сен 6, 2014

TESCAN представляет новую рабочую станцию GAIA3 FIB-SEM

TESCAN, один из лидеров в работе с заряженными частицами и интегральными аналитическими решениями на базе сканирующей электронной микроскопии представляет новую рабочую станцию GAIA3 FIB-SEM. Показ состоится 7-12 сентября на конгрессе IMC 2014 в Праге. Введение GAIA3 опирается на успех компании TESCAN на мировом рынке с микроскопом Vega FIB-SEM. Микроскоп GAIA3 оснащен новой разработанной ЭМ колонной сверх-высокого разрешения и интегрированным спектрометром комбинационного рассеяния.
Новости
Наши изображения
Вход на сайт

 

Введите код с картинки

This is a captcha-picture. It is used to prevent mass-access by robots. (see: www.captcha.net)

Зарегистрироваться