июл 1, 2012

Завершился семинар-практикум по сканирующей электронной микроскопии и микроанализу

В демонстрационном центре TESCAN в Санкт-Петербурге с 25 по 29 июня 2012 г. проводился семинар-практикум по сканирующей электронной микроскопии и микроанализу. Пользователи СЭМ TESCAN из разных областей России получили возможность обсудить свои насущные теоретические и практические вопросы с теми, кто профессионально занимается электронной микроскопией и микроанализом в течение уже нескольких десятилетий.

Участники семинара прослушали курс теоретических лекций:

Дополнили теоретическую подкованность практическими знаниями:

Выяснили, что мастера боулинга проживают в Новоуральске:

Оборудование демо-центра TESCAN, использованное на семинаре:

  • сканирующий электронный микроскоп с катодом с полевой эмиссией (катодом Шоттки) TESCAN Mira 3 LMU, оснащенный детекторами SE, BSE, LVSTD, In-Beam SE, In-Beam BSE, STEM;
  • энергодисперсионный спектрометр X-Max 80;
  • волнодисперсионный спектрометр Wave 500;
  • системы микроанализа AZtec 2.0 и INCA Energy+;
  • система автоматического поиска и анализа частиц INCA Feature;
  • программа для реконструкции реального профиля 3D поверхности Alicona Mex.