Вас посетить наш стенд на выставке "Аналитика Экспо" в Москве с 11 по 13 апреля 2017 г.

ноя 17, 2016

Осенью 2016 года сканирующий электронный микроскоп с катодом с полевой эмиссией TESCAN MIRA был установлен в Сыктывкарском государственном университете. У ученых из разных кафедр Университета много планов на исследования на микроскопе MIRA. Также микроскоп будет использоваться при обучении студентов СГУ. Преподаватели Университета встраивают применение микроскопа в свои учебно-образовательные программы. Ранее ученые СГУ приходили со своими образцами в соседний Институт геологии Коми Научного центра УрО РАН, где работает сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом TESCAN VEGA, теперь же у этих ученых будет свой микроскоп, к тому же с более высокой разрешающей способностью, чем TESCAN VEGA.

Подробнее на сайте СГУ
сен 10, 2016
TESCAN с гордостью заявляет о запуске второго поколения электронных колонн с ультра-высоким разрешением - "TriglavTM".
июл 26, 2016
В июне-июле 2016 года было проведено три традиционных семинара-практикума для пользователей сканирующих электронных микроскопов TESCAN. В этом году обучающие мероприятия компании ООО «ТЕСКАН» собрали рекордно большую аудиторию (~ 20 человек в каждый из семинаров).
июн 10, 2016
Выступали как сотрудники ООО ТЕСКАН, так и приглашенные специалисты Karel Novotny (TESCAN Brno, Чехия) и Martyn Grin (Mantis Deposition, Великобритания).
апр 4, 2016
Компания TESCAN анонсировала появление принципиально нового продукта. Уникальный мультимодальный голографический микроскоп Q-PHASE для получения количественных фазовых изображений (QPI) в области наук о живом был представлен научной общественности на выставке mmc2015 в Манчестере.
мар 20, 2016

Приглашаем Вас посетить наш стенд A311 на выставке "Аналитика Экспо" в Москве с 12 по 14 апреля 2016 г.

янв 19, 2016

Был презентован новый продукт компании TESCAN – мультимодальный голографический микроскоп Q-Phase, который появился на мировом рынке весной 2015 года.

окт 4, 2015

Один из ведущих специалистов по применению метода EBSD, Mr. Keith DIcks, Master of Science, сотрудник компании Oxford Instruments провел трехдневный обучающий семинар для пользователей микроскопов TESCAN с приставкой EBSD.

сен 19, 2015

Приглашаем посетить семинар по электронно-лучевой литографии с демонстрацией на сканирующем электронном микроскопе TESCAN MIRA!

Место проведения: Москва, ул. Автозаводская, д. 14.

Выберете удобную для Вас дату: 29 сент., 30 сент. или 1 окт. 2015.

Телефон для связи: +7 (915) 166-37-45, Николай Миловзоров

авг 6, 2015

Один из ведущих мировых производителей сканирующих электронных микроскопов и двухлучевых микроскопов TESCAN ORSAY HOLDING сообщил 3-го августа 2015 г. о приобретении компании AppFive, LLC, которая известна своими разработками программного обеспечения в области оптики заряженных частиц.

авг 5, 2015

В июле 2015 года в демо-центре TESCAN в Санкт-Петербурге состоялись традиционные летние обучающие семинары для пользователей микроскопов TESCAN. На семинарах было рассмотрено большинство типичных задач, с которыми сталкивается оператор сканирующего электронного микроскопа (получение изображений предельного разрешения, изображений с большой глубиной фокуса, изображений с широким полем обзора, работа с непроводящими образцами и др.).

апр 29, 2015

В апреле 2015 года в г. Брно, Чехия, состоялся конгресс дистрибьюторов холдинга TESCAN ORSAY, the TESCAN Distributor's meeting 2015. Представляем вам отзыв одного из участников и нашего коллеги.

фев 28, 2015

Приглашаем Вас посетить наш стенд B425 на выставке "Аналитика Экспо" в Москве с 14 по 17 апреля 2015 г.
На стенде будет представлен растровый электронный микроскоп высокого разрешения TESCAN MIRA с катодом с полевой эмиссией (типа Шоттки).

фев 24, 2015
С 17 по 19 февраля в Москве в Центре международной торговли на Краснопресненской набережной состоялся X Конгресс обогатителей стран СНГ, в котором принимала участие компания ООО «ТЕСКАН».
фев 19, 2015

OOO «ТЕСКАН» совместно с Представительством Oxford Instruments в РФ приглашает принять участие в техническом семинаре в г. Челябинске.

ноя 11, 2014

В Австралии в городе Перт в Государственном объединении научных и прикладных исследований (CSIRO) недавно завершился ввод в эксплуатацию интегрального анализатора минералов TESCAN TIMA.

