Новости
Email facebook twitter VK
окт 4, 2015

Семинар по применению метода EBSD

Среди пользователей микроскопов TESCAN много организаций, имеющих систему микротекстурного анализа EBSD в качестве приставки к TESCAN. Метод EBSD (Electron backscattered diffraction, метод дифракции обратно отраженных электронов) позволяет определять тип и ориентацию кристаллической решетки локально в каждой точке образца. Локальность при изучении массивных образцов составляет ~ 30 нм, т.е. зерно размером от 100 нм может быть надежно диагностировано. В настоящее время метод EBSD приобретает все большую популярность в мире, особенно в материаловедении и в геологии, так как возможности метода очень широки: детектор EBSD незаменим при идентификации фаз в случаях, когда изучаемые фазы имеют близкий (или вовсе одинаковый) состав, а значит не могут быть разделены с помощью энергодисперсионного спектрометра, но при этом имеют разное строение кристаллической решетки. Картирование поверхности образца с помощью детектора EBSD позволяет выявить расположение кристаллитов, определить ориентацию каждого кристаллита по отношению к выделенному направлению на образце (например, к направлению прокатки), диагностировать типы межзеренных границ, внутренние напряжения в зернах и прочее. Множество информации помимо фазовых и ориентационных карт может быть извлечено из массива данных, в котором записаны тип и ориентация кристаллической решетки для каждого пикселя на поверхности образца, выбранной для картирования.

Однако богатые возможности метода EBSD для изучения микротекстуры используются далеко не всеми пользователями TESCAN, так как многим не хватает знаний и опыта для реализации этого, объективно, одного из самых непростых методов из арсенала сканирующей электронной микроскопии. Поэтому компания ООО «ТЕСКАН» пригласила в Россию одного из ведущих специалистов по применению метода EBSD, Mr. Keith DIcks, Master of Science, сотрудника компании Oxford Instruments. Абсолютное большинство детекторов EBSD, инсталлированных на микроскопы TESCAN, произведены английской компанией Oxford Instruments, эта компания занимает лидирующие позиции в разработке детекторов для микроанализа. Mr. Keith Dicks провел трехдневный обучающий семинар для пользователей микроскопов TESCAN с приставкой EBSD, на котором поделился с российскими коллегами множеством советов по пробоподготовке образцов для EBSD, по оптимизации времени накопления EBSD-карт, по интерпретации полученных результатов. Насколько мы можем судить, семинар был чрезвычайно познавательным и оживленным.

Помимо обучающего, состоялись также короткие семинары в Москве и в Санкт-Петербурге для тех, кто еще не имеет метода микротекстурного анализа EBSD в своей лаборатории, но задумывается о том, чтобы его приобрести. Все семинары – и для состоявшихся пользователей EBSD, и для потенциальных – проводились на «живом» оборудовании, т.е. с демонстрацией работы системы микротекстурного анализа AZtecHKL, установленной на микроскопе TESCAN.

Поперечное сечение сварного соединения, полученного электронно-лучевой сваркой. Центральная часть шва, ширина поля обзора 67,2 мкм. Фазовая карта: синее – феррит, красное – аустенит. С помощью энергодисперсионного спектрометра EDS феррит и аустенит различить невозможно, так как эти две фазы имеют идентичный состав. Детектор EBSD позволяет различить феррит и аустенит
Карта ориентаций зерен с того же участка, что фазовая карта выше. Разными цветами кодируются разные ориентации кристаллитов, цветовая схема в так называемых углах Эйлера