Wide Field Optics

Сканирующие электронные микроскопы разработанные в компании TESCAN оснащаются оригинальной электронно-оптической колонной с улучшенной технологией управления пучком. С технологией Wide Field Optics™ возможности сканирующих электронных микроскопов становятся поистине впечатляющими.

WideFiield

В конструкции колонны используется запатентованая промежуточная электромагнитная линза (IML), которая выполняет функции устройства для смены финальной апертуры. Возможности IML позволяют сканировать образцы в различных рабочих и демонстрационных режимах:

  • повышенная глубина резкости (глубина резкости может превышать ширину картинки в несколько раз)
  • WideField - обзор с сохранением масштабной метки на увеличениях от 3-х крат, удобство поиска места исследования на образце
  • 3D–сканирование обзор образца в стереорежиме (в реальном времени, не требуется наклон или поворот образца), удобно использовать при изучении трещин, изломов. Возможность сохранения стереоизображения в файл.