сен 6, 2014
TESCAN, один из лидеров в работе с заряженными частицами и интегральными аналитическими решениями на базе сканирующей электронной микроскопии представляет новую рабочую станцию GAIA3 FIB-SEM. Показ состоится 7-12 сентября на конгрессе IMC 2014 в Праге. Введение GAIA3 опирается на успех компании TESCAN на мировом рынке с микроскопом Vega FIB-SEM. Микроскоп GAIA3 оснащен новой разработанной СЭМ колонной сверх-высокого разрешения и интегрированным спектрометром комбинационного рассеяния.
июл 3, 2014
TESCAN ORSAY HOLDING, a.s. и WITec GmbH совместно разработали и представили метод RISE-микроскопии на выставке «Аналитика 2014» в Мюнхене.
июл 2, 2014
Компания ООО «ТЕСКАН» выступит партнером и спонсором XII Международного конгресса по наноструктурированным материалам NANO 2014. Мероприятие будет проходить в Москве с 13 по 18 июля 2014 г., место проведения: Москва, Ленинские горы, МГУ им. М.В. Ломоносова, Ломоносовский корпус МГУ им. М.В. Ломоносова, Фундаментальная библиотека МГУ им. М.В. Ломоносова
июн 30, 2014
С 17 июня по 11 июля в демонстрационно-методическом центре TESCAN в Санкт-Петербурге проходит серия семинаров-практикумов по сканирующей электронной микроскопии для операторов микроскопов TESCAN.
янв 31, 2014
ООО Тескан примет участие в выставке Аналитика Экспо 2014.
На стенде нашей компании будет представлен
- сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения MIRA 3 LMU,
- сканирующий электронный микроскоп VEGA 3 LMH
- высоковакуумная напылительная установка Q150T ES производства Quorum Technologies.
дек 3, 2013
Врата нового здания TESCAN были открыты для экспертов и профессиональной публики в среду 18 сентября. Строительство первой части нового производственно-административного комплекса в Брно-Кохотовице закончено.
авг 6, 2013
Произошло слияние двух компаний: TESCAN, a.s. — одного из ведущих мировых производителей сканирующих электронных микроскопов и многофункциональных платформ со сфокусированным ионным пучком, и ORSAY PHYSICS — мирового лидера в технологиях ионной и электронной оптики.
июл 30, 2013
Новый сканирующий электронный микроскоп TESCAN высокого разрешения с катодом с полевой эмиссией будет представлен на выставке «Микроскопия и микроанализ 2013», которая проходит этим летом в Индианаполисе, штат Индиана.
июл 25, 2013
Сдано в эксплуатацию новое здание TESCAN, a.s., расположенное по адресу г. Брно, Libušina trida 1.
апр 24, 2013
Компания ООО «ТЕСКАН» приняла участие в 11-ой международной выставке «Аналитика Экспо 2013», проходившей 16 – 19 апреля в КВЦ «Сокольники», г. Москва.
мар 13, 2013
Микроскоп TESCAN MIRA в Институте геологии и минералогии СО РАН (Новосибирск) – один из основных инструментов для исследований фрагментов челябинского метеорита, см. на сайте института:
фев 15, 2013
Приглашаем на выставку "Аналитика Экспо 2013"!
фев 15, 2013
Производитель сканирующих электронных микроскопов «TESCAN, a.s.» начал 2013 год с покупки компании ELFAST, которая занимается металлообработкой и сотрудничает с «TESCAN, a.s.» уже более 10 лет.
фев 15, 2013
Институт минералогии Уральского отделения РАН представил результаты исследований фрагментов челябинского метеорита.
фев 14, 2013
19 февраля 2013 г. в Горном институте Пермского научного центра УрО РАН состоится семинар на тему: «Применение сканирующих электронных микроскопов TESCAN ..."
янв 15, 2013
Компания ООО «ТЕСКАН» примет участие в IX Конгрессе обогатителей стран СНГ, который будет проходить в Москве с 26 по 28 февраля 2013 г.
окт 14, 2012
В 3 номере журнала "Золото и Технологии" за 2012 год опубликована статья, посвященная системе автоматического минералогического анализа TESCAN TIMA, которая в 2012 году была анонсирована компанией "TESCAN, a.s.".
июл 1, 2012
В демонстрационном центре TESCAN в Санкт-Петербурге с 25 по 29 июня 2012 г. проводился семинар-практикум по сканирующей электронной микроскопии и микроанализу. Пользователи СЭМ TESCAN из разных областей России получили возможность обсудить свои насущные теоретические и практические вопросы с теми, кто профессионально занимается электронной микроскопией и микроанализом в течение уже нескольких десятилетий.
фев 7, 2012
Сканирующий электронный микроскоп TESCAN Mira 3 LMU будет демонстрироваться на выставке.
фев 7, 2012
Компания ООО "ТЕСКАН" примет участие в XXIV Российской конференции по электронной микроскопии РКЭМ-2012
дек 5, 2011
ООО Tescan учавствует в международной выставке RUSNANOTECH Expo
фев 9, 2011
Электронный микроскоп Tescan будет представлен на выставке "Аналитика 2011"
апр 24, 2010
Участие Tescan в международной выставке SEMICON Russia 2010 – единственное выставочное мероприятие на территории СНГ, которое сфокусировано исключительно на материалах, оборудовании и технологиях для производства полупроводниковых приборов и изделий фотовольтаики.
апр 24, 2010
Продукция компании Tescan будет представлена на выставке SIMEXPO - "Научное приборостроение - 2010"
мар 24, 2010
Электронный микроскоп Tescan будет представлен на выставке "Аналитика 2010"
янв 1, 2010

Поступило в продажу 3-е поколение микроскопов серий Mira и Vega

С января 2010 начались продажи микроскопов с улучшенными характеристиками и новым интерфейсом. Более подробную информацию можно узнать в ближайшем представительстве.