сен 5, 2017

TESCAN S8000G

Новое поколение FIB-SEM микроскопов

TESCAN S8000G

Микроскоп TESCAN S8000G — это первый в линейке приборов нового семейства TESCAN – серии S8000. Двулучевой микроскоп FIB-SEM TESCAN S8000G представляет собой самодостаточный аналитический комплекс, который обладает всеми преимуществами, способными удовлетворить самые взыскательные требования на производстве, в науке и образовании. Микроскоп обеспечивает превосходное качество изображения высочайшего контраста, что особенно важно в процессе работы с наноразмерными объектами, а также открывает дальнейший потенциал для решения целого круга инженерно-технических задач в наноиндустрии, действуя предельно точно и несравненно легко.

Вся линейка микроскопов TESCAN S8000 комплектуется новым поколением электронных колонн BrightBeamTM, бескомпромиссные характеристики которых позволяют достигнуть принципиально нового уровня ультравысоких разрешений изображения без применения иммерсионного режима, достигая максимальной универсальности микроанализа, включая исследование магнитных материалов, а также живой SEM-контроль процессов ионного травления. Новая колонна оснащается электронной оптикой, которая позволяет улучшить пространственное разрешение, особенно при малых энергиях электронного пучка, что как нельзя лучше подходит для анализа деликатных и непроводящих материалов. С другой стороны, оптимальное взаимодействие новейшей оригинальной ионной колонны OrageTM Ga FIB, оснащенной современной ионной оптикой, и инновационной системой подачи газов OptiGasTM, определяет микроскоп TESCAN S8000G как инструмент мирового класса, отвечающий самым высоким требованиям и стандартам в области подготовки и анализа наноразмерных структур.

Универсальный модульный дизайн программного обеспечения, направленный на реализацию четкой последовательности технологических действий, гарантирует удобство управления и контроля всеми функциями прибора, обеспечивая гибкое взаимодействие сложных технологий и простоты использования. Микроскоп TESCAN S8000G идеально подойдет для выполнения самых передовых и высокотехнологичных процессов в роли полноценной аналитической платформы для всех тех, кто ежедневно стремиться к лучшему пониманию и поиску прорывных путей в науке и технике.

Ключевые особенности

Новое поколение электронных колонн BrightBeamTM для достижения ультравысокого разрешения изображения

  • Запатентованная 70°-геометрия новой комбинированной объективной линзы (электростатической + магнитной) у колонны BrightBeamTM позволяет достигнуть максимальной универсальности микроскопа.
  • Получение электронных изображений ультравысокого разрешения без использования иммерсионного режима позволяет использовать микроскоп для анализа деликатных и трудных образцов, включая исследование магнитных материалов, а также открывает возможности для SEM-контроля в реальном времени за процессами ионного травления.
  • Новая система детектирования, использующая осевой детектор In-beam Axial и Мульти-детектор для селективного отбора полезного сигнала как по углу разлёта электронов, так и по их энергии, обеспечивает полный контроль над чувствительностью к особенностям поверхности образца и возможность разноконтрастного обследования для усиления вашего восприятия и углублённого понимания действительности.
  • Новое поколение управляющей электроники с возможностью сбора реального электронного сигнала одновременно по 8-ми каналам.
  • Электронная пушка на основе катода Шоттки с полевой эмиссией позволят достигать величины тока зонда до 400 нА с возможностью быстрого изменения энергии электронного пучка.
  • Технология электропитания линз EquiPowerTM позволяет эффективно рассеивать тепло, что позволяет достигнуть превосходной стабильности электронной колонны в целом.
  • Технология торможения пучка (BDT, опция) для достижения предельного пространственного разрешения при низких и сверхнизких энергиях электронного зонда с возможностью одновременной регистрации SE и BSE сигналов.

Информация от производителя.