Технология In-Flight Beam Tracing

Технология In-Flight Beam Tracing™ позволяет контролировать и оптимизировать параметры пучка электронов в реальном времени. Технология включает в себя пакет сверхбыстрых вычислительных методов Electron Optical Design моделирующий поведение пучка электронов (ионов) в заданных в текущий момент времени условиях. Получаемые расчетные параметры пучка используются для его корректировки и оптимизации.

Новости
Наши изображения
Вход на сайт

 

Введите код с картинки

This is a captcha-picture. It is used to prevent mass-access by robots. (see: www.captcha.net)

Зарегистрироваться