Семинары-практикумы
Семинары-практикумы

Несколько раз в год для состоявшихся пользователей TESCAN проводятся семинары-практикумы по сканирующей электронной микроскопии и спектральному микроанализу:

место проведения демонстрационно-методический центр TESCAN в Санкт-Петербурге
традиционное время проведенияпериод белых ночей
длительность семинара одна неделя

На семинарах пользователи микроскопов TESCAN из разных областей России и стран СНГ узнают множество теоретических и практических аспектов сканирующей электронной микроскопии от тех, кто профессионально занимается электронной микроскопией и микроанализом в течение уже нескольких десятилетий.

Семинар с участием Keith Dicks "Применение метода EBSD на базе СЭМ TESCAN"

Среди пользователей микроскопов TESCAN много организаций, имеющих систему микротекстурного анализа EBSD в качестве приставки к TESCAN. Метод EBSD (Electron backscattered diffraction, метод дифракции обратно отраженных электронов) позволяет определять тип и ориентацию кристаллической решетки локально в каждой точке образца. Локальность при изучении массивных образцов составляет ~ 30 нм, т.е. зерно размером от 100 нм может быть надежно диагностировано. В настоящее время метод EBSD приобретает все большую популярность в мире, особенно в материаловедении и в геологии, так как возможности метода очень широки: детектор EBSD незаменим при идентификации фаз в случаях, когда изучаемые фазы имеют близкий (или вовсе одинаковый) состав, а значит не могут быть разделены с помощью энергодисперсионного спектрометра, но при этом имеют разное строение кристаллической решетки. Картирование поверхности образца с помощью детектора EBSD позволяет выявить расположение кристаллитов, определить ориентацию каждого кристаллита по отношению к выделенному направлению на образце (например, к направлению прокатки), диагностировать типы межзеренных границ, внутренние напряжения в зернах и прочее. Множество информации помимо фазовых и ориентационных карт может быть извлечено из массива данных, в котором записаны тип и ориентация кристаллической решетки для каждого пикселя на поверхности образца, выбранной для картирования.

Однако богатые возможности метода EBSD для изучения микротекстуры используются далеко не всеми пользователями TESCAN, так как многим не хватает знаний и опыта для реализации этого, объективно, одного из самых непростых методов из арсенала сканирующей электронной микроскопии. Поэтому компания ООО «ТЕСКАН» пригласила в Россию одного из ведущих специалистов по применению метода EBSD, Mr. Keith DIcks, Master of Science, сотрудника компании Oxford Instruments. Абсолютное большинство детекторов EBSD, инсталлированных на микроскопы TESCAN, произведены английской компанией Oxford Instruments, эта компания занимает лидирующие позиции в разработке детекторов для микроанализа. Mr. Keith Dicks провел трехдневный обучающий семинар для пользователей микроскопов TESCAN с приставкой EBSD, на котором поделился с российскими коллегами множеством советов по пробоподготовке образцов для EBSD, по оптимизации времени накопления EBSD-карт, по интерпретации полученных результатов. Насколько мы можем судить, семинар был чрезвычайно познавательным и оживленным.

Помимо обучающего, состоялись также короткие семинары в Москве и в Санкт-Петербурге для тех, кто еще не имеет метода микротекстурного анализа EBSD в своей лаборатории, но задумывается о том, чтобы его приобрести. Все семинары – и для состоявшихся пользователей EBSD, и для потенциальных – проводились на «живом» оборудовании, т.е. с демонстрацией работы системы микротекстурного анализа AZtecHKL, установленной на микроскопе TESCAN.

Поперечное сечение сварного соединения, полученного электронно-лучевой сваркой. Центральная часть шва, ширина поля обзора 67,2 мкм. Фазовая карта: синее – феррит, красное – аустенит. С помощью энергодисперсионного спектрометра EDS феррит и аустенит различить невозможно, так как эти две фазы имеют идентичный состав. Детектор EBSD позволяет различить феррит и аустенит
Карта ориентаций зерен с того же участка, что фазовая карта выше. Разными цветами кодируются разные ориентации кристаллитов, цветовая схема в так называемых углах Эйлера

Cеминар по электронно-лучевой литографии

Компания ООО «ТЕСКАН» провела семинар по электронно-лучевой литографии, который прошел в Москве в конце сентября 2015 г.

Семинары проводила Hana Tesarova, application specialist, Ph.D. (сотрудник TESCAN ORSAY HOLDING, Hana специализируется на использовании электронно-лучевой литографии средствами TESCAN). Создание литографических шаблонов было продемонстрировано на сканирующем электронном микроскопе TESCAN MIRA3 XMH, оснащенном опциональным модулем EBL (Electron Beam Lithography).

Подробнее об использовании сканирующего электронного микроскопа как инструмента для электронно-лучевой литографии здесь

Семинар-практикум 2014 "Сканирующая электронная микроскопия"

С 17 июня по 11 июля 2014 в демонстрационно-методическом центре TESCAN в Санкт-Петербурге проходит серия семинаров-практикумов по сканирующей электронной микроскопии для операторов микроскопов TESCAN. Эти семинары традиционно проводятся компанией ООО «ТЕСКАН» в период белых ночей. Длительность одного семинара – 4 рабочих дня. На семинары приглашаются пользователи микроскопов TESCAN, а главным образом – те, кто присоединился к дружной семье пользователей TESCAN за последние год-полтора На данный момент завершилось два семинара:

  • семинар с 17 по 20 июня приветствовал участников из Москвы, Подольска, Волгограда, Лесного, Перми и Санкт-Петербурга,
  • на семинар с 24 по 27 июня приехали пользователи TESCAN из Ставрополя, Новосибирска, Казани, Ростова-на-Дону, Санкт-Петербурга и Москвы, причем на этом семинаре, помимо общих вопросов, посвященных сканирующей электронной микроскопии и микроанализу, дополнительно рассматривались особенности применения TESCAN для криминалистических экспертиз.

На период 8 – 11 июля планируется третий семинар-практикум, куда обещали приехать пользователи TESCAN из Нижнего Новгорода, Екатеринбурга, Железногорска, Пензы, Нальчика, Тюмени, Перми, Подольска и Москвы.

В демонстрационно-методическом центре TESCAN представлены следующие микроскопы: 1) MIRA с катодом с полевой эмиссией типа Шоттки, 2) VEGA с вольфрамовым катодом, 3) MAIA с катодом с полевой эмиссией типа Шоттки и иммерсионной оптикой. На базе этих микроскопов (прежде всего на базе MIRA и VEGA как самых распространенных) и проводились семинары-практикумы. Были рассмотрены вопросы настройки микроскопов TESCAN разных типов, применение разнообразных опций программного обеспечения как микроскопа, так и системы микроанализа, вопросы корректного представления результатов исследований, оценки погрешностей и проч. Преподавателями были как сотрудники компании ООО "ТЕСКАН", так и представители других компаний (например, компании Oxford Instruments, крупнейшего в мире производителя систем микроанализа для СЭМ), а также пользователи TESCAN с многолетним опытом в области электронной микроскопии и микроанализа.

Помимо получения практических навыков в сфере электронной микроскопии у участников семинара была также возможность попрактиковаться в игре в боулинг, полюбоваться красотами Петербурга во время водной экскурсии. Немаловажно и то, что операторы TESCAN из разных городов, пообщавшись друг с другом, обнаружили себя в среде единомышленников.

Cеминар-практикум по сканирующей электронной микроскопии и микроанализу - 2012

В демонстрационном центре TESCAN в Санкт-Петербурге с 25 по 29 июня 2012 г. проводился семинар-практикум по сканирующей электронной микроскопии и микроанализу. Пользователи СЭМ TESCAN из разных областей России получили возможность обсудить свои насущные теоретические и практические вопросы с теми, кто профессионально занимается электронной микроскопией и микроанализом в течение уже нескольких десятилетий.

Участники семинара прослушали курс теоретических лекций:

Дополнили теоретическую подкованность практическими знаниями:

Выяснили, что мастера боулинга проживают в Новоуральске:

Оборудование демо-центра TESCAN, использованное на семинаре:

  • сканирующий электронный микроскоп с катодом с полевой эмиссией (катодом Шоттки) TESCAN Mira 3 LMU, оснащенный детекторами SE, BSE, LVSTD, In-Beam SE, In-Beam BSE, STEM;
  • энергодисперсионный спектрометр X-Max 80;
  • волнодисперсионный спектрометр Wave 500;
  • системы микроанализа AZtec 2.0 и INCA Energy+;
  • система автоматического поиска и анализа частиц INCA Feature;
  • программа для реконструкции реального профиля 3D поверхности Alicona Mex.