ПО >> Particle

Анализ частиц Basic

Программный модуль Анализ частиц Basic предназначен для морфологического анализа единичного изображения (например, для анализа формы и размеров отдельных зерен на изображении металлографического шлифа). Программа распознает объекты изображения (зерна) по их границам и создает массив данных из выбранных параметров, характеризующих форму или размер объектов. Данный массив затем используется для дальнейшей классификации или экспорта статистических данных.

Выполнение анализа происходит в следующие несколько этапов:

  • Выбор настроек для обработки изображения в ручном или автоматическом режиме. Автоматический режим анализирует изображение, используя настройки, подобранные ранее для схожего изображения. В ручном режиме пользователь имеет возможность изменить настройки на каждом этапе обработки и оценить результат.
  • Предварительная обработка для коррекции шумов на изображении.
  • Настройка пороговых значений яркости – отделение объектов от фона на основе выбранных пороговых значений яркости в градациях серого.
  • Сегментация – выявление границ объектов и разделение объектов, для чего доступны три метода: основной, последовательные эрозия или дилатация, водораздел. После сегментации для каждого объекта вычисляются 37 параметров, которые разделены на 5 групп: геометрические (площадь, периметр, координаты центра масс, длина, ширина, круглость, отношение длины к ширине, угол, количество и площадь дыр, отношение длины к ширине для дыр), фотометрические параметры, физические параметры (объединенная информация о форме и уровнях серого пикселей, составляющих объект, эллипсы Лежандра, специальные параметры).
  • Редактирование результатов сегментации с целью коррекции дефектов, появляющихся при сегментации.
  • Классификация объектов в соответствии с выбранными критериями, представление результатов и сохранение их в файлы.

Анализ частиц Advanced *

Программный модуль Анализ частиц Advanced предназначен для морфологического анализа объектов на площади, большей чем одно поле обзора. Исследуемая площадь может иметь произвольный размер вплоть до максимального диапазона перемещения столика по координатам X и Y.

  • Анализируемая поверхность образца может быть задана прямоугольной или круглой.
  • На каждой поверхности образца можно задать несколько интересуемых площадей (Areas of Interest, AOI).
  • Все AOI будут проанализированы последовательно в автоматическом режиме поле за полем благодаря столику образцов с моторизованным XY перемещением.
  • Каждый объект, лежащий на границе двух полей, будет объединен и посчитан как один объект.
  • Результатом анализа будет список объектов и их параметры. Для каждой поверхности образца формируется свой список.
  • Пользователь может дополнительно изучить нужную поверхность образца. Например, клик на какой-либо объект из списка позиционирует этот объект в центр поля обзора для более детального изучения и контроля.
  • Все полученные данные и исходные изображения могут быть сохранены в базу данных и загружены вновь для дальнейшей классификации.
* – Требуется координатный столик образцов с моторизованным перемещением.


Рис. 1 – Таблица выбранных морфологических параметров и фрагмент исходного изображения с результатами сегментации частиц


Рис. 2 – Гистограмма распределения объектов по размерам


Рис. 3 – Зависимость площади объектов от их длины. График рассеяния