апр 24, 2013

Отчет о выставке «Аналитика Экспо 2013»

Компания ООО «ТЕСКАН» приняла участие в 11-ой международной выставке «Аналитика Экспо 2013», проходившей 16 – 19 апреля в КВЦ «Сокольники», г. Москва. На выставке был представлен сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки TESCAN Mira 3 LMU, оснащенный системой энергодисперсионного микроанализа X-max 150 / AZtec Automated производства Oxford Instruments.

За несколько выставочных дней специалистам ООО «ТЕСКАН» удалось не только продемонстрировать возможности сканирующего электронного микроскопа и системы микроанализа всем посетителям выставки, интересующимся сканирующей электронной микроскопией, но и провести экспресс-исследования непосредственно тех образцов, что принесли специалисты из различных областей науки и индустрии (от материаловедения, металлургии, авиационной промышленности, горнодобывающего дела – до криминалистики и микроэлектроники):

В случае необходимости образцы посетителей проходили пробоподготовку в напылительной установке Quorum Technologies Q150T ES, также представленной на выставке компанией ООО «ТЕСКАН».
18 апреля специалистом Лукашовой М.В. в рамках выставки был прочитан доклад "Возможности 3D-анализа и 3D-моделирования на сканирующих электронных микроскопах TESCAN".
Успешно прошедшая выставка «Аналитика Экспо 2013» заложила прочный фундамент для дальнейшего сотрудничества с коммерческими организациями, научно-исследовательскими институтами и технологическими предприятиями, планирующими использовать в своей деятельности возможности современной сканирующей электронной микроскопии